南昌藍(lán)牙射頻芯片測(cè)試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-10-31

射頻測(cè)試對(duì)射頻進(jìn)行研究,那射頻能量有哪些用途呢?從電信到非通信應(yīng)用和醫(yī)療用途,RF 能量被納入眾多應(yīng)用中。電信可能是這種能源很常見和使用很廣的形式。它可以在無線電和電視廣播、警察和消防部門的無線電通信、業(yè)余無線電、微波點(diǎn)對(duì)點(diǎn)鏈路、蜂窩設(shè)備和衛(wèi)星通信中找到,舉幾例。在更具體的應(yīng)用(如醫(yī)療領(lǐng)域)中的射頻能量具有同樣指定的用途。MRI(磁共振成像)使用射頻波來生成人體圖像。射頻還用于破壞病細(xì)胞和進(jìn)行美容治,以收緊皮膚、減少脂肪或促進(jìn)皮膚細(xì)胞愈合。無線產(chǎn)品測(cè)試的領(lǐng)域有電磁兼容EMC測(cè)試、RF射頻測(cè)試等等,其中RF射頻測(cè)試是其中一個(gè)重要的測(cè)試領(lǐng)域。南昌藍(lán)牙射頻芯片測(cè)試

射頻

人們?cè)绮捎蒙漕l測(cè)試探針技術(shù)與現(xiàn)在的工具是很不相同的,早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖(wire tip)而逐漸收斂的50-Ω微帶線,通過探針基片上一個(gè)小孔而與被測(cè)器件(DUT)的壓點(diǎn)(pad)相接觸。此時(shí),其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時(shí)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)測(cè)量。雖然有可能通過校準(zhǔn)過程來剔除一個(gè)接觸線極尖相對(duì)較大的串聯(lián)電感的影響,但當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí),線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。高頻測(cè)量使用的極尖設(shè)計(jì)與用于直流和低頻測(cè)量的極尖不同,而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點(diǎn)。珠海智能音箱射頻靈敏度測(cè)試射頻前端是手機(jī)的關(guān)鍵器件,直接影響著手機(jī)的信號(hào)收發(fā)。

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自動(dòng)射頻測(cè)試系統(tǒng)用于硬件模塊和整機(jī)在生產(chǎn)或調(diào)試中測(cè)試,主要由射頻儀器完成各模塊在調(diào)試和生成工程中的綜合指標(biāo)測(cè)試工作。射頻系統(tǒng)涉及的性能指標(biāo)眾多,測(cè)試方法復(fù)雜,人工手動(dòng)測(cè)試往往存在效率低下,容易出錯(cuò)等問題。因此,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何盡可能地提高測(cè)試的自動(dòng)化程度,減少人工干擾,提高產(chǎn)品測(cè)試的穩(wěn)定性、可靠性和高效性也是測(cè)試平臺(tái)需考慮的重要因素。測(cè)試數(shù)據(jù)管理也是本平臺(tái)需重點(diǎn)關(guān)注的方面。由于不同的被測(cè)件,不同的測(cè)試指標(biāo)勢(shì)必會(huì)產(chǎn)生大量不同類型的測(cè)試數(shù)據(jù),如何對(duì)這些測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行有效管理,方便用戶對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析與挖掘,也是平臺(tái)設(shè)計(jì)時(shí)需考慮的關(guān)鍵點(diǎn)。

“空口測(cè)試”是由CTIA早制定的射頻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),那我們?yōu)槭裁匆鯫TA測(cè)試?首先是產(chǎn)品的認(rèn)證要求。包括國(guó)內(nèi)的電信入網(wǎng)測(cè)試要求,海外運(yùn)營(yíng)商GCF/PTCRB測(cè)試要求,北美CTIA測(cè)試要求等。其次產(chǎn)品研發(fā)需求。具有通信功能的產(chǎn)品通過OTA測(cè)試可以直接摸清產(chǎn)品射頻性能,基于此進(jìn)行評(píng)估或優(yōu)化;再者大型的電商平臺(tái)、物聯(lián)網(wǎng)平臺(tái)對(duì)OTA的測(cè)試要求。天貓、京東等電商平臺(tái),“米家”、“HiLink”等物聯(lián)網(wǎng)平臺(tái)都有對(duì)OTA測(cè)試要求?,F(xiàn)在的射頻測(cè)試越來越重要。射頻(RF)又稱射頻電流,表示可以輻射到空間的電磁頻率,頻率范圍在300kHz~300GHz之間。

