AOI的種類由于設(shè)計(jì)思路及性能的不同,AOI系統(tǒng)可大致分為以下幾種:1)按圖象拾取設(shè)備分類:①使用黑白CCD攝像頭②使用彩色CCD攝像頭③使用高分辨率掃描儀2)按測試項(xiàng)目分類:①主要檢測焊點(diǎn)②主要檢測元件③元件和焊點(diǎn)都檢測3)按設(shè)備的結(jié)構(gòu)分類①需要?dú)庠垂猗诓恍铓庠垂?)按測試時(shí)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式分類①電路板固定,攝像頭或掃描儀移動(dòng)②攝像頭和電路板各往一個(gè)方向運(yùn)動(dòng)③攝像頭固定,電路板進(jìn)行兩個(gè)方向的運(yùn)動(dòng)AOI的三種機(jī)型:結(jié)合以上的各種配置,形成了主要的三種機(jī)器類型:回流爐前無氣源,電路板固定,元件檢測為主,連焊檢測為輔?;亓鳡t后使用,需要?dú)庠?,電路板?dòng),進(jìn)行元件、焊點(diǎn)、連焊檢測??杉嫒菀陨蟽身?xiàng)的檢測,無氣源,電路板固定不動(dòng)。詳情歡迎來電咨詢?,F(xiàn)階段AOI光學(xué)檢測儀主要運(yùn)用的檢查對(duì)比技術(shù)主要有兩種。陽江在線式AOI檢測設(shè)備價(jià)格行情
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測儀及其工作原理2(3)相似性原理。利用圖像的明暗關(guān)系形成目標(biāo)物的外形輪廓,比較該外形輪廓與標(biāo)準(zhǔn)輪廓的相像程度。該方法財(cái)檢測元件的缺失、漏貼等比較有效。(4)顏色提取。任何顏色均可用紅、綠、藍(lán)三基色按照一定的比例混合而成。紅、綠、藍(lán)形成一個(gè)三維顏色立方體。顏色提取就是在這個(gè)顏色立方體中裁取一個(gè)需要的小顏色方體,即對(duì)應(yīng)我們需要選取顏色的范圍,然后計(jì)算所檢測的圖像中滿足該顏色方體占整個(gè)圖像顏色數(shù)的比例,檢查是否滿足需要的設(shè)定范圍。在以紅、綠、藍(lán)三色光照的情況下,該方法較適合對(duì)電阻、電容等焊錫進(jìn)行檢測。(5)圖像比對(duì)。在測試過程中,設(shè)備通過CCD攝像系統(tǒng)采集所測試電路板上的圖像,經(jīng)過圖像數(shù)字化處理后輸入計(jì)算機(jī)內(nèi)部,與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行運(yùn)算比對(duì)(比對(duì)項(xiàng)目包括元件的尺寸、角度、偏移量、亮度、顏色及位置等),并將比對(duì)結(jié)果超過額定誤差閾值的圖像通過顯示器輸出,并顯示其在PCB上的具體的位置。(6)二值化原理。將目標(biāo)圖像按一定方式轉(zhuǎn)換為灰度圖像,然后選取一定的亮度閾值進(jìn)行圖像處理,低于閾值的直接轉(zhuǎn)換成黑色,高于閾值的直接轉(zhuǎn)換成白色。使字符、IC短路等直接從原圖像中分離出來。歡迎來電咨詢。深圳在線式AOI檢測設(shè)備設(shè)備價(jià)錢AOI自動(dòng)光學(xué)檢測儀及其工作原理AOI經(jīng)過十幾年的發(fā)展,技術(shù)水平仍處于高速發(fā)展階段。
PCB缺陷可大致分為短路(包括基銅短路、細(xì)線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復(fù)性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過厚短路、刮擦短路、褶皺短路等),開路(包括重復(fù)性開路、刮擦開路、真空開路、缺口開路等)和其他一些可能導(dǎo)致PCB報(bào)廢的缺陷(包括蝕刻過度、電鍍燒焦、***),在PCB生產(chǎn)流程中,基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷,但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生,AOI一般在蝕刻工序之后進(jìn)行檢測,主要用來發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測中,圖像對(duì)比算法應(yīng)用較多,且以2D檢測為主,其主要包括數(shù)據(jù)處理類(對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理,過濾小的***和殘留銅及不需檢測的孔等),測量類(對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取,記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比)和拓?fù)漕悾ㄓ糜跈z測增加或丟失的特征),圖1為特征提取法示意圖,(a)為標(biāo)準(zhǔn)版和被檢板二值圖,(b)為數(shù)學(xué)形態(tài)分析后的特征圖。