貴州SEM原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：在研究中也發(fā)現(xiàn)，由于光學(xué)金相顯微景深的限制，鑄造奧氏體不銹鋼的形變發(fā)生到一定程度后，在光學(xué)顯微鏡下看，還不等拉伸裂紋出現(xiàn)，試樣的表面就變得模糊不清，鐵素體相和奧氏體相難以區(qū)分，尤其是形變量大的區(qū)域，看上去漆黑一團(tuán)。因此，對(duì)形變量較大的鑄造奧氏體不銹鋼的斷裂裂紋的萌生與擴(kuò)展情況，適于采用景深較大的原位拉伸掃描電鏡進(jìn)行觀測(cè)。體視學(xué)顯微鏡由于其獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，能產(chǎn)生正立的具有立體感的三維空間像，具有較大的景深和放大倍數(shù)，成像清晰。掃描電鏡原位加載技術(shù)是觀測(cè)材料在拉伸作用下斷裂破壞行為很方便、直觀的觀測(cè)設(shè)備。貴州SEM原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

原位加載試驗(yàn)機(jī)：配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)材料在加載過(guò)程中微觀組織演化規(guī)律的在線表征；可實(shí)現(xiàn)單軸單獨(dú)測(cè)試，也可以實(shí)現(xiàn)雙軸比例、非比例加載測(cè)試；可增加水浴環(huán)境，可測(cè)試材料（如水浴、腐蝕環(huán)境）下的雙軸力學(xué)性能測(cè)試；選配視頻引伸計(jì)，實(shí)現(xiàn)雙軸應(yīng)變的非接觸測(cè)量；配合自主開(kāi)發(fā)的專業(yè)軟件，實(shí)現(xiàn)雙軸同步拉伸、循環(huán)、異步加載等其他試驗(yàn)方案。原位加載，確保試樣中心位置不變。搭配顯微觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)微觀組織在線觀測(cè)。雙軸單獨(dú)控制，可實(shí)現(xiàn)雙軸比例加載、雙軸非比例加載、單軸單獨(dú)加載。進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器。商業(yè)化的完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動(dòng)器，可擴(kuò)展性。貴州SEM原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理與原位加載附件配合后，就可實(shí)現(xiàn)材料動(dòng)態(tài)破壞過(guò)程細(xì)觀結(jié)構(gòu)的原位觀察技術(shù)。

基于掃描電鏡的原位加載裝置的制作方法：材料的宏觀破壞往往是由微觀失效累積引起的，比如金屬多晶材料，其破壞往往是從晶界斷裂開(kāi)始的，加之對(duì)于宏觀材料的宏觀力學(xué)性能研究已經(jīng)比較成熟，目前相關(guān)學(xué)者們將研究視野逐漸轉(zhuǎn)向了材料的微尺度力學(xué)性能研究，這必然要涉及到到微觀變形測(cè)量的問(wèn)題。實(shí)現(xiàn)微觀變形測(cè)量的關(guān)鍵在于提高測(cè)量的空間分辨率和位移靈敏度。近年來(lái)高分辨率顯微技術(shù)特別是掃描電鏡的發(fā)展，為微納米實(shí)驗(yàn)力學(xué)測(cè)量技術(shù)提供了前所未有的發(fā)展機(jī)遇，其空間分辨率高達(dá)納米量級(jí)。

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：基于新的顯微觀測(cè)技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用，并且體現(xiàn)出克服原位加載體視學(xué)顯微鏡缺陷的趨勢(shì)。環(huán)境掃描電鏡所特有的低真空和環(huán)境模式，使其可以對(duì)含水試樣在自然狀態(tài)下進(jìn)行觀察，不需對(duì)試樣進(jìn)行干燥和涂層處理，避免了在觀察前使試樣產(chǎn)生的一些人為改變。因此，環(huán)境掃描電鏡對(duì)觀測(cè)含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過(guò)程有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。在環(huán)境掃描電子顯微鏡樣品艙內(nèi)低真空模式下，對(duì)魚(yú)鱗云杉微切片試樣進(jìn)行原位縱向拉伸試驗(yàn)，并對(duì)原位監(jiān)測(cè)裂紋的產(chǎn)生、開(kāi)裂及擴(kuò)展的全過(guò)程進(jìn)行研究，同時(shí)記錄了載荷-時(shí)間曲線。分析了徑向面裂紋擴(kuò)展系統(tǒng)的斷裂路徑和機(jī)理?；谛碌娘@微觀測(cè)技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用。

原位加載設(shè)備:此產(chǎn)品是專門(mén)為X射線CT設(shè)備定制設(shè)計(jì)的緊湊型測(cè)試系統(tǒng)，可進(jìn)行原位的拉力、壓力、高低溫多種條件下的樣品原位CT掃描。機(jī)架采用模塊化設(shè)計(jì)，易于功能擴(kuò)展升級(jí)、維護(hù)，安裝運(yùn)輸方便，對(duì)載物臺(tái)無(wú)特殊要求，適合研究的樣品非常廣，包括材料、生物、巖土、電子器件等。特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)：1.引入時(shí)間維度，實(shí)現(xiàn)4DCT成像。2.單軸拉力/壓力適用于材料的力學(xué)試驗(yàn)分析。3.高溫/低溫適用于結(jié)構(gòu)對(duì)溫度敏感的樣品分析。4.采用閉環(huán)控制，實(shí)現(xiàn)高精度力學(xué)控制。5.實(shí)時(shí)繪制多種曲線，助力試驗(yàn)研究。6.多種保護(hù)功能，確保設(shè)備安全運(yùn)行。原位加載掃描電鏡對(duì)材料的性能,尋求提高材料力學(xué)性能的途徑，成為材料科學(xué)研究中的重要工作。浙江uTS原位加載設(shè)備銷售公司

掃描電鏡原位加載設(shè)備的真空系統(tǒng)有真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。貴州SEM原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

掃描電鏡原位加載設(shè)備：基本結(jié)構(gòu)：掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異，在電子束作用下通過(guò)試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號(hào)是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是很主要的成像信號(hào)。其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號(hào)，再利用不同的信號(hào)探測(cè)器接受物理信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息。掃描電鏡除能檢測(cè)二次電子圖像以外，還能檢測(cè)背散射電子、透射電子、特征x射線、陰極發(fā)光等信號(hào)圖像。其成像原理與二次電子像相同。在進(jìn)行掃描電鏡觀察前，要對(duì)樣品作相應(yīng)的處理。貴州SEM原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

研索儀器科技（上海）有限公司擁有儀器科技、計(jì)算機(jī)科技專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)，計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)工程(除專項(xiàng)審批)，銷售電子產(chǎn)品、機(jī)械設(shè)備、儀器設(shè)備、文化辦公用品，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)】等多項(xiàng)業(yè)務(wù)，主營(yíng)業(yè)務(wù)涵蓋光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)。一批專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，是實(shí)現(xiàn)企業(yè)戰(zhàn)略目標(biāo)的基礎(chǔ)，是企業(yè)持續(xù)發(fā)展的動(dòng)力。公司業(yè)務(wù)范圍主要包括：光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)等。公司奉行顧客至上、質(zhì)量為本的經(jīng)營(yíng)宗旨，深受客戶好評(píng)。公司憑著雄厚的技術(shù)力量、飽滿的工作態(tài)度、扎實(shí)的工作作風(fēng)、良好的職業(yè)道德，樹(shù)立了良好的光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)形象，贏得了社會(huì)各界的信任和認(rèn)可。