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BrukerMicro-CT提供完整的分析軟件包,涵蓋CT分析所需的所有軟件,并可長(zhǎng)久free升級(jí)?!煜到y(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集軟件系統(tǒng)控制軟件用于控制設(shè)備、設(shè)定參數(shù)并獲得X-射線圖像以進(jìn)行后續(xù)的三維重建。它包括光源和探測(cè)器的控制,獲取陰影圖像以及一系列可用于重建的不同角度投影圖像。采集參數(shù)的控制(多種采集策略可選),以獲得比較好的采集效果。同時(shí)也包括待測(cè)樣品的控制(通過(guò)樣品臺(tái)的自由度),以及樣品腔內(nèi)光學(xué)相機(jī)的控制,以便于將樣品調(diào)整至比較好位置,并開(kāi)始所有以下的重建和后處理程序。整個(gè)過(guò)程完全可以通過(guò)易于使用的圖形化用戶界面來(lái)完成。和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣,加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。浙江發(fā)展顯微CT創(chuàng)新服務(wù)
VGSTUDIOMAX為您提供了不同的模塊,覆蓋了豐富的工業(yè)應(yīng)用1.哪怕是組件上難進(jìn)入的表面,也可進(jìn)行測(cè)量(坐標(biāo)測(cè)量模塊)2.以非破壞性的方式,發(fā)現(xiàn)鑄件的缺陷,包括氣孔預(yù)測(cè)(孔隙度/夾雜物分析模塊)3.根據(jù)規(guī)范P201和P202進(jìn)行缺陷分析(孔隙率/夾雜物增強(qiáng)版分析模塊)4.用CAD數(shù)據(jù)、網(wǎng)格數(shù)據(jù)(.stl)或其他體數(shù)據(jù),來(lái)比較制造的零件(名義/實(shí)際比較模塊)5.壁厚分析:對(duì)壁厚或間隙寬度不足或過(guò)大的區(qū)域進(jìn)行定位(壁厚分析模塊)6.通過(guò)在不同的場(chǎng)景中模塊化使用宏來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化7.測(cè)定多孔泡沫和過(guò)濾材料中的孔結(jié)構(gòu)(泡沫結(jié)構(gòu)分析模塊)8.計(jì)算復(fù)合材料中的纖維取向及其他相關(guān)參數(shù)(纖維復(fù)合材料分析模塊)9.直接基于CT數(shù)據(jù),進(jìn)行機(jī)械應(yīng)力無(wú)損模擬的虛擬應(yīng)力測(cè)試(結(jié)構(gòu)力學(xué)模擬模塊)10.流動(dòng)和擴(kuò)散實(shí)驗(yàn),例如,對(duì)多孔材料或復(fù)合材料的CT掃描進(jìn)行實(shí)驗(yàn)(運(yùn)輸現(xiàn)象模塊)浙江發(fā)展顯微CT創(chuàng)新服務(wù)XRM可在無(wú)損情況下實(shí)現(xiàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的可視化,避免切片造成的微觀結(jié)構(gòu)的改變。
ROIShrink-wrap功能可以完美的解決復(fù)雜形態(tài)ROI的自動(dòng)選取,并且可以與CTAn的另一個(gè)功能PrimitiveROI相結(jié)合,可以ROI包含我們感興趣的邊界。高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)可以應(yīng)用在多孔介質(zhì)滲流特性的研究中,與入口和出口表面相連通的孔隙在其中起到關(guān)鍵作用,高精度三維成像系統(tǒng)如何在錯(cuò)綜復(fù)雜的孔隙網(wǎng)絡(luò)中選取其中起關(guān)鍵作用的區(qū)域?qū)τ诙嗫捉橘|(zhì)滲流機(jī)理的研究就至關(guān)重要了。下圖展示了X射線三維納米顯微鏡中ROIShrink-wrap與PrimitiveROI相結(jié)合所獲取與上下表面相通的孔隙網(wǎng)絡(luò)。
技術(shù)規(guī)范:X射線源:20-100kV,10W,焦點(diǎn)尺寸<5μm@4WX射線探測(cè)器:1600萬(wàn)像素(4904×3280像素)或1100萬(wàn)像素(4032×2688像素)14位冷卻式CCD光纖連接至閃爍體標(biāo)稱分辨率(放大率下樣品的像素):1600萬(wàn)像素探測(cè)器<0.35um;1100萬(wàn)像素探測(cè)器<0.45um,重建容積圖(單次掃描):1600萬(wàn)像素探測(cè)器,14456×14456×2630像素1100萬(wàn)像素探測(cè)器,11840×11840×2150像素掃描空間:0-直徑75mm,長(zhǎng)70mm輻射安全:在儀器表面的任何一點(diǎn)上<1uSv/h外形尺寸:1160(寬)×520(深)×330(高)毫米(帶樣品切換器高440毫米)重量:150千克,不含包裝電源:100-240V/50-60Hz。可變幾何系統(tǒng)能在空間分辨率、可掃描樣品尺寸、掃描速度、圖像質(zhì)量之間找到完美的平衡。
SKYSCAN1272SampleDimensionsMμm):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediameterforvarioussamplesat100kVGeomaterials:20mmRocksamplesupto10mmgivegoodresults.Metals:5mmElectronics:10–20mmMetalparts(highdensity)requireverylongmeasuringtimesifadecentresolutionisneededLow-densematerials:40mmScannedat50kVPixelsize:0.85μmObservationoftheindividualfibersColor-codedbytheorientationangleD由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測(cè)器盡可能地靠近光源,SKYSCAN1272的掃描速度比探測(cè)器位置固定的系統(tǒng)可快5倍。上海新型顯微CT選擇
高通量和四維斷層掃描:將時(shí)間或溫度作為三維研究的第四個(gè)維度、在非大氣條件下檢測(cè)樣品。浙江發(fā)展顯微CT創(chuàng)新服務(wù)
SKYSCAN2214應(yīng)用纖維和復(fù)合材料通過(guò)將材料組合成復(fù)合材料,獲得的組件可以擁有更高的強(qiáng)度,同時(shí)大為減輕重量。而要想進(jìn)一步優(yōu)化組件性能,就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。常用的組分之一是纖維,有混凝土中的鋼筋,電子元件中的玻璃纖維,還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測(cè)纖維和復(fù)合材料,而無(wú)需進(jìn)行橫切,從而確保樣品狀態(tài)不會(huì)在制備樣品的過(guò)程中受到影響。嵌入對(duì)象的方向?qū)雍瘛⒗w維尺寸和間隔的定量分析采用原位樣品臺(tái)檢測(cè)溫度和物理性質(zhì)。浙江發(fā)展顯微CT創(chuàng)新服務(wù)
束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司是以提供布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2內(nèi)的多項(xiàng)綜合服務(wù),為消費(fèi)者多方位提供布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,布魯克XRD衍射儀D2,公司位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602-1室,成立于2016-09-23,迄今已經(jīng)成長(zhǎng)為儀器儀表行業(yè)內(nèi)同類型企業(yè)的佼佼者。束蘊(yùn)儀器致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競(jìng)爭(zhēng)力,產(chǎn)品已銷往多個(gè)國(guó)家和地區(qū),被國(guó)內(nèi)外眾多企業(yè)和客戶所認(rèn)可。