信號完整性測試MIPI測試方案

MIPI還是一個(gè)正在發(fā)展的規(guī)范，其未來的改進(jìn)方向包括采用更高速的嵌入式時(shí)鐘的M-PHY作為物理層、CSI/DSI向更高版本發(fā)展、完善基帶和射頻芯片間的DigRFV4接口、定義高速存儲接口UFS(主要是JEDEC組織)等。當(dāng)然，MIPI能否成功，還取決于市場的選擇。

當(dāng)前，終端市場要求新設(shè)計(jì)具有更低功耗、更高數(shù)據(jù)傳輸率和更小的PCB占位空間，在這種巨大壓力之下，一些智能化且具有更高性能價(jià)格比的替代方案開始逐漸為相關(guān)設(shè)計(jì)人員所采用。現(xiàn)在使用的幾種基于標(biāo)準(zhǔn)的串行差分接口當(dāng)中，MIPI接口在功率敏感同時(shí)又要求高性能的移動(dòng)手持式設(shè)備領(lǐng)域中的增長極為迅速。而基帶和顯示器/相機(jī)模塊對MIPI顯示器串行接口(DisplaySerialInterface，DSI)和相機(jī)串行接口(CameraSerialInterface，CSI-2)協(xié)議的采納，正是這種增長的主要推動(dòng)力。DSI和CSI-2是分別針對顯示器和相機(jī)要求的邏輯層(logical-level)協(xié)議，它們通過物理互連對主機(jī)與外設(shè)之間的數(shù)據(jù)進(jìn)行管理、差錯(cuò)和通信。MIPID-PHY規(guī)定了連接處理器和外設(shè)的物理層的物理及電氣特性，這些MIPI接口為服務(wù)移動(dòng)設(shè)備市場而專門設(shè)計(jì)。 MIPI-DSI接口IP設(shè)計(jì)模擬部分采用定制方法;信號完整性測試MIPI測試方案

移動(dòng)產(chǎn)/處理器接口MIPI(mobileindustryprocessorinter-face)是為移動(dòng)應(yīng)用處理器制定開放標(biāo)準(zhǔn)，旨在為移動(dòng)設(shè)備內(nèi)部的攝像頭、顯示屏、射頻，基帶等提供標(biāo)準(zhǔn)化接口。它使這些設(shè)備的接口既能增加帶寬，提高性能，同時(shí)又能降低成本、復(fù)雜度、功耗以及電磁干擾。MIPI并不是一個(gè)單一的接口或協(xié)議，而是包含了一套協(xié)議和標(biāo)準(zhǔn)，以滿足各種子系統(tǒng)獨(dú)特的需求。D-PHY提供了主機(jī)和從機(jī)之間的同步物理連接。一個(gè)典型的DPHY配置包含一個(gè)時(shí)鐘通道模塊和一至四個(gè)數(shù)據(jù)通道模塊。D-PHY采用差分信號與另一端的D-PHY連通以高速傳輸圖像數(shù)據(jù)，低速傳輸控制與狀態(tài)信息則采用單端信號進(jìn)行。自動(dòng)化MIPI測試一致性測試MIPI接口高速接收電路設(shè)計(jì)；

電路結(jié)構(gòu)

在高速模式下，主機(jī)端的差分發(fā)送模塊以差分信號驅(qū)動(dòng)互連線，高速通道上呈現(xiàn)兩種狀態(tài)，differentia-0differential-1，從屬端的高速接收單元將低擺幅的差分?jǐn)?shù)據(jù)通過高速比較器轉(zhuǎn)換成邏輯電平。在串行轉(zhuǎn)并行模塊中，高速時(shí)鐘對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙沿采樣，將高速串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成兩路并行數(shù)據(jù)，交給后續(xù)數(shù)字電路處理。高速接收單元的總體電路結(jié)構(gòu)。

