揭陽國內(nèi)SPI檢測設(shè)備功能

來源: 發(fā)布時間:2022-10-09

AOI檢測誤判的定義及存在原困、 檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困誤判的三種理解及產(chǎn)生原因可以分為以下幾點:

1、元件及焊點本來有發(fā)生不良的傾向,但處于允收范圍。如元件本來發(fā)生了偏移,但在允收范圍內(nèi);此類誤判主要是由于闕值設(shè) 定過嚴造成的,也可能是其本身介于不良與良品標準之間,AOI與MV(人工目檢)確認造成的偏差,此類誤判是可以通過調(diào)整及 與MV協(xié)調(diào)標準來降低。

2、元件及焊點無不良傾向,但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短,AOI進行檢測時較難進行很準確的判定,此類情況所造成的誤判較難消除,除非改進 DFM或放棄此類元件的焊點不良檢測。

3、由于AOI依靠反射光來進行分析和判定,但有時光會受到一些隨機因素的干擾而造成誤判。如元件焊端有臟物或焊盤側(cè)的印制 線有部分未完全進行涂敷有部分裸露,從而造成搜索不良等。并且檢測項目越多,可能造成的誤報也會稍多。此類誤報屬隨機誤 報,無法消除。 AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點有哪些呢?揭陽國內(nèi)SPI檢測設(shè)備功能

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SPI 導入帶來的收益在線型 3D 錫膏檢測設(shè)備(SPI)

1)據(jù)統(tǒng)計,SPI 的導入可將原先成品PCB 不合格率有效降低85%以上;返修、報廢成本大幅降低90%以上,出廠產(chǎn)品質(zhì)量顯著提高。SPI 與AOI 聯(lián)合使用,通過對SMT 生產(chǎn)線實時反饋與優(yōu)化,可使生產(chǎn)質(zhì)量更趨平穩(wěn),大幅縮短新產(chǎn)品導入時必須經(jīng)歷的不穩(wěn)定試產(chǎn)階段,相應(yīng)成本損耗更為節(jié)省。

2)可大幅降低AOI關(guān)于焊錫的誤判率,從而提高直通率,有效節(jié)約人為糾錯的人力、時間成本。據(jù)統(tǒng)計,當前成品PCB中74%的不合格處與焊錫有直接關(guān)系,13%有間接關(guān)系。SPI通過3D檢測手段有效彌補了傳統(tǒng)檢測方法的不足

3)部分PCB上元器件如BGA、CSP、PLCC芯片等,由于自身特性所帶來的光線遮擋,貼片回流后AOI無法對其進行檢測。而SPI通過過程控制,極大程度減少了爐后這些器件的不良情況。

4)伴隨電子產(chǎn)品日益精密化與焊錫無鉛化的趨勢,貼片元件越來越微型,因此,焊錫膏印刷質(zhì)量正變得越來越重要。SPI能有效確保良好的錫膏印刷質(zhì)量,大幅減少可能存在的成品不良率。

5)作為質(zhì)量過程控制的手段,能在回流焊接前及時發(fā)現(xiàn)質(zhì)量隱患,因此幾乎沒有返修成本與報廢的可能,有效節(jié)約了成本 揭陽在線式SPI檢測設(shè)備銷售公司PCBA工藝常見檢測設(shè)備ATE檢測。

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2.2解決相移誤差的新技術(shù)

      PMP技術(shù)中另一個主要的基礎(chǔ)條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過對投影光柵相位場進行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結(jié)果。傳統(tǒng)的方式都依靠機械移動來實現(xiàn)相移。為達到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達,如通過陶瓷壓電馬達(PZT),線性馬達加光柵尺等方式。并通過大量的算法來減少相移的誤差。

      可編程結(jié)構(gòu)光柵因為其正弦光柵是通過軟件編程實現(xiàn)的,所以其在相移時也是通過軟件來實現(xiàn),通過此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測精度。并且此技術(shù)不需要機械部件,減少了設(shè)備的故障幾率,降低機械成本與維修成本。

