中山RF射頻模塊測(cè)試

自從無(wú)線電發(fā)射機(jī)誕生之日起，工程師們就開(kāi)始關(guān)心射頻測(cè)試中射頻功率測(cè)量的問(wèn)題，直到現(xiàn)在依然是個(gè)熱門(mén)話題。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線，還是教學(xué)里，功率測(cè)量都是必不可少的。在無(wú)線電發(fā)展初期，測(cè)試工程師所面對(duì)的大多數(shù)是連續(xù)波、調(diào)幅、調(diào)頻、調(diào)相或脈沖信號(hào)，這些信號(hào)都是有規(guī)律可循的。例如，連續(xù)波調(diào)頻或調(diào)相信號(hào)的功率測(cè)量都是很簡(jiǎn)單，只需要測(cè)量其平均功率;調(diào)幅信號(hào)功率與其調(diào)制深度有關(guān)，而脈沖信號(hào)的特性是以脈沖寬度和占空比來(lái)表達(dá)。對(duì)于以上這些模擬或模擬調(diào)制信號(hào)，射頻功率測(cè)量所關(guān)心的基本上都是平均功率和峰值功率。射頻測(cè)試性能包括發(fā)射/帶內(nèi)功率、調(diào)制一致性、帶內(nèi)雜散、發(fā)送頻譜密度以及相位噪聲等。中山RF射頻模塊測(cè)試

為什么我們需要射頻測(cè)試？由于全球射頻應(yīng)用眾多，因此有的涉及射頻能量的產(chǎn)品和系統(tǒng)必須在其電磁環(huán)境中運(yùn)行，并且不會(huì)將無(wú)法容忍的電磁干擾引入環(huán)境中。因此，在產(chǎn)品或系統(tǒng)投放市場(chǎng)之前，必須對(duì)其進(jìn)行射頻抗擾度和發(fā)射測(cè)試，才能在市場(chǎng)上更好地發(fā)揮它的作用。對(duì)于射頻抗擾度測(cè)試，設(shè)備暴露在射頻干擾和場(chǎng)中，其場(chǎng)強(qiáng)和頻率范圍在其操作環(huán)境中表示。當(dāng)對(duì)一臺(tái)設(shè)備進(jìn)行射頻發(fā)射測(cè)試時(shí)，在正常操作下，該設(shè)備會(huì)受到射頻干擾和場(chǎng)的檢測(cè)。南京射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)頻射無(wú)處不在，不管是WI-FI、藍(lán)牙、GPS、NFC（近距離無(wú)線通信）等等，都需要頻射。因此需要射頻測(cè)試。

射頻即RadioFrequency，通?？s寫(xiě)為RF。射頻測(cè)試是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱(chēng)?！ど漕l概念表示可以輻射到空間的電磁頻率，頻率范圍從300KHz～30GHz之間。射頻簡(jiǎn)稱(chēng)RF射頻就是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱(chēng)。每秒變化小于1000次的交流電稱(chēng)為低頻電流，大于10000次的稱(chēng)為高頻電流，而射頻就是這樣一種高頻電流。有線電視系統(tǒng)就是采用射頻傳輸方式。什么是射頻探針？射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。射頻同軸探針是一種測(cè)量裝置，用于電子測(cè)試設(shè)備，對(duì)硅片、管芯及開(kāi)放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。此外，射頻同軸探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專(zhuān)門(mén)校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。在手機(jī)終端中，重要的關(guān)鍵就是射頻芯片和基帶芯片。

一個(gè)傳統(tǒng)的射頻測(cè)試探針包括了以下幾個(gè)部分：測(cè)試儀器接口（同軸或是波導(dǎo)）從測(cè)試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)（CPW/MS等）轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。射頻器件是收發(fā)無(wú)線信號(hào)中的關(guān)鍵部件，遍布于各種通信場(chǎng)景，5G又進(jìn)一步推動(dòng)了射頻器件性能進(jìn)化。中山RFID射頻測(cè)試儀

射頻RF 測(cè)試有助于評(píng)估產(chǎn)品發(fā)出的輻射，這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。中山RF射頻模塊測(cè)試

無(wú)線通信系統(tǒng)中，一般包含有天線、射頻前端、射頻收發(fā)模塊以及基帶信號(hào)處理器四個(gè)部分。隨著5G時(shí)代的，天線以及射頻前端的需求量及價(jià)值均快速上升，射頻前端是將數(shù)字信號(hào)向無(wú)線射頻信號(hào)轉(zhuǎn)化的基礎(chǔ)部件，也是無(wú)線通信系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。按照功能，可將射頻前端分為發(fā)射端Tx以及接收端Rx。按照器件不同，射頻前端可分為功率放大器PA（發(fā)射端射頻信號(hào)放大）、濾波器filter（發(fā)射、接受端信號(hào)濾波）、低噪聲放大器LNA（接收端信號(hào)放大，降低噪聲）、開(kāi)關(guān)switch（不同通道切換）、雙工器duplexer（信號(hào)選擇，實(shí)現(xiàn)濾波匹配）、調(diào)諧器tuner（天線信號(hào)通道阻抗匹配）等。中山RF射頻模塊測(cè)試