AOI錫膏檢測儀操作要點

焊膏印刷是SMT的初始環(huán)節(jié)，也是大部分缺陷的根源所在，大約60%-70%的缺陷出現(xiàn)在印刷階段，如果在生產(chǎn)線的初始環(huán)節(jié)排除缺陷，可以比較大限度地減少損失，降低成本，因此，很多SMT生產(chǎn)線都為印刷環(huán)節(jié)配備了AOI檢測。印刷缺陷有很多種，大體上可以分為焊盤上焊膏不足、焊膏過多；大焊盤中間部分焊膏刮擦、小焊盤邊緣部分焊膏拉尖；印刷偏移、橋連及沾污等，形成這些缺陷的原因包括焊膏流變性不良、模板厚度和孔壁加工不當，印刷機參數(shù)設(shè)定不合理、精度不高、刮刀材質(zhì)和精度選擇不當、PCB加工不良等，通過AOI可以有效監(jiān)控焊膏印刷質(zhì)量，并對缺陷數(shù)量和種類進行分析，光霸綿從而改善印刷制程。素材查看 AOI檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困，歡迎了解.AOI錫膏檢測儀操作要點

AOI自動光學檢測儀及其工作原理2(3)相似性原理。利用圖像的明暗關(guān)系形成目標物的外形輪廓，比較該外形輪廓與標準輪廓的相像程度。該方法財檢測元件的缺失、漏貼等比較有效。(4)顏色提取。任何顏色均可用紅、綠、藍三基色按照一定的比例混合而成。紅、綠、藍形成一個三維顏色立方體。顏色提取就是在這個顏色立方體中裁取一個需要的小顏色方體，即對應(yīng)我們需要選取顏色的范圍，然后計算所檢測的圖像中滿足該顏色方體占整個圖像顏色數(shù)的比例，檢查是否滿足需要的設(shè)定范圍。在以紅、綠、藍三色光照的情況下，該方法較適合對電阻、電容等焊錫進行檢測。(5)圖像比對。在測試過程中，設(shè)備通過CCD攝像系統(tǒng)采集所測試電路板上的圖像，經(jīng)過圖像數(shù)字化處理后輸入計算機內(nèi)部，與標準圖像進行運算比對（比對項目包括元件的尺寸、角度、偏移量、亮度、顏色及位置等），并將比對結(jié)果超過額定誤差閾值的圖像通過顯示器輸出，并顯示其在PCB上的具體的位置。(6)二值化原理。將目標圖像按一定方式轉(zhuǎn)換為灰度圖像，然后選取一定的亮度閾值進行圖像處理，低于閾值的直接轉(zhuǎn)換成黑色，高于閾值的直接轉(zhuǎn)換成白色。使字符、IC短路等直接從原圖像中分離出來。AOI錫膏檢測儀光學檢測原理貼片機生產(chǎn)線中AOI檢測設(shè)備的作用對于器件的檢測？

AOI工作的原理對比1.統(tǒng)計建模方式：圖像對比（ImageMatching）的處理方式。通過對OK模板與實際圖像的對比，求出差異的程度，來進行檢測。這種方式對使用人員要求低，但適應(yīng)性，檢測能力方面有諸多問題。早期，因為開發(fā)簡單，我國有不少AOI制造商，加以改善（模板有多幅OJ圖像疊加而成），美其名曰：“統(tǒng)計建?！?。2.邏輯算法方式：通過算法對圖像的特征點的抽取，來進行檢測。這種方式對使用人員要求有一定的經(jīng)驗?；谒惴ǖ臋z測方法經(jīng)過很多年的發(fā)展，已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，并且在實際運用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。

PCB缺陷可大致分為短路（包括基銅短路、細線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復(fù)性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過厚短路、刮擦短路、褶皺短路等），開路（包括重復(fù)性開路、刮擦開路、真空開路、缺口開路等）和其他一些可能導致PCB報廢的缺陷（包括蝕刻過度、電鍍燒焦、***),在PCB生產(chǎn)流程中，基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷，但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生，AOI一般在蝕刻工序之后進行檢測，主要用來發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測中，圖像對比算法應(yīng)用較多，且以2D檢測為主，其主要包括數(shù)據(jù)處理類（對輸入的數(shù)據(jù)進行初步處理，過濾小的***和殘留銅及不需檢測的孔等），測量類（對輸入的數(shù)據(jù)進行特征提取，記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標準數(shù)據(jù)進行對比）和拓撲類（用于檢測增加或丟失的特征），圖1為特征提取法示意圖，（a）為標準版和被檢板二值圖，（b）為數(shù)學形態(tài)分析后的特征圖。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷，存在少量的漏檢問題，不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題。PCB加工過程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報警，因此目前在使用AOI檢測出缺陷后，必須進行人工驗證。在線AOI與離線AOI的區(qū)別是什么呢？

AOI的包含情況以及三種檢測方法一、AOI系統(tǒng)一般包含：1.照明系統(tǒng)2.光學透鏡3.CCD攝像系統(tǒng)4.檢測工作臺5.檢測程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二、三種檢測算法1.DRC檢測基本思想：DRC使用一套用戶設(shè)計的規(guī)則來檢測違反設(shè)計規(guī)則的二進制數(shù)據(jù)，所有不符合規(guī)則的特征都認為是缺陷。規(guī)則包括：允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導體間距、所有線寬都必須以焊盤結(jié)束等。檢測缺陷：毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。2.特征比較基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征，然后比較結(jié)果，不同之處就是缺陷。檢測缺陷：開路，短路3.粗檢測缺陷基本思想：將模板圖像和待檢圖像進行異或運算，得到圖像之間的不同。檢測缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤）早期的時候AOI大多被拿來檢測IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，歡迎來電了解詳情。AOI錫膏檢測儀2D檢測錫膏

早前的AOI自動光學檢測設(shè)備主要用于檢測IC（即集成電路）封裝之后的表面印刷是否存在缺陷。AOI錫膏檢測儀操作要點

AOI的發(fā)展需求集成電路（IC）當然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)較為精細的人造物之一，而除了以IC為主的半導體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。具體有以下幾種示例：①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測②精密零件與制程的精密加工與檢測，典型應(yīng)用就是針對工具機、航空航天器等高精度機械零件進行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測，具有高精度、量測條件多變等特點③生物醫(yī)學檢測應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學信息判斷。④光學鏡頭或其他光學元件的像差檢測AOI錫膏檢測儀操作要點

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