數(shù)字信號眼圖測試保養(yǎng)

眼圖測量方法（傳統(tǒng)眼圖測量方法），眼圖測量方法有兩種：傳統(tǒng)眼圖測量方法用中文來理解是八個字：“同步觸發(fā)+疊加顯示”，現(xiàn)代眼圖測量方法用中文來理解也是八個字：“同步切割+疊加顯示”。兩種方法的差別就四個字：傳統(tǒng)的是用觸發(fā)的方法，現(xiàn)代的是用切割的方法?！巴健笔菧?zhǔn)確測量眼圖的關(guān)鍵，傳統(tǒng)方法和現(xiàn)代方法同步的方法是不一樣的?！隘B加顯示”就是用模擬余輝的方法不斷累積顯示。傳統(tǒng)的眼圖方法就是同步觸發(fā)一次，然后疊加一次。每觸發(fā)一次，眼圖上增加了一個UI，每個UI的數(shù)據(jù)是相對于觸發(fā)點排列的，因此是每觸發(fā)一次眼圖上只增加了一個比特位。圖一形象表示了這種方法形成眼圖的過程?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室眼圖測試。數(shù)字信號眼圖測試保養(yǎng)

數(shù)字信號眼圖分析

波形參數(shù)測試室數(shù)字信號測試常用的測量方法，但是隨著數(shù)字信號速率的提高，波形參數(shù)的測量方法越來越不適用，5G的信號來說，由于受到傳輸通道的損耗的影響，不同位置的信號的幅度、上升時間，脈沖寬度等都是不一樣的。不同的操作人員的波形的不同位置測量得到的結(jié)果也是不一樣的，這就使用我們必須采用別的方法對于信號的質(zhì)量進(jìn)行評估，對于高速數(shù)字信號來說常用的就是眼圖的測量方法。

所謂眼圖，實際上就是高速數(shù)字信號不同位置的數(shù)據(jù)比特按照時鐘的間隔疊加在一起自然形成的一個統(tǒng)計分布圖，顯示了眼圖的形成過程。我們可以看到，隨著疊加的波形數(shù)量的增加，數(shù)字信號逐漸形成一個個類似眼睛一樣的形狀，我們把這種圖形叫作眼圖。 校準(zhǔn)眼圖測試廠家現(xiàn)貨快速眼圖測試系統(tǒng)分析方法？

    對于眼圖的概念，有以下幾點比較重要：眼圖是波形的疊加：眼圖的測量方法不是對單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測量，而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起，這樣可以看到信號的統(tǒng)計分布情況。只有差的信號都滿足我們對于信號的基本要求，才說明信號質(zhì)量是可以接受的。波形需要以時鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加：眼圖是對多個波形或bit的疊加，但這個疊加不是任意的，通常要以時鐘為基準(zhǔn)。對于很多并行總線來說，由于大部分都有專門的時鐘傳輸通道，所以通常會以時鐘通道為觸發(fā)，對數(shù)據(jù)信號的波形進(jìn)行疊加形成眼圖，一般的示波器都具備這個功能。而對于很多高速的串行總線信號來說，由于時鐘信息嵌入在數(shù)據(jù)流里，所以需要測量設(shè)備有相應(yīng)的時鐘恢復(fù)功能（可能是硬件的也可能是軟件的），能夠先從數(shù)據(jù)流里提取出時鐘，然后以這個時鐘為基準(zhǔn)對數(shù)據(jù)比特進(jìn)行疊加才能形成眼圖。因此，很多高速串行數(shù)字信號的眼圖測試通常需要該示波器或測量設(shè)備有相應(yīng)的時鐘恢復(fù)功能。下圖是個對串行數(shù)據(jù)流進(jìn)行軟件時鐘恢復(fù)的例子。

 DDR眼圖測試1-3

在早期設(shè)計階段，如何完整評價DDR信號質(zhì)量和時序等參數(shù)呢，這里為大家介紹一個設(shè)計到驗證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接導(dǎo)入到運行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測試套件，這個軟件可以分析前面所說的JEDEC對DDR4信號要求的電氣和時序等參數(shù)，判斷是否符合規(guī)范要求，以測試報告形式呈現(xiàn)，這種方式可以在設(shè)計階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問題，及時改進(jìn)設(shè)計，縮短研發(fā)周期，降低硬件開發(fā)成本。另一方面，在硬件已經(jīng)打板回來，可以通過V系列等示波器測試信號，通過實際的信號檢查存在的問題，將仿真的結(jié)果和實際測試的結(jié)果做相關(guān)對比，進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測量方法，使仿真和測試結(jié)果逐漸逼近。 眼圖測試基本概念 原理 參數(shù) 操作步驟 測量方法 其他概念。

DDR眼圖測試1-5

，對于物理層無論是仿真還是一致性測試軟件得到的數(shù)據(jù)，都可以通過數(shù)據(jù)分析工具 N8844A 導(dǎo)入到云端，通過可視化工具，生成統(tǒng)計分析表格，對比性分析高低溫、高低電壓等極端情況下不同的測試結(jié)果，比較不同被測件異同。為開發(fā)測試部門提供靈活和有效的大數(shù)據(jù)分析平臺。

除了在物理層信號質(zhì)量和基本時序參數(shù)之外，DDR 總線的狀態(tài)機(jī)復(fù)雜時序特性，以及總線的命令操作解析需要通過邏輯分析儀輔助分析。是德科技的U4164A 邏輯分析儀，同步分析速率可以達(dá)到 4Gbps，采樣窗口可以低至 100mv x 100ps，單路采集樣本高達(dá) 400M，對于 DDR4 的測試是非常合適的，另外配合 B4661A memory 分析軟件，可以解析 DDR4 會話操作，實現(xiàn) DDR4 總線的命令解碼，解析 MRS，命令，行列地址，并可以直接觸發(fā)物理地址捕獲特定信號，利用深存儲的大量樣本，可以對DDR 總線的性能進(jìn)行分析，包括統(tǒng)計內(nèi)存總線有效吞吐速率，統(tǒng)計各種命令操作以及總線利用率，分析對不同內(nèi)存地址空間的訪問效率。另外利用是德科技獨有的邏輯分析儀內(nèi)部眼圖掃描功能，可以同時分析掃描總線各個比特位的眼圖質(zhì)量。 對定時誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大對定時誤差就越靈敏。校準(zhǔn)眼圖測試廠家現(xiàn)貨

眼圖測試(信號完整性測試)-LVDS物理層信號完整性？數(shù)字信號眼圖測試保養(yǎng)

    理論分析得到如下幾條結(jié)論，在實際應(yīng)用中要以此為參考，從眼圖中對系統(tǒng)性能作一論述：（1）比較好抽樣時刻應(yīng)在“眼睛”張開比較大的時刻。（2）對定時誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大，對定時誤差就越靈敏。（3）在抽樣時刻上，眼圖上下兩分支陰影區(qū)的垂直高度，表示比較大信號畸變。（4）眼圖**的橫軸位置應(yīng)對應(yīng)判決門限電平。（5）在抽樣時刻，上下兩分支離門限**近的一根線跡至門限的距離表示各相應(yīng)電平的噪聲容限，噪聲瞬時值超過它就可能發(fā)生錯誤判決。（6）對于利用信號過零點取平均來得到定時信息的接收系統(tǒng)，眼圖傾斜分支與橫軸相交的區(qū)域的大小表示零點位置的變動范圍，這個變動范圍的大小對提取定時信息有重要的影響。 數(shù)字信號眼圖測試保養(yǎng)