北京PCI-E測試商家

并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖，這個分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實 際測試到的眼圖從實現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點和誤碼數(shù)統(tǒng)計等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室被測件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的一致性測試碼型，為什么？北京PCI-E測試商家

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。多端口矩陣測試PCI-E測試維保PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化；

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些PCI-E測試信號完整性測試解決方案；

PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本，廣泛應(yīng)用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網(wǎng)卡、加速卡等與CPU的互聯(lián)。PCle的標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護(hù)，目前其董事會主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司，全球會員單位超過700家。PCI-SIG發(fā)布的規(guī)范主要有Base規(guī)范(適用于芯片和協(xié)議)、CEM規(guī)范(適用于板卡機(jī)械和電氣設(shè)計)、測試規(guī)范(適用于測試驗證方法)等，目前產(chǎn)業(yè)界正在逐漸商用第5代版本，同時第6代標(biāo)準(zhǔn)也在制定完善中。由于組織良好的運作、的芯片支持、成熟的產(chǎn)業(yè)鏈，PCIe已經(jīng)成為服務(wù)器和個人計算機(jī)上成功的高速串行互聯(lián)和I/O擴(kuò)展總線。圖4.1是PCIe總線的典型應(yīng)用場景。為什么沒有PCIE轉(zhuǎn)DP或hdmi？多端口矩陣測試PCI-E測試維保

PCI-e體系的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);北京PCI-E測試商家

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號質(zhì)量測試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試，協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說，由于測試點是在連接器的金手指處，信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一些，所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測試中，由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會用到50GHz。 北京PCI-E測試商家

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