東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-10-26

各種射頻測(cè)試和微波自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展迅速,從測(cè)量放大器、接收機(jī)和發(fā)射機(jī)的射頻性能指標(biāo),到更為復(fù)雜的電磁環(huán)境測(cè)試,人們更多地依賴集成化的測(cè)試系統(tǒng)和自動(dòng)化測(cè)試軟件來(lái)完成:一方面,儀表廠商開(kāi)始重視各種模塊化的測(cè)試儀器,系統(tǒng)集成商則采用這些模塊化的儀表來(lái)開(kāi)發(fā)針對(duì)性極強(qiáng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng);另一方面,終到了應(yīng)用環(huán)節(jié),使用者只需輸入一些測(cè)試條件,然后輕點(diǎn)“開(kāi)始測(cè)試”的按鈕,系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)輸出測(cè)試結(jié)果。  隨之產(chǎn)生的一種現(xiàn)象是,年輕一代的從業(yè)者開(kāi)始不重視傳統(tǒng)儀表(如頻譜分析儀)復(fù)雜煩瑣的操作而更加注重測(cè)試結(jié)果。這一點(diǎn)筆者也有所體會(huì):在以往和用戶的交流中,經(jīng)常會(huì)討論如何設(shè)定頻譜儀的分辨率帶寬或者測(cè)量帶寬等參數(shù),以保證獲得更加精確的測(cè)試值;而近年來(lái)用戶則更加關(guān)注如何更加快速、有效地獲得他們所關(guān)心的終測(cè)試結(jié)果。  射頻測(cè)試探針主要應(yīng)用場(chǎng)景:射頻和微波模塊信號(hào)檢測(cè)和輸出;高頻電路板電氣性能分析;高速數(shù)字電路分析。東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng)

射頻

射頻測(cè)試主要測(cè)試什么?射頻測(cè)試分為內(nèi)帶外試驗(yàn)兩種,帶內(nèi)試驗(yàn)的范圍也有一定的差別,比如,帶內(nèi)試驗(yàn)主要是檢測(cè)信號(hào)的質(zhì)量,如功率、頻譜寬度、調(diào)制質(zhì)量,而帶外測(cè)試的是信號(hào)的雜散、諧波,主要是看對(duì)頻帶之外的干擾有多大。射頻測(cè)試是表示可以輻射到空間的電磁頻率,頻率范圍從300KHz~30GHz之間,射頻簡(jiǎn)稱RF,是高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱,其每秒變化小于1000次被稱為低頻電流,超過(guò)10000次的稱為高頻電流,而射頻就是這種高頻電流。廣州BLE射頻芯片測(cè)試射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜,以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。

東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng),射頻

做射頻測(cè)試工程師有什么要求呢?1、在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)初期對(duì)射頻硬件板卡進(jìn)行可測(cè)性分析,提出可測(cè)試性的建議,與研發(fā)共同確定單板(單元)的功能測(cè)試方案2、與研發(fā)人員共同開(kāi)發(fā)制造測(cè)試規(guī)格,根據(jù)臨界性能參數(shù),保證產(chǎn)品在規(guī)格公差內(nèi)是可以再生產(chǎn)的。3、設(shè)計(jì)/參與設(shè)計(jì)數(shù)字單板(單元)的功能測(cè)試軟硬件環(huán)境。4、提高單板(單元)的整體測(cè)試覆蓋率。5、協(xié)助系統(tǒng)測(cè)試開(kāi)發(fā)工程師解決系統(tǒng)測(cè)試時(shí)和單板(單元)相關(guān)的問(wèn)題,并根據(jù)系統(tǒng)測(cè)試的要求完善功能測(cè)試環(huán)境。6、協(xié)助結(jié)構(gòu)工程師進(jìn)行測(cè)試機(jī)框、夾具等的設(shè)計(jì)工作。7、根據(jù)產(chǎn)品性能和產(chǎn)能等產(chǎn)品化要求,完成單板(單元)的工序設(shè)計(jì)。8、編制和完善相關(guān)的測(cè)試工藝文件。9、按照模具、工裝夾具、程序、生產(chǎn)文檔等執(zhí)行試生產(chǎn)要求,完成產(chǎn)品的小批量試制和中試,及時(shí)反饋此過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題,并協(xié)助研發(fā)解決。

