惠州BLE射頻測(cè)試方案

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專(zhuān)門(mén)校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。無(wú)線產(chǎn)品測(cè)試的領(lǐng)域有電磁兼容EMC測(cè)試、RF射頻測(cè)試等等，其中RF射頻測(cè)試是其中一個(gè)重要的測(cè)試領(lǐng)域?；葜軧LE射頻測(cè)試方案

射頻測(cè)試的發(fā)展方向頻譜趨勢(shì)無(wú)線通信的市場(chǎng)需求持續(xù)加速，同時(shí)伴隨著向數(shù)據(jù)應(yīng)用的轉(zhuǎn)移，比如短信息、網(wǎng)絡(luò)瀏覽和GPS等應(yīng)用。這些應(yīng)用需要更高的數(shù)據(jù)傳輸率來(lái)實(shí)現(xiàn)更佳的用戶(hù)體驗(yàn)，這需要在有限的頻譜上采用新的傳輸方式。一些相當(dāng)有效率的調(diào)制方式和數(shù)字編碼算法得到了采用，與此對(duì)應(yīng)的是不斷提升的信號(hào)帶寬——從上世紀(jì)90年代的300kHz增長(zhǎng)到了現(xiàn)在的40MHz。也許日前無(wú)線通信技術(shù)的趨勢(shì)就是從單輸入單輸出（SISO）架構(gòu)到復(fù)雜的多輸入多輸出（MIMO）架構(gòu)的轉(zhuǎn)變?，F(xiàn)今的無(wú)線電設(shè)備多采用單發(fā)射機(jī)和單接收機(jī)的SISO架構(gòu)，信息在一個(gè)時(shí)間段采用單種數(shù)字符號(hào)在單一信道進(jìn)行傳輸?；葜菔謾C(jī)射頻信號(hào)測(cè)試射頻應(yīng)用中使用的傳輸線一般為與電路板連接的同軸線纜，以及設(shè)置于電路板內(nèi)部的微帶線。

從架構(gòu)上來(lái)看，一套完整的射頻系統(tǒng)包括射頻收發(fā)器、射頻前端、天線三個(gè)部分。射頻前端又包括功率放大器、包絡(luò)追蹤器、低噪聲放大器、濾波器、天線開(kāi)關(guān)、天線調(diào)諧器等多個(gè)組件。射頻前端各個(gè)組件的作用并不復(fù)雜。例如，放大器，就是把信號(hào)放大，讓信號(hào)傳得更遠(yuǎn)；濾波器，是把雜波去掉，讓信號(hào)更 “純凈”；天線開(kāi)關(guān)，用于控制天線的啟用與關(guān)閉；天線調(diào)諧器，主要作用是“擺弄”天線，獲得比較好的收發(fā)效果…數(shù)量眾多的射頻組件，相互配合，分工協(xié)作，就是為了完成“臨門(mén)一腳”，把基帶打包好的數(shù)據(jù)發(fā)射出去。

人們?cè)绮捎蒙漕l測(cè)試探針技術(shù)與現(xiàn)在的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖(wire tip)而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過(guò)探針基片上一個(gè)小孔而與被測(cè)器件(DUT)的壓點(diǎn)（pad）相接觸。此時(shí)，其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時(shí)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)測(cè)量。雖然有可能通過(guò)校準(zhǔn)過(guò)程來(lái)剔除一個(gè)接觸線極尖相對(duì)較大的串聯(lián)電感的影響，但當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí)，線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。高頻測(cè)量使用的極尖設(shè)計(jì)與用于直流和低頻測(cè)量的極尖不同，而且必須使50-Ω環(huán)境盡可能地接近于DUT壓點(diǎn)。藍(lán)牙射頻測(cè)試規(guī)范：調(diào)制方式、接收靈敏度、數(shù)據(jù)丟包率、天線方向性、通信距離、頻率偏移。

射頻測(cè)試中會(huì)有哪些專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)呢？如1、功率/電平（dBm）：放大器的輸出能力，一般單位為w、mw、dBm注：dBm是取1mw作基準(zhǔn)值，以分貝表示的功率電平。換算公式：電平（dBm）=10lgw5W→10lg5000=37dBm10W→10lg10000=40dBm20W→10lg20000=43dBm從上不難看出，功率每增加一倍，電平值增加3dBm2、增益（dB）：即放大倍數(shù)，單位可表示為分貝（dB）。即：dB=10lgA（A為功率放大倍數(shù)）3、插損：當(dāng)某一器件或部件接入傳輸電路后所增加的衰減，單位用dB表示。4、選擇性：衡量工作頻帶內(nèi)的增益及帶外輻射的抑制能力。-3dB帶寬即增益下降3dB時(shí)的帶寬，-40dB、-60dB同理。5、駐波比（回波損耗）：行駐波狀態(tài)時(shí)，波腹電壓與波節(jié)電壓之比（VSWR）等。手機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中使用的器件之間都是有差異的，如果這些差異超出標(biāo)準(zhǔn)范圍那就視為不良品。南昌RFID射頻信號(hào)測(cè)試

射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中，需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見(jiàn)的信號(hào)形式?；葜軧LE射頻測(cè)試方案

射頻測(cè)試適用于哪些產(chǎn)品呢？有以下幾種類(lèi)型的產(chǎn)品，可以用射頻測(cè)試來(lái)測(cè)試產(chǎn)品的1.短距離無(wú)線遙控產(chǎn)品（SRD）例如：遙控玩具、溫濕度傳輸器、無(wú)線鼠標(biāo)、無(wú)線鍵盤(pán)、遙控開(kāi)關(guān)、藍(lán)牙產(chǎn)品、智能穿戴設(shè)備、WiFi產(chǎn)品、無(wú)線遙控器、ZigBee，LoRa等.2.專(zhuān)業(yè)無(wú)線電遙控產(chǎn)品（PMR），例如：專(zhuān)業(yè)無(wú)線對(duì)講機(jī)、無(wú)線麥克風(fēng)、無(wú)線電話CTO、CT1、CT1+...ISDN（數(shù)字電話產(chǎn)品）、DECT（增強(qiáng)型數(shù)字無(wú)繩電話）、GSM、CDMA....等2.2G/3G/4G通信產(chǎn)品4.基站、直放站。惠州BLE射頻測(cè)試方案