四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-03

納米壓痕獲得的材料信息也比較豐富,既可以通過(guò)靜態(tài)力學(xué)性能測(cè)試獲得材料的硬度、彈性模量、斷裂韌性、相變(疇變) 等信息,也可以通過(guò)動(dòng)態(tài)力學(xué)性能測(cè)試獲得被測(cè)樣品的存儲(chǔ)模量、損耗模量或損耗因子等。另外,動(dòng)態(tài)納米壓痕技術(shù)還可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料微納米尺度存儲(chǔ)模量和損耗模量的模量成像(modulus mapping)。圖1 是美國(guó)Hysitron 公司生產(chǎn)的TI-900 Triboindenter 納米壓痕儀的實(shí)物圖。納米壓痕作為一種較通用的微納米力學(xué)測(cè)試方法,目前仍然有不少研究者致力于對(duì)其方法本身的改進(jìn)和發(fā)展。摩擦學(xué)測(cè)試在納米力學(xué)領(lǐng)域具有重要地位,為減少能源損耗提供解決方案。四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊

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納米力學(xué)(Nanomechanics)是研究納米范圍物理系統(tǒng)的基本力學(xué)(彈性,熱和動(dòng)力過(guò)程)的一個(gè)分支。納米力學(xué)為納米技術(shù)提供科學(xué)基礎(chǔ)。作為基礎(chǔ)科學(xué),納米力學(xué)以經(jīng)驗(yàn)原理(基本觀察)為基礎(chǔ),包括:一般力學(xué)原理和物體變小而出現(xiàn)的一些特別原理。納米力學(xué)(Nanomechanics)是研究納米范圍物理系統(tǒng)基本力學(xué)性質(zhì)(彈性,熱和動(dòng)力過(guò)程)的納米科學(xué)的一個(gè)分支。納米力學(xué)為納米技術(shù)提供了科學(xué)基礎(chǔ)。納米力學(xué)是經(jīng)典力學(xué),固態(tài)物理,統(tǒng)計(jì)力學(xué),材料科學(xué)和量子化學(xué)等的交叉學(xué)科。四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊通過(guò)納米力學(xué)測(cè)試,可以測(cè)量納米材料的彈性模量、硬度和斷裂韌性等力學(xué)性能。

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AFAM 的基本原理是利用探針與樣品的接觸振動(dòng)來(lái)對(duì)材料納米尺度的彈性性能進(jìn)行成像或測(cè)量。AFAM 于20 世紀(jì)90 年代中期由德國(guó)薩爾布呂肯無(wú)損檢測(cè)研究所的Rabe 博士(女) 首先提出,較初為單點(diǎn)測(cè)量模式。2000 年前后,她們采用逐點(diǎn)掃頻的方式實(shí)現(xiàn)了模量成像功能,但是成像的速度很慢,一幅128×128 像素的圖像需要大約30min,導(dǎo)致圖像的熱漂移比較嚴(yán)重。2005 年,美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局的Hurley 博士(女) 采用DSP 電路控制掃頻和探針的移動(dòng),將成像速度提高了4~5倍(一幅256×256 像素的圖像需要大約25min)。

即使源電阻大幅降低至1MW,對(duì)一個(gè)1mV的信號(hào)的測(cè)量也接近了理論極限,因此要使用一個(gè)普通的數(shù)字多用表(DMM)進(jìn)行測(cè)量將變得十分困難。除了電壓或電流靈敏度不夠高之外,許多DMM在測(cè)量電壓時(shí)的輸入偏移電流很高,而相對(duì)于那些納米技術(shù)[3]常常需要的、靈敏度更高的低電平DC測(cè)量?jī)x器而言,DMM的輸入電阻又過(guò)低。這些特點(diǎn)增加了測(cè)量的噪聲,給電路帶來(lái)不必要的干擾,從而造成測(cè)量的誤差。系統(tǒng)搭建完畢后,必須對(duì)其性能進(jìn)行校驗(yàn),而且消除潛在的誤差源。誤差的來(lái)源可以包括電纜、連接線(xiàn)、探針[5]、沾污和熱量。下面的章節(jié)中將對(duì)降低這些誤差的一些途徑進(jìn)行探討。納米力學(xué)測(cè)試可用于研究納米顆粒在膠體、液態(tài)等介質(zhì)中的相互作用行為。

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模塊化設(shè)計(jì)使系統(tǒng)適用于各種形貌樣品的測(cè)試需求及各種SEM/FIB配置,緊湊的外形設(shè)計(jì)適用于各種全尺寸的SEM/FIB樣品室。用戶(hù)可設(shè)計(jì)自定義的測(cè)試程序和測(cè)試模式:①FT-SH傳感器連接頭,其配置的4個(gè)不同型號(hào)的連接頭,可滿(mǎn)足各種不同的測(cè)試條件(平面外或者平面內(nèi)測(cè)試)和不同的測(cè)試距離。②FFT-SB樣品基座適配頭,其配置的4個(gè)不同型號(hào)的適配頭用來(lái)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)的高度和角度。③FT-ETB電學(xué)測(cè)試樣品臺(tái),包含2個(gè)不同的電學(xué)測(cè)試樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)樣品和納米力學(xué)測(cè)試平臺(tái)的電導(dǎo)通。④FT-S微力傳感探針和FT-G微鑷子,實(shí)現(xiàn)微納力學(xué)測(cè)試和微納操作組裝(按需額外購(gòu)買(mǎi))。納米力學(xué)測(cè)試在航空航天領(lǐng)域,為超輕、強(qiáng)度高材料研發(fā)提供支持。四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊

納米力學(xué)測(cè)試助力新能源材料研發(fā),提高能量轉(zhuǎn)換效率。四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊

分子微納米材料在超聲診療學(xué)中的應(yīng)用,分子影像可以非侵入性探測(cè)體內(nèi)生理和病理情況的變化,有利于研究疾病的病因、發(fā)生、發(fā)展及轉(zhuǎn)歸。近年來(lái)由于微納米技術(shù)的飛速發(fā)展,超聲分子影像也取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步。微納米材料具有獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn),可以負(fù)載多種藥物/分子、容易進(jìn)行理化修飾、可以進(jìn)行多重靶向運(yùn)輸?shù)?。通過(guò)與超聲結(jié)合可以介導(dǎo)血腦屏障的開(kāi)放,實(shí)現(xiàn)多模態(tài)成像、診療一體化、重癥微環(huán)境標(biāo)志物監(jiān)控和信號(hào)放大。進(jìn)一步研究應(yīng)著眼于其生物安全性,實(shí)現(xiàn)材料的無(wú)潛在致病毒性、無(wú)脫靶效應(yīng)及能進(jìn)行體內(nèi)代謝等,解決這些問(wèn)題將為疾病提供一種新的診療模式。四川紡織納米力學(xué)測(cè)試模塊