山西PCI-E測試項目

PCIe5.0物理層技術PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設計的Base規(guī)范，針對板卡設計的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時支持PCIe5.0的服務器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓撲模型與PCIe4.0類似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個鏈路的損耗達到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預算的模型。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？山西PCI-E測試項目

這么多的組合是不可能完全通過人工設置和調(diào)整  的，必須有一定的機制能夠根據(jù)實際鏈路的損耗、串擾、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進行  自動的參數(shù)設置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個要求是強制的，而且很  多測試項目直接與鏈路協(xié)商功能相關，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機，從設備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進行簡單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會進行更  加復雜的發(fā)送端預加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。山西PCI-E測試項目PCI-E硬件測試方法有那些辦法；

PCIe4.0的發(fā)射機質(zhì)量測試發(fā)射機質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發(fā)射機質(zhì)量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗證其信號質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應為25GHz或以上。如果要進行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會對信號進行時鐘恢復、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機支持多個不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質(zhì)量測試 結果。SigTest需要用戶手動設置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進行后分析，測試效率 比較低，而且對于不熟練的測試人員還可能由于設置疏忽造成測試結果的不一致，測試項目 也主要限于信號質(zhì)量與Preset相關的項目。為了提高PCIe測試的效率和測試項目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應的自動化測試軟件。PCI-E 3.0測試接收端的變化；

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應明確當前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關的測試項目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。PCI-E4.0的標準什么時候推出？有什么變化？山西PCI-E測試項目

pcie物理層面檢測,pcie時序測試；山西PCI-E測試項目

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預加重和均衡功能也越來越復雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術，即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術來說，由于信號速率更高，需要采用更加 復雜的去加重技術，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應對復雜的鏈路環(huán)境，山西PCI-E測試項目