輸入終端電阻由于輸入數(shù)據(jù)信號頻率高，需要進(jìn)行阻抗匹配，因此在比較器的差分輸入端dp/dn之間跨接了100歐姆終端電阻，由開關(guān)進(jìn)行控制，當(dāng)系統(tǒng)要進(jìn)行高速數(shù)據(jù)傳輸時(shí)，就將該終端電阻使能。由于電阻值隨工藝角、溫度筆變化比較大，因此在終端電陽RO(50歐姆)的其礎(chǔ)上增加了一個(gè)電陽，分別由三位控制信號控制，可通過改變控制字改變電阻大小，使終端電阻值在各工藝角及溫度下均能滿足協(xié)議要求。比較器終端電阻電路結(jié)松。

為了適應(yīng)兩種不同的運(yùn)行模式，接收機(jī)端的端接必須是動(dòng)態(tài)的。在HS模式下，接收機(jī)端必須以差分方式端接100Ω；在LP模式下，接收機(jī)開路(未端接)。HS模式下的上升時(shí)間與LP模式下是不同的。

接收機(jī)端動(dòng)態(tài)端接加大了D-PHY信號測試的復(fù)雜度，這給探測帶來極大挑戰(zhàn)。探頭必須能夠在HS信號和LP信號之間無縫切換，而不會(huì)給DUT帶來負(fù)載。必須在HS進(jìn)入模式下測量大多數(shù)全局定時(shí)參數(shù)，其需要作為時(shí)鐘測試、數(shù)據(jù)測試和時(shí)鐘到數(shù)據(jù)測試來執(zhí)行。還要在示波器的不同通道上同時(shí)采集Clock+(Cp)、Clock-(Cn)、Data+(Dp)、Data-(Dn)。 MIPI規(guī)定D-PHY信號的大走線長度了嗎？

數(shù)據(jù)通道0具有高速數(shù)據(jù)接收，以及低功耗下的Escape模式，數(shù)據(jù)通道1具有高速數(shù)據(jù)接收和功耗模式，在閑置狀態(tài)時(shí)，通道都處于LP-II狀態(tài)。當(dāng)主機(jī)向從機(jī)發(fā)送高速接收請求序列LP-II->LPOI->LPOO，從機(jī)通過檢測LP-II->LPOI和LPOI->LPOO的變化，使能差分放大電路的中的終端電阻控制信號，打開高速接收，從機(jī)開始準(zhǔn)備接收主機(jī)高速發(fā)送過來的數(shù)據(jù)。當(dāng)主機(jī)向從機(jī)發(fā)送Escape模式進(jìn)入序列LP-II->LP-IO>LPOO>LPOI->LPOO時(shí)，從機(jī)開始檢測序列，在正確接收到的LPOO狀態(tài)后即進(jìn)入Escape模式，然后等待主機(jī)發(fā)送Entrycommands。再進(jìn)行相應(yīng)的操作，退出Escape模式的序列是LP-IO>LP-II。 MIPI M-PHY的協(xié)議解碼；信號完整性測試MIPI測試方案

什么是MIPI物理層一致性測試；信號完整性測試MIPI測試方案

MIPI物理層一致性測試

MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議，這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測試中，測試設(shè)備會(huì)模擬各種情景和條件下的MIPI信號傳輸，并使用示波器等工具進(jìn)行測量和分析，以確定MIPI接口是否符合MIPI聯(lián)盟制定的物理層標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。這些測試通常包括以下方面：1.電氣測試：檢驗(yàn)MIPI信號的電氣參數(shù)是否符合規(guī)范，包括差分阻抗、峰峰電壓等；2.時(shí)序測試：測試MIPI接口的信號時(shí)序是否符合規(guī)范，包括時(shí)鐘頻率、數(shù)據(jù)延遲、數(shù)據(jù)速率等；3.信號完整性測試：檢查MIPI信號傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性，包括檢測信號波形的噪聲、抖動(dòng)、失真等。通過MIPI物理層一致性測試，可以幫助廠商確保其MIPI產(chǎn)品的物理層性能和穩(wěn)定性符合MIPI聯(lián)盟的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，從而提高產(chǎn)品的可靠性和互通性。 信號完整性測試MIPI測試方案

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