河南DDR一致性測試銷售價格

在實際探測時，對于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測試。DQ信 號是單端信號，所以用差分或者單端探頭測試都可以。另外，DQ信號的數(shù)量很多，雖然逐 個測試是嚴格的方法，但花費時間較多，所以有時用戶會選擇一些有代表性的信號進行測 試，比如選擇走線長度長、短、中間長度的DQ信號進行測試。

還有些用戶想在溫箱里對DDR信號質(zhì)量進行測試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對于使用的示波器探頭也是個挑戰(zhàn)。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作，在極端的溫度條件下探頭可能會被損壞。如果要在溫箱里對信號進行測試，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測量帶寬。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別？河南DDR一致性測試銷售價格

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。海南電氣性能測試DDR一致性測試DDR4 和 LPDDR4 合規(guī)性測試軟件。

對DDR5來說，設計更為復雜，仿真軟件需要幫助用戶通過應用IBIS模型針對基于 DDR5顆?；駾IMM的系統(tǒng)進行仿真驗證，比如仿真驅動能力、隨機抖動/確定性抖動、寄 生電容、片上端接ODT、信號上升/下降時間、AGC(自動增益控制)功能、4taps DFE(4抽頭 判決反饋均衡)等。

DDR的讀寫信號分離

對于DDR總線來說，真實總線上總是讀寫同時存在的。規(guī)范對于讀時序和寫時序的 相關時間參數(shù)要求是不一樣的，讀信號的測量要參考讀時序的要求，寫信號的測量要參考寫 時序的要求。因此要進行DDR信號的測試，第一步要做的是從真實工作的總線上把感興 趣的讀信號或者寫信號分離出來。JEDEC協(xié)會規(guī)定的DDR4總線的 一個工作時 序圖(參考資料： JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4),可以看到對于讀和寫信 號來說，DQS和DQ間的時序關系是不一樣的。

DDR總線概覽

從測試角度看，因為DQS和DQ都是三態(tài)信 號，在PCB走線上雙向傳輸。在讀操作時，DQS信號的邊沿在時序上與DQ的信號邊沿處對 齊，而在寫操作時，DQS信號的邊沿在時序上與DQ信號的中心處對齊，參考圖7-132,這給 測試驗證帶來了巨大的挑戰(zhàn)：把讀信號與寫信號分開是非常困難的！

址/命令總線是時鐘的上升沿有效，其中，命令由/CS （片選）、/RAS、 /CAS、/WE （寫使能）決定，比如讀命令為LHLH,寫命令為LHLL等。操作命令有很多， 主要是 NOP （空操作）、Active （）、Write> Read^ Precharge （Bank 關閉）、Auto Refresh 或Self Refresh （自動刷新或自刷新）等（詳細內(nèi)容請參考《Jedec規(guī)范JESD79）））。數(shù)據(jù)總 線由DQS的上升沿和下降沿判斷數(shù)據(jù)DQ的0與1。

DDR總線PCB走線多，速度快，時序和操作命令復雜，很容易出現(xiàn)失效問題，為此我 們經(jīng)常用示波器進行DDR總線的信號完整性測試和分析。通常的測試內(nèi)容包括：時鐘總線的 信號完整性測試分析；地址、命令總線的信號完整性測試分析；數(shù)據(jù)總線的信號完整性測試 分析。下面從這三個方面分別討論DDR總線的信號完整性測試和分析技術。 DDR DDR2 DDR3 DDR4 和 DDR5 內(nèi)存帶寬；

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。

參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據(jù)自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經(jīng)講過。 DDR-致性測試探測和夾具；河南DDR一致性測試銷售價格

DDR4/LPDDR4 一致性測試；河南DDR一致性測試銷售價格

DDR總線上需要測試的參數(shù)高達上百個，而且還需要根據(jù)信號斜率進行復雜的查表修 正。為了提高DDR信號質(zhì)量測試的效率，比較好使用御用的測試軟件進行測試。使用自動 測試軟件的優(yōu)點是：自動化的設置向導避免連接和設置錯誤；優(yōu)化的算法可以減少測試時 間；可以測試JEDEC規(guī)定的速率，也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率；自動讀/寫分離技 術簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統(tǒng)計的結果；能夠根據(jù)信號斜率自動計算建 立/保持時間的修正值。河南DDR一致性測試銷售價格