廣東BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

來源: 發(fā)布時間:2023-03-05

D8DISCOVER應用范圍材料研究殘余應力分析、織構和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結構和物理特性,是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8DISCOVER配備了技術超過的組件,可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,同時讓研究人員對材料進行細致入微的表征:定性相分析和結構測定微米應變和微晶尺寸分析應力和織構分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進行局部XRD分析倒易空間掃描在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品進行XRR分析,測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度。廣東BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

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RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1)。另外,如果衍射簡單較高,那么X射線只能輻射到部分樣品,無法利用整個樣品的體積,衍射信號弱。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,同時增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明:GID需要硬件配置;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,不適合單晶外延膜。廣東BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢X射線反射法、掠入射衍射(GID)、面內衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI應力分析、晶體取向分析。

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布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供的數(shù)據質量——尤其是在低2?角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有準確的計數(shù)率和角分辨率,是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。

淀粉結晶度測定引言淀粉結晶度是表征淀粉顆粒結晶性質的一個重要參數(shù),也是表征淀粉材料類產品性質的重要參數(shù),其大小直接影響著淀粉產品的應用性能、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法(XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結晶度常用的方法之一。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值。采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計殘余應力分析、織構和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)。

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石墨化度分析引言石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,應用于冶金、化工、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質量對電池的性能有很大影響,石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結構的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點陣參數(shù),石墨化度就愈高。支持全新技術進行定制,包括高性能X射線源、定制版光學器件、定制版樣品臺和多模式探測器。江西進口XRD衍射儀均價

可在數(shù)秒內,輕松從先焦點切換到點焦點,從而擴大應用范圍,同事縮短重新匹配的時間。廣東BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質量控制技術和方法指導原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時,應使用“優(yōu)勢藥物晶型物質狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型,以保證藥品臨床有效性、安全性與質量可控性。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視。晶型,特別是API晶型對藥物的功能有直接關心,同一API的不同晶型在溶解度、熔點、溶出度、生物有效性等方便可能會有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD。廣東BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢

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