弱光輻射定標焦平面陣列

將待測樣品置于球壁或球心，把光束引入球內(nèi)，并依次照射樣品和球內(nèi)壁的高漫反射涂層（或已知反射比的標準反射體），從樣品及球內(nèi)壁反射的光束，經(jīng)球內(nèi)多次反射后，在球壁產(chǎn)生的輻射照度與樣品及球內(nèi)初次被照面的反射比有關(guān)。在球內(nèi)壁另一位置的探測器將分別產(chǎn)生兩個輸出信號，其比值即為樣品反射比的一定測量。若用標準反射體，則探測器的兩個輸出信號比就是樣品與標準反射體的反射比之比值，因此給出反射比的相對測量。將待測樣品置于球壁或球心，把光束引入球內(nèi)（或在入射孔處放一漫透射體），并在入射孔與樣品之間用擋板屏蔽。進入球內(nèi)的光束經(jīng)多次反射后，使球壁成為一個理想的漫射光源。將探測器一次對準樣品和球壁某部位測量，其比值就是樣品的反射比。積分球內(nèi)壁涂層反射率ρ(λ)和積分球等效透過率τ(λ)是積分球較重要的質(zhì)量指標。弱光輻射定標焦平面陣列

積分球，又稱積分儀，是一種用于測量物體力學性質(zhì)的實驗儀器。它由一個固定在球軸上的球體和一個與球相連的臂組成，臂上通常安裝有傳感器用于測量力的大小。當物體施加在積分球上的力矩通過球軸傳遞給傳感器時，傳感器可以測量出力的大小。根據(jù)測得的力矩和角位移，可以計算出物體施加在積分球上的力?？偠灾e分球是一種能夠測量物體施加在它上面的力矩的實驗儀器，可以應用于力學實驗、力矩傳感、姿態(tài)感知和動態(tài)平衡等領(lǐng)域。氙燈輻射定標應用積分球還可以用于光源的校準，通過將光源放置在球內(nèi)，可以消除光源的方向性。

內(nèi)置光源積分球的被測光源安裝在積分球內(nèi)部，于探測端球壁位置開一個窗口用來連接探測裝置，光源與探測窗口之間有一塊隔光板用來放置光源發(fā)出光直接照射在探測端口，光在積分球內(nèi)壁進行充分的漫反射后，在內(nèi)壁行程均勻照度，后照射到光電探測端口，進而得出光束的光學性質(zhì)。積分球的進光口和探測端口分別各開一個窗口，積分球內(nèi)部同樣放置遮光板放置光束直接照射探測端口，光束從進光口進入積分球，經(jīng)過充分的漫反射后行程均勻照度，后從積分球探測端口進行光學性質(zhì)測量。

積分球配置的選擇：除了考慮積分球尺寸、內(nèi)部漫反射涂層以外，積分球配置也是選配積分球系統(tǒng)的關(guān)鍵且*具挑戰(zhàn)的參數(shù)之一。積分球開口數(shù)目和探測器開口數(shù)目多少？例如有的積分球設有18個開口端。是否內(nèi)部配置擋板，如果需要，擋板尺寸多大？擋板防止直接光源的光飽和或損壞探測器，必須盡可能小，以減少陰影。在高發(fā)散激光二極管測量中，可以消除擋板，并且探測器移動到靠近入口端口的位置，以消除頭一個光熱點，并較大限度地減少飽和或損壞光電二極管的可能性。積分球在物理學中，是研究物質(zhì)分布、電場、磁場的重要工具。

積分球的基本原理是光通過采樣口被積分球收集，如圖1，在積分球內(nèi)部經(jīng)過多次反射后非常均勻地散射在積分球內(nèi)部。使用積分球來測量光通量時，可使得測量結(jié)果更為可靠，積分球可降低并除去由光線的形狀、發(fā)散角度、及探測器上不同位置的響應度差異所造成的測量誤差。積分球（Integrating sphere）又稱為光通球、光度球，是一個中空的完整球殼。積分球多由金屬資料制成，內(nèi)壁涂白色高漫反射層（通常是氧化鎂或硫酸鋇），且球內(nèi)壁各點漫射均勻。也有積分球采用高反射高分子資料制成，例如Spectralon資料。積分球與高斯定律相結(jié)合，揭示了電磁場中球?qū)ΨQ問題的解。Spectra-PT亮度可調(diào)太陽光模擬器無人駕駛

積分球可以用于照明設計中的光線模擬，通過放置光源在球內(nèi)，可以模擬不同方向的光照效果。弱光輻射定標焦平面陣列

“另一方面，”Durell說，“如果你想要光束輪廓和角度信息，那么就使用光束輪廓儀或角度計。根據(jù)定義，積分球通常會抹去這些空間信息?！狈e分球的第二個主要優(yōu)點是它的衰減特性。具體來說，積分球可以被視為一個均勻衰減器，這意味著它能夠?qū)⑷肷涞墓饩€以相同的比例進行衰減或減弱。這種特性使得積分球在功率測量方面具有一些優(yōu)勢。首先，傳統(tǒng)的功率計可能會被光源的功率水平損壞，而積分球則可以避免這種情況，因為它對所有光線進行均勻衰減，不會對任何特定光線產(chǎn)生過大的壓力。弱光輻射定標焦平面陣列