現(xiàn)代對(duì)于射頻測(cè)試中圓晶探針的設(shè)計(jì)將測(cè)試信號(hào)從一個(gè)三維媒質(zhì)(同軸電纜或矩形波導(dǎo))轉(zhuǎn)換到兩維(共面)探針的接觸上。這種操作需要對(duì)傳輸媒質(zhì)的特性阻抗Z0進(jìn)行仔細(xì)的處理,并且要在不同傳播模式之間進(jìn)行電磁能量的正確轉(zhuǎn)換。雖然晶片探針的輸入是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化同軸或波導(dǎo)界面,但它的輸出(探針極尖)則可以實(shí)現(xiàn)不同的設(shè)計(jì)概念。這些界面,特別是探針極尖,會(huì)將不連續(xù)性帶入到測(cè)量信號(hào)路徑中。這種不連續(xù)性本身會(huì)產(chǎn)生高階傳播模。因此,圓晶探針和DUT激勵(lì)必須只能支持單個(gè)準(zhǔn)-TEM傳。射頻測(cè)試,其實(shí)又可以分為接收機(jī)測(cè)試和發(fā)射機(jī)測(cè)試。

東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng),射頻

人們?cè)绮捎蒙漕l測(cè)試探針技術(shù)與現(xiàn)在的工具是很不相同的,早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖(wire tip)而逐漸收斂的50-Ω微帶線,通過(guò)探針基片上一個(gè)小孔而與被測(cè)器件(DUT)的壓點(diǎn)(pad)相接觸。此時(shí),其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時(shí)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)測(cè)量。雖然有可能通過(guò)校準(zhǔn)過(guò)程來(lái)剔除一個(gè)接觸線極尖相對(duì)較大的串聯(lián)電感的影響,但當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí),線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。高頻測(cè)量使用的極尖設(shè)計(jì)與用于直流和低頻測(cè)量的極尖不同,而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點(diǎn)。無(wú)線產(chǎn)品測(cè)試的領(lǐng)域有電磁兼容EMC測(cè)試、RF射頻測(cè)試等等,其中RF射頻測(cè)試是其中一個(gè)重要的測(cè)試領(lǐng)域。無(wú)錫RF射頻儀器

耦合測(cè)試主要就是模擬整機(jī)的一個(gè)使用環(huán)境,測(cè)試手機(jī)在天線環(huán)境下的射頻性能。檢測(cè)天線與主板之間的匹配性。東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng)

射頻測(cè)試的范圍有哪些?雷達(dá)、行波管、CATV接收機(jī)都屬于射頻測(cè)試的范圍。頻段主要是快速準(zhǔn)確的傳遞信息,克服了距離的障礙。它是無(wú)線通信的關(guān)鍵技術(shù),是傳遞信息的載體。射頻可以輻射到空間的電磁頻率,也稱為射頻系統(tǒng)。射頻是一種隨時(shí)間變化的時(shí)變電磁波。射頻無(wú)處不在,無(wú)論是WI-FI、藍(lán)牙、GPS、NFC(近場(chǎng)通信)等。是需要的?,F(xiàn)在射頻技術(shù)廣泛應(yīng)用于無(wú)線通信領(lǐng)域,如RFID、基站通信、衛(wèi)星通信等。在電磁場(chǎng)理論中,通電導(dǎo)體周?chē)鷷?huì)形成磁場(chǎng);交流電通過(guò)導(dǎo)體周?chē)鷷?huì)形成交變電磁場(chǎng),這也是電磁波的定義。

當(dāng)頻率低于100kHz時(shí),地球表面由于波長(zhǎng)較長(zhǎng),相當(dāng)于高損耗介質(zhì),電磁能量的快速衰減無(wú)法形成有效傳輸。當(dāng)頻率高于100kHz時(shí),電磁波波長(zhǎng)較短,可以在空氣中傳播很遠(yuǎn),并被電離層反射,形成遠(yuǎn)距離傳輸能力,所以我們把具有遠(yuǎn)距離傳輸能力的高頻電磁波稱為射頻。目前,射頻測(cè)試工程師是各種制造環(huán)境和先進(jìn)射頻產(chǎn)品項(xiàng)目中開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)不可或缺的一部分。 東莞智能音箱射頻測(cè)試系統(tǒng)