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藍(lán)牙RF測(cè)試項(xiàng)目
BR 測(cè)試發(fā)射功率 功率控制 初始載波容限 載波漂移 單時(shí)隙靈敏度 多時(shí)隙靈敏度 調(diào)制特性 MAX輸入電平
EDR 測(cè)試相對(duì)發(fā)射功率 頻率穩(wěn)定性及調(diào)制精度 差分相位調(diào)制 靈敏度 BER靈敏度 MAX輸入電平

BLE 測(cè)試輸出功率 載波誤差及漂移 單時(shí)隙靈敏度 調(diào)制特性 Max輸入電平 PER完整性

藍(lán)測(cè)自動(dòng)化的一拖四藍(lán)牙耳機(jī)PCBA&成品射頻測(cè)試方案正是為此需求量身定制,UPH可達(dá)到380~420個(gè)/小時(shí)。

WIFI RF測(cè)試項(xiàng)目

1.發(fā)射機(jī)測(cè)試;輸出功率;鄰道漏功率比;2.功率譜密度;頻譜發(fā)射掩模;占用信道帶寬;3.頻率穩(wěn)定性/誤差;輻射帶邊緣;占空比;4.調(diào)制帶寬;在帶外或雜散域中發(fā)射無用發(fā)射;5.接收機(jī)測(cè)試;靈敏度;相鄰頻道/頻段選擇性;6.接收器雜散發(fā)射;接收機(jī)互調(diào);阻塞。

GSM RF測(cè)試項(xiàng)目
發(fā)射機(jī)輸出功率 發(fā)射機(jī)功率Vs時(shí)間模板 調(diào)制譜和開關(guān)譜 頻率誤差 峰值相位誤差 均方值相位誤差 靈敏度  接收質(zhì)量 接收誤碼率
WCDMA RF測(cè)試項(xiàng)目
最大發(fā)射功率 頻率誤差 峰占用帶寬 ACLR鄰信道泄露功率系數(shù) EVM誤差矢量幅度 Mask頻率發(fā)射模板  參考靈敏度
LTE測(cè)試項(xiàng)目
最大發(fā)射功率 頻率誤差 峰占用帶寬 ACLR鄰信道泄露功率系數(shù) EVM誤差矢量幅度 Mask頻率發(fā)射模板  參考靈敏度 射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中,需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見的信號(hào)形式。珠海智能音箱射頻靈敏度測(cè)試

射頻測(cè)試探針常見的用途之一是對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的元件和設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試。南昌藍(lán)牙射頻芯片測(cè)試

早起在射頻探針出現(xiàn)之前,由于沒有一種能夠在無需安裝或貼合狀態(tài)下對(duì)單片微波集成電路(MMIC)裝置進(jìn)行測(cè)試的簡(jiǎn)便方法,因此測(cè)試過程常常使得電路完整性遭到破壞,引發(fā)各種問題。早期的射頻探針使用的是共面陶瓷材料,而陶瓷不能太彎曲,因而壓觸的彈性范圍并不大,同時(shí)支持的射頻頻率也較低,首先出現(xiàn)的探針只覆蓋到18GHz。在差不多三十年的時(shí)間里,射頻探針技術(shù)便取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步,從低頻測(cè)量到適用多種應(yīng)用場(chǎng)合的商用方案:如在110GHz高頻和高溫環(huán)境進(jìn)行阻抗匹配,多端口,差分和混合信號(hào)的測(cè)量裝置,連續(xù)波模式中直到60W的高功率測(cè)量,以及直到1.1THz的太赫茲應(yīng)用,都能見到射頻探針的身影。南昌藍(lán)牙射頻芯片測(cè)試

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