AOI工作的原理對(duì)比1.統(tǒng)計(jì)建模方式:圖像對(duì)比(ImageMatching)的處理方式。通過對(duì)OK模板與實(shí)際圖像的對(duì)比,求出差異的程度,來進(jìn)行檢測。這種方式對(duì)使用人員要求低,但適應(yīng)性,檢測能力方面有諸多問題。早期,因?yàn)殚_發(fā)簡單,我國有不少AOI制造商,加以改善(模板有多幅OJ圖像疊加而成),美其名曰:“統(tǒng)計(jì)建模”。2.邏輯算法方式:通過算法對(duì)圖像的特征點(diǎn)的抽取,來進(jìn)行檢測。這種方式對(duì)使用人員要求有一定的經(jīng)驗(yàn)。基于算法的檢測方法經(jīng)過很多年的發(fā)展,已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定,并且在實(shí)際運(yùn)用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。AOI光學(xué)檢測與X-RAY無損檢測兩者之間的區(qū)別。江門自動(dòng)化AOI檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家
光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,電極所產(chǎn)生的電場推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,每個(gè)像素都可以被定位,無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn),作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會(huì)有問題,為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū),域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片。云浮銷售AOI檢測設(shè)備廠家價(jià)格AOI檢測系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。
為什么需要AOI?1.PCB的趨勢,電路結(jié)構(gòu)密度越來越高,線路越來越細(xì)。2.使用人工檢查缺點(diǎn)效率低,不符合精密印刷電路板檢查的需求。3.對(duì)于缺點(diǎn)能予以記錄、分析。能檢查電性測試所無法找出的缺點(diǎn):缺口(Nick)、凹陷(Dishdown)、突出(Protrusion)、銅渣(Island)AOI的原理1.銅板缺點(diǎn)如板面氧化或銅面污染異常板、短路、突出等,可加強(qiáng)三色光或減弱反射光。2.地板缺點(diǎn)如底板白點(diǎn)、孔巴里、銅顆粒等,可減弱散射光或加強(qiáng)反射光。3.通常做上述兩個(gè)動(dòng)作為減少假缺點(diǎn)的數(shù)目。
如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備1、分辨率的挑選AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀的分辨率應(yīng)以像元的尺度巨細(xì)作為判別的條件,也就是空間分辨率來衡量。像素的巨細(xì)不是判別AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀的檢出才能的標(biāo)準(zhǔn),準(zhǔn)確地講,像素大是決議單位面積的像元尺度巨細(xì)的因素。假如單位面積不同,像素再高也沒有可比性。比方一臺(tái)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀的FOV為12*16毫米,假如這臺(tái)AOI選用的是30萬像素的相機(jī),那么這臺(tái)AOI的分辨率只有25微米,它只能檢測0402以上封裝尺度的元件。但假如這臺(tái)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀選用的是200萬像素的相機(jī),那么這臺(tái)AOI的分辨率就變?yōu)?0微米,就可以檢測01005以上封裝尺度的元件。2、CAD的挑選現(xiàn)在大多數(shù)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀都有CAD數(shù)據(jù)導(dǎo)入功用,但這一功用的運(yùn)用,對(duì)器材較少的PCBA板的運(yùn)用功率不是很好,而對(duì)元器材較多的PCBA板的運(yùn)用則能起到事半功倍的效果。3、特別功用的挑選假如你要對(duì)多連板的PCBA進(jìn)行檢測,就一定要挑選有跳板功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀,也就是有區(qū)域挑選功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀。假如你將AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀用作質(zhì)量的進(jìn)程操控,那么,你在挑選AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀時(shí),一定要挑選具有RPC功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測儀,也就是具有實(shí)時(shí)工藝進(jìn)程操控的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測AOI檢測基本原理與設(shè)備構(gòu)成?
爐前與爐后AOI爐前AOI主要是放置在多功能貼片機(jī)前,因?yàn)楝F(xiàn)在很多通訊錄產(chǎn)品都會(huì)加屏蔽罩,那么只能在爐前AOI先檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì),再由多功能機(jī)貼屏蔽罩,如果是焊接后再檢查,那么爐后AOI就無法檢測屏蔽罩下的元件焊接品質(zhì)。大部分貼片加工廠都是爐后AOI,主要檢查焊接的品質(zhì),刷選出焊接不良,以免組裝包裝出貨后出問題,那么返工會(huì)更費(fèi)時(shí)費(fèi)力。AOI檢測步驟1.給AOI進(jìn)行編程,將相關(guān)PCB和元件數(shù)據(jù)學(xué)習(xí)。2.學(xué)習(xí)預(yù)測,將多塊焊接板利用光學(xué)進(jìn)行檢測和算法分析,找出待測物的變化規(guī)律,建立標(biāo)準(zhǔn)的OK板模型3.學(xué)習(xí)完成,進(jìn)行在線調(diào)試,在批量生產(chǎn)前進(jìn)行小批次試產(chǎn),將試產(chǎn)的PCBA與OK板進(jìn)行比對(duì),合格則再人工目檢4.對(duì)試產(chǎn)PCBA進(jìn)行功能測試,如都正常,則開放批量生產(chǎn)。素材查看 AOI檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困,歡迎了解.江門自動(dòng)化AOI檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家
貼片機(jī)生產(chǎn)線中AOI檢測設(shè)備的作用對(duì)于器件的檢測。江門自動(dòng)化AOI檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家
AOI從鏡頭數(shù)量來說有單鏡頭和多鏡頭,這是技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種選擇,但并非多鏡頭的就比較好,因?yàn)閱午R頭通過多個(gè)光源的不同角度照射也能得到很好的檢測圖像。尤其是針對(duì)無鉛焊接的表面比較粗糙,會(huì)產(chǎn)生形狀不同的焊點(diǎn),容易形成氣泡,而且容易出現(xiàn)零件一端翹立的特點(diǎn),新的AOI設(shè)備也都進(jìn)行了適應(yīng)性的硬件和算法的更新。和田古德AOI采用的高清彩色全局曝光數(shù)字相機(jī),同時(shí)配備的遠(yuǎn)心鏡頭,能夠消除卷簾相機(jī)的拖影現(xiàn)象,提升了檢測速度,同時(shí)可以從容應(yīng)對(duì)高元件側(cè)面焊盤的檢測。在直線型測試、偏轉(zhuǎn)角度測試、距離測試上,均有更精細(xì)的效果。AOI雖然可用于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置,每個(gè)位置均可檢測特殊缺陷,比如和田古德AOI舉支持smt爐前,爐后以及sip工位的檢測,同時(shí)也支持0201封裝的元件檢測。不過,一般的SMT工作者習(xí)慣將AOI檢測設(shè)備放置在回流焊之后,也是在SMT工藝過程步驟進(jìn)行檢查,因?yàn)檫@個(gè)位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯(cuò)誤?;亓骱负髾z查能夠提供高度的安全性,因?yàn)樗茏R(shí)別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。江門自動(dòng)化AOI檢測設(shè)備生產(chǎn)廠家