在線 SPI設(shè)備在實際應(yīng)用中出現(xiàn)的一些問題

      目前大部分的SMT工廠都已經(jīng)開始導入在線SPI設(shè)備,但是在實際使用過程中,效果也因各廠對其重視程度而大不一樣。究其原因主要有幾下幾點:

      品質(zhì)重視不夠目前大部分的工廠(特別是代工廠)在產(chǎn)能的管控上都非常的嚴格。但是往往對品質(zhì)方面重視不夠。當錫膏不能達到SPI設(shè)備的管控范圍時,SPI一直會報警,沒有及時處理的話會嚴重影響產(chǎn)能。所以只要產(chǎn)線不出什么大問題。都會把SPI的管控參數(shù)范圍設(shè)大,提高一次通過率,但是這樣往往也會把真實的不良流到下一制程,提高維修成本。目前有的工廠已經(jīng)在SPI后端接一個收板箱,當SPI測試OK的時候直接流入下一工序,F(xiàn)ail的時候會停留在收板箱里面。等作業(yè)人員來確認當前電路板的不良點位是否OK。一般SPI可以查詢十片電路板的不良信息,如不良點位,不良圖片等。也有的工廠已經(jīng)開始把SPI與AOI相連接,通過AOI測試到的不良反饋給SPI來合理的設(shè)定測試范圍與參數(shù),來提高一次通過率,減少不良流入下一工序。 檢測誤判的定義及存在原困誤判,歡迎了解詳細情況。

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在線 SPI設(shè)備在實際應(yīng)用中出現(xiàn)的一些問題

目前大部分的SMT工廠都已經(jīng)開始導入在線SPI設(shè)備,但是在實際使用過程中,效果也因各廠對其重視程度而大不一樣

沒有重視SPC系統(tǒng)分析出來的結(jié)果

目前在線的SPI都有完善的SPC功能,通過SPC分析能發(fā)現(xiàn)大部分印刷上出現(xiàn)的問題。提前發(fā)現(xiàn)一些可能導致印刷不良的因素。但是目前真正執(zhí)行的情況應(yīng)該說還不是很盡人如意。分析主要原因可能一是SPC功能操作相對比較復雜,并且需要操作人員有一定的SPC知識。二是SPC系統(tǒng)分析出來的結(jié)果智能化程度不夠,所以沒有得到足夠的重視。這也是SPI廠商今后著重發(fā)展的一個方向。 AOI在SMT各工序的應(yīng)用在SMT中,AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測、元件檢驗、焊后組件檢測。揭陽國內(nèi)SPI檢測設(shè)備功能

AOI檢測設(shè)備對SMT貼片加工的重要性。揭陽國內(nèi)SPI檢測設(shè)備功能

3D結(jié)構(gòu)光(PMP)錫膏檢測設(shè)備(SPI)及其DLP投影光機和相機

一、SPI的分類:

從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類,線激光掃描式與面結(jié)構(gòu)光柵PMP技術(shù)。

1)激光掃描式的SPI通過三角量測的原理計算出錫膏的高度。此技術(shù)因為原理比較簡單,技術(shù)比較成熟,但是因為其本身的技術(shù)局限性如激光的掃描寬度偏長,單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀,桌上型SPI等。

2)結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術(shù)。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內(nèi)相移條紋的時序信息,來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場性、速度快、高精度、自動化程度高等特點,這種技術(shù)已在工業(yè)檢測、機器視覺、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。目前大部分的在線SPI設(shè)備都已經(jīng)升級到此種技術(shù)。

      但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,在實際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,相移誤差與隨機誤差,它將導致計算位相和重建面形的誤差。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,但要解決相移過程中的隨機相移誤差問題,還存在一定的困難。 揭陽國內(nèi)SPI檢測設(shè)備功能

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