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷,存在少量的漏檢問題,不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題。PCB加工過程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報(bào)警,因此目前在使用AOI檢測出缺陷后,必須進(jìn)行人工驗(yàn)證。
1.在SMT產(chǎn)線中,AOI主要應(yīng)用于印刷后AOI,即檢測坍塌、橋接、無焊膏、焊膏過少、焊膏過多等;貼片后AOI,即偏移、元器件漏貼、側(cè)立、元器件極性貼反等;焊接后AOI,即錯(cuò)位、橋接、立碑、焊點(diǎn)過小、焊點(diǎn)過大等。在進(jìn)行不同環(huán)節(jié)的檢測時(shí),其側(cè)重也有所不同。通過以上我們知道,印刷缺陷有很多種,大體上可以分為焊盤上焊膏不足、焊膏過多;大焊盤中間部分焊膏刮擦、小焊盤邊緣部分焊膏拉尖;印刷偏移、橋連及沾污等。形成這些缺陷的原因也有很多,包括焊膏流變性不良、模板厚度和孔壁加工不當(dāng)、印刷機(jī)參數(shù)設(shè)定不合理、精度不高、刮刀材質(zhì)和硬度選擇不當(dāng)、PCB加工不良等。那么通過AOI可以有效監(jiān)控焊膏印刷質(zhì)量,并對(duì)缺陷數(shù)量和種類進(jìn)行分析,從而改善印刷制程。AOI光學(xué)檢測與X-RAY無損檢測兩者之間的區(qū)別。
AOI檢測發(fā)展歷程:1985年至1995年期間,我國的AOI由空白期逐漸衍生:我國引進(jìn)首臺(tái)貼片機(jī)后,AOI檢測進(jìn)入起步階段;1996年至2003年期間,以康耐德視覺為中心的企業(yè)開啟AOI檢測設(shè)備的國內(nèi)生產(chǎn)制造的之路;2004年至2010年期間,我國進(jìn)入了AOI的快速發(fā)展期:AOI新技術(shù)不斷發(fā)展,國內(nèi)品牌開始與國外品牌進(jìn)行戰(zhàn)略性合作,不斷研制功能強(qiáng)勁的設(shè)備。2011年后,我國AOI進(jìn)入人工智能化階段:伴隨著大數(shù)據(jù)、人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)等新技術(shù)的不斷應(yīng)用,AOI檢測不斷朝著智能化系統(tǒng)方向進(jìn)步。
AOI檢測基本原理與設(shè)備構(gòu)成?深圳在線式AOI檢測設(shè)備設(shè)備價(jià)錢
素材查看 光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。陽江在線式AOI檢測設(shè)備價(jià)格行情
AOI為什么會(huì)逐漸取代人工目檢?現(xiàn)在的人工越來越貴,并且人員管理也越來越難,人工目檢還會(huì)出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)檢,因此在線AOI逐漸取代人工目檢,達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等,在現(xiàn)代的EMS加工廠中,大量的AOI逐漸取代人工目檢,效率也更快。AOI檢測設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問題,保證生產(chǎn)質(zhì)量;2、提高了后端測試的直通率,降低維修成本;3、隨著技術(shù)的發(fā)展,AOI測試程序快捷簡便,降低了生產(chǎn)所需的大量測試成本;AOI檢測設(shè)備的缺點(diǎn)1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現(xiàn)誤判,2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+AOI自動(dòng)檢測結(jié)合是目前的主流方式,如果放置了AOI自動(dòng)檢測儀,人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員隨著電子精密化趨勢發(fā)展,越來越多的使用了屏蔽罩,因此有實(shí)力的加工廠還會(huì)在多功能機(jī)前加一個(gè)爐前AOI,用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。陽江在線式AOI檢測設(shè)備價(jià)格行情