自動(dòng)化射頻模塊測(cè)試

射頻測(cè)試中射頻探針的基本要求和工作原理：1）探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對(duì)于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì)，探針的接觸是用小的金屬球來(lái)實(shí)現(xiàn)的，這個(gè)金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2）為了能同時(shí)接觸到DUT的信號(hào)壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn)，需要將探針傾斜。這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“探針的平面化”。3）探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專(zhuān)門(mén)校準(zhǔn)方法的開(kāi)發(fā)。4）具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測(cè)量參考平面移向其極尖處。來(lái)自探針線和到同軸連接器的過(guò)渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過(guò)由射頻電纜和連接器的誤差相類(lèi)似的方式而抵消的。5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來(lái)很容易地預(yù)測(cè)模型參數(shù)。藍(lán)牙射頻測(cè)試配置包括一臺(tái)測(cè)試儀和被測(cè)設(shè)備DUT，兩者之間可以通過(guò)射頻線相連也可以通過(guò)天線耦合進(jìn)行測(cè)試。自動(dòng)化射頻模塊測(cè)試

在產(chǎn)品嚴(yán)重同質(zhì)化的現(xiàn)在，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。除了從設(shè)計(jì)上尋求突破，產(chǎn)品品質(zhì)也是各大廠商的另一個(gè)關(guān)注重點(diǎn)，具體到射頻硬件部分，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。 發(fā)射功率是手機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試的重要指標(biāo)之一，存在兩面性，一方面手機(jī)需要發(fā)射足夠高的功率以保證通信質(zhì)量，另一方面在保證通信質(zhì)量的前提下，發(fā)射功率越低越好，換言之，手機(jī)的發(fā)射功率需要根據(jù)實(shí)際情況被精確控制。接收靈敏度是接收機(jī)測(cè)試重要指標(biāo)之一，也是衡量接收機(jī)接收能力的重要體現(xiàn)，必須精確測(cè)試。贛州手機(jī)射頻測(cè)試公司射頻測(cè)試性能包括發(fā)射/帶內(nèi)功率、調(diào)制一致性、帶內(nèi)雜散、發(fā)送頻譜密度以及相位噪聲等。

    各種射頻測(cè)試和微波自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展迅速，從測(cè)量放大器、接收機(jī)和發(fā)射機(jī)的射頻性能指標(biāo)，到更為復(fù)雜的電磁環(huán)境測(cè)試，人們更多地依賴(lài)集成化的測(cè)試系統(tǒng)和自動(dòng)化測(cè)試軟件來(lái)完成：一方面，儀表廠商開(kāi)始重視各種模塊化的測(cè)試儀器，系統(tǒng)集成商則采用這些模塊化的儀表來(lái)開(kāi)發(fā)針對(duì)性極強(qiáng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)；另一方面，終到了應(yīng)用環(huán)節(jié)，使用者只需輸入一些測(cè)試條件，然后輕點(diǎn)“開(kāi)始測(cè)試”的按鈕，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)輸出測(cè)試結(jié)果。隨之產(chǎn)生的一種現(xiàn)象是，年輕一代的從業(yè)者開(kāi)始不重視傳統(tǒng)儀表（如頻譜分析儀）復(fù)雜煩瑣的操作而更加注重測(cè)試結(jié)果。這一點(diǎn)筆者也有所體會(huì)：在以往和用戶(hù)的交流中，經(jīng)常會(huì)討論如何設(shè)定頻譜儀的分辨率帶寬或者測(cè)量帶寬等參數(shù)，以保證獲得更加精確的測(cè)試值；而近年來(lái)用戶(hù)則更加關(guān)注如何更加快速、有效地獲得他們所關(guān)心的終測(cè)試結(jié)果。

