AOI檢測(cè)發(fā)展歷程:1985年至1995年期間,我國的AOI由空白期逐漸衍生:我國引進(jìn)首臺(tái)貼片機(jī)后,AOI檢測(cè)進(jìn)入起步階段;1996年至2003年期間,以康耐德視覺為中心的企業(yè)開啟AOI檢測(cè)設(shè)備的國內(nèi)生產(chǎn)制造的之路;2004年至2010年期間,我國進(jìn)入了AOI的快速發(fā)展期:AOI新技術(shù)不斷發(fā)展,國內(nèi)品牌開始與國外品牌進(jìn)行戰(zhàn)略性合作,不斷研制功能強(qiáng)勁的設(shè)備。2011年后,我國AOI進(jìn)入人工智能化階段:伴隨著大數(shù)據(jù)、人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)等新技術(shù)的不斷應(yīng)用,AOI檢測(cè)不斷朝著智能化系統(tǒng)方向進(jìn)步。AOI圖像采集階段AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng),照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分。潮州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家
AOI就是自動(dòng)光學(xué)辨識(shí)系統(tǒng),是英文(AutoOpticalInspection)的縮寫,國內(nèi)叫做自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀,現(xiàn)在已經(jīng)普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的電路板組裝生產(chǎn)線的外觀檢查并取代以往的人工目檢。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備的基本原理是利用影像技術(shù)來比對(duì)待測(cè)物與標(biāo)準(zhǔn)影像是否有過大的差異來判斷待測(cè)物有否符合標(biāo)準(zhǔn),所以AOI的好壞基本上也取決于其對(duì)影像的解析度、成像能力與影像辨析技術(shù)。早期時(shí)候AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備大多被拿來檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷,隨著技術(shù)的演進(jìn),現(xiàn)在則被拿來用在SMT組裝線上檢測(cè)電路板上的零件焊錫組裝后的品質(zhì)狀況,或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn)。潮州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家AOI又稱AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備,已成為制造業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過程質(zhì)量控制工具。
為什么需要AOI?1.PCB的趨勢(shì),電路結(jié)構(gòu)密度越來越高,線路越來越細(xì)。2.使用人工檢查缺點(diǎn)效率低,不符合精密印刷電路板檢查的需求。3.對(duì)于缺點(diǎn)能予以記錄、分析。能檢查電性測(cè)試所無法找出的缺點(diǎn):缺口(Nick)、凹陷(Dishdown)、突出(Protrusion)、銅渣(Island)AOI的原理1.銅板缺點(diǎn)如板面氧化或銅面污染異常板、短路、突出等,可加強(qiáng)三色光或減弱反射光。2.地板缺點(diǎn)如底板白點(diǎn)、孔巴里、銅顆粒等,可減弱散射光或加強(qiáng)反射光。3.通常做上述兩個(gè)動(dòng)作為減少假缺點(diǎn)的數(shù)目。
AOI的發(fā)展需求集成電路(IC)當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一,而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè),AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求。①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè),典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等,既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè),典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè),具有高精度、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)。③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用,典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡,結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè)。?素材查看 光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。
光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,每個(gè)像素都可以被定位,無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn),作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會(huì)有問題,為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū),域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。雖然AOI檢測(cè)設(shè)備類型繁多,但廠家為了能夠達(dá)到更完善的檢測(cè),大部分都選擇在線型AOI檢測(cè)設(shè)備。潮州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家
早期的時(shí)候AOI大多被拿來檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷。潮州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家
AOI工作原理自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分為兩類:可見光檢測(cè)和X光檢測(cè)AOI檢測(cè)分為兩部分:光學(xué)部分和圖像處理部分,通過光學(xué)部分獲得需要檢測(cè)的圖像;通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持,因?yàn)楹畏N缺陷需要不同的計(jì)算方法用電腦進(jìn)行計(jì)算和判斷。燈光變化的智能控制人認(rèn)識(shí)物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷,反射量多為量,反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。AOI通過人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,把從光源反射回來的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。對(duì)AOI來說,燈光是認(rèn)識(shí)影響的關(guān)鍵因素,但光源受環(huán)境溫度、AOI設(shè)備內(nèi)部溫度上升等因素影響,不能維持不變的光源,因此需要通過“自動(dòng)跟蹤”燈光“透過率“對(duì)燈光變化進(jìn)行智能控制。焊點(diǎn)檢測(cè)原理AOI是X、Y平面(2D)檢測(cè),而焊點(diǎn)是立體的,因此需要3D檢測(cè)焊點(diǎn)高度(Z)。3D檢測(cè)的方法有當(dāng)下流行的是采用頂部燈光和底部燈光照射—用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí),元件部分燈光反射到camera,而焊點(diǎn)部分光線反射出去。與此相反,用底部(水平)燈光照射時(shí),元件部分燈光反射出去,焊點(diǎn)部分光線反射到career。急用底部燈光可以得到焊點(diǎn)部分的影響。潮州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家