為什么要進(jìn)行射頻測(cè)試？監(jiān)管機(jī)構(gòu)要求進(jìn)行射頻測(cè)試，以確?，F(xiàn)有設(shè)備不會(huì)受到新設(shè)備的干擾，并證明新設(shè)備對(duì)現(xiàn)有射頻環(huán)境具有抵抗力。此外，RF測(cè)試有助于評(píng)估產(chǎn)品發(fā)出的輻射，這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。什么是射頻(RF)?射頻或"RF" 能量是電磁能的一種形式，被定義為由發(fā)射天線發(fā)射的電能和磁能(無(wú)線電波)在空間中一起移動(dòng)的波。射頻(RF)測(cè)試模擬無(wú)線電和電信設(shè)備的功能和性能，以確保設(shè)備不僅會(huì)干擾無(wú)線電頻譜的其他用戶(hù)，還會(huì)驗(yàn)證無(wú)線電設(shè)備是否有效地使用無(wú)線電頻譜。通常還需要其他測(cè)試來(lái)驗(yàn)證您的設(shè)備是否符合當(dāng)?shù)仃P(guān)于電磁兼容性(EMC)、電氣安全和射頻暴露的法規(guī)。射頻測(cè)試電路性能，需要把信號(hào)傳導(dǎo)到某類(lèi)傳輸線上，需要至少兩個(gè)探針導(dǎo)體，即“信號(hào)導(dǎo)體”和“地導(dǎo)體”。

    手機(jī)消費(fèi)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈，射頻測(cè)試越來(lái)越嚴(yán)格，在產(chǎn)品嚴(yán)重同質(zhì)化的現(xiàn)在，除了從設(shè)計(jì)上尋求突破，產(chǎn)品品質(zhì)也是各大廠商的另一個(gè)關(guān)注重點(diǎn)，具體到射頻硬件部分，研發(fā)和生產(chǎn)階段的精確射頻測(cè)試是保障品質(zhì)的重要手段。發(fā)射功率是手機(jī)發(fā)射機(jī)測(cè)試的重要指標(biāo)之一，存在兩面性，一方面手機(jī)需要發(fā)射足夠高的功率以保證通信質(zhì)量，另一方面在保證通信質(zhì)量的前提下，發(fā)射功率越低越好，換言之，手機(jī)的發(fā)射功率需要根據(jù)實(shí)際情況被精確控制。接收靈敏度是接收機(jī)測(cè)試重要指標(biāo)之一，也是衡量接收機(jī)接收能力的重要體現(xiàn)，必須精確測(cè)試。典型的手機(jī)射頻測(cè)試系統(tǒng)由綜測(cè)儀、測(cè)試夾具、待測(cè)手機(jī)（DUT）組成。測(cè)試夾具把綜測(cè)儀和DUT連接起來(lái)，具有一定的插損，這個(gè)插損基本恒定不變。綜測(cè)儀的發(fā)射功率和接收機(jī)測(cè)量都具有不確定度，儀器廠家給出的技術(shù)指標(biāo)一般在，重復(fù)性小于，它們是一個(gè)統(tǒng)計(jì)特性，基于多臺(tái)儀器、各種不同的工作條件下和測(cè)試場(chǎng)景下得出的。那么對(duì)特定某一臺(tái)儀器，測(cè)試手機(jī)性能的不確定度是基本恒定的。夾具的插損和測(cè)試儀器的不確定度稱(chēng)為路徑的系統(tǒng)損耗，可以通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除。 頻射無(wú)處不在，不管是WI-FI、藍(lán)牙、GPS、NFC（近距離無(wú)線通信）等等，都需要頻射。因此需要射頻測(cè)試。贛州手機(jī)射頻測(cè)試公司

射頻測(cè)試是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱(chēng)。自動(dòng)化射頻模塊測(cè)試

射頻測(cè)試中的探針是一種測(cè)量裝置，用于電子測(cè)試設(shè)備，對(duì)硅片、管芯及開(kāi)放式微芯片中的電子電路射頻（RF）信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。此外，射頻探針還用于連接器組件中窄間距或高密度射頻互連應(yīng)用。對(duì)處于高頻工作狀態(tài)的元件和設(shè)備進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試一般會(huì)采用射頻測(cè)試探針。在某些情況下，一些射頻測(cè)試探針適用于測(cè)試比較高工作頻率達(dá)到數(shù)百GHz的毫米波電路。還有幾種類(lèi)型的射頻測(cè)試探針，可以通過(guò)焊接或以機(jī)械的方式連接到測(cè)試表面（通常是PCB的表面）。但它們只在這種高質(zhì)量和高成本的互連是必要的情況下使用，因?yàn)樗鼈兺ǔo(wú)法在不互連質(zhì)量的情況下撤回 。自動(dòng)化射頻模塊測(cè)試