高校納米力學(xué)測試技術(shù)

來源: 發(fā)布時間:2024-07-27

用透射電鏡可評估微納米粒子的平均直徑或粒徑分布。該方法是一種顆粒度觀察測定的一定方法,因而具有可靠性和直觀性,在微納米材料表征中普遍采用。原子力顯微鏡的英文名為縮寫為AFM。AFM具有著自己獨(dú)特的優(yōu)勢。AFM對于樣品的要求較低,AFM的應(yīng)用范圍也較為寬廣。在進(jìn)行納米材料研究中,AFM能夠分析納米材料的表面形貌,AFM 可以同其他設(shè)備如相結(jié)合進(jìn)行微納米粒子的研究。實(shí)驗(yàn)需要進(jìn)行觀察、測量、記錄、分析等多項(xiàng)步驟,電子顯微技術(shù)的作用可以貫穿整個實(shí)驗(yàn)過程,所以電子顯微鏡的重要性不言而喻。納米力學(xué)測試可應(yīng)用于納米材料、生物材料、涂層等領(lǐng)域的研究和開發(fā)。高校納米力學(xué)測試技術(shù)

高校納米力學(xué)測試技術(shù),納米力學(xué)測試

光催化納米材料在水處理中的應(yīng)用,光催化微納米材料以將廢水中的有機(jī)污染物迅速轉(zhuǎn)化、分解為水和二氧化碳等無害物質(zhì),有效地提高了處理效率與處理質(zhì)量。人們常用的處理廢水中有機(jī)物的光催化微納米材料是N型半導(dǎo)體材料,較具表示性的是納米Ti02,Ti02的發(fā)現(xiàn)與應(yīng)用為污水中有害物質(zhì)與水的完全催化分解開辟了新的道路,且不會產(chǎn)生二次污染,具有很高的化學(xué)穩(wěn)定性與較廣的作用范圍。此外,在無機(jī)廢水的處理中,由于納米顆粒表面的無機(jī)物具有光化學(xué)活性,可以通過高氧化態(tài)吸附汞、銀等貴微納米材料在水處理中的應(yīng)用研究,不只消除了工業(yè)廢水的毒性,還可以從污水廢水中回收貴金屬。海南新能源納米力學(xué)測試儀納米力學(xué)測試可以應(yīng)用于納米材料的研究和開發(fā),以及納米器件的設(shè)計和制造。

高校納米力學(xué)測試技術(shù),納米力學(xué)測試

電子/離子束云紋法和電鏡掃描云紋法,利用電子/離子?xùn)|抗蝕劑制作出10000線/mm的電子/離子?xùn)|云紋光柵,這種光柵的應(yīng)用頻率范圍為40~20000線/mm,柵線的較小寬度可達(dá)到幾十納米。電鏡掃描條紋的倍增技術(shù)用于單晶材料納米級變形測量。其原理是:在測量中,單晶材料的晶格結(jié)構(gòu)由透射電鏡(TEM)采集并記錄在感光膠片上作為試件柵,以幾何光柵為參考柵,較終通過透射電鏡放大倍數(shù)與試件柵的頻率關(guān)系對上述兩柵的干涉云紋進(jìn)行分析,即可獲得單晶材料表面微小的應(yīng)變場。STM/晶格光柵云紋法,隧道顯微鏡(STM)納米云紋法是測量表面位移的新技術(shù)。測量中,把掃描隧道顯微鏡的探針掃描線作為參考柵,把物質(zhì)原子晶格柵結(jié)構(gòu)作為試件柵,然后對這兩組柵線干涉形成的云紋進(jìn)行納米級變形測量。運(yùn)用該方法對高定向裂解石墨的納米級變形應(yīng)變進(jìn)行測試,得到隨掃描范圍變化的應(yīng)變場。

常把納米力學(xué)當(dāng)納米技術(shù)的一個分支,即集中在工程納米結(jié)構(gòu)和納米系統(tǒng)力學(xué)性質(zhì)的應(yīng)用面。納米系統(tǒng)的例子,包括納米顆粒,納米粉,納米線,納米棍,納米帶,納米管,包括碳納米管和硼氮納米管,單殼,納米膜,納米包附,納米復(fù)合物/納米結(jié)構(gòu)材料(有納米顆粒分散在內(nèi)的液體),納米摩托等。納米力學(xué)一些已確立的領(lǐng)域是:納米材料,納米摩檫學(xué)(納米范疇的摩檫,摩損和接觸力學(xué)),納米機(jī)電系統(tǒng),和納米應(yīng)用流體學(xué)(Nanofluidics)。作為基礎(chǔ)科學(xué),納米力學(xué)是以經(jīng)驗(yàn)原理(基本觀察)為基礎(chǔ)。包括:1.一般力學(xué)原理;2.由于研究或探索的物體變小而出現(xiàn)的一些特別原理。通過納米力學(xué)測試,可評估納米材料在極端環(huán)境下的可靠性。

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納米科學(xué)與技術(shù)是近二十年來發(fā)展起來的一門前沿和交叉學(xué)科,納米力學(xué)作為其中的一個分支,對其他分支學(xué)科如納米材料學(xué)、物理學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等都有著重要的支撐作用。下面簡要介紹一下目前應(yīng)用較普遍的兩類微納米力學(xué)測試方法:納米壓痕方法和基于原子力顯微鏡的納米力學(xué)測試方法。納米壓痕是20 世紀(jì)90 年代初期快速發(fā)展起來的一種微納米力學(xué)測試方法,是研究微納米尺度材料力學(xué)性能的重要方法之一,在科研和工業(yè)領(lǐng)域都有著普遍的應(yīng)用。納米壓痕的壓入深度在一般在納米量級,遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)壓痕的微米或毫米量級。限于光學(xué)顯微鏡的分辨率,無法直接對納米壓痕的尺寸進(jìn)行精確測量。在進(jìn)行納米力學(xué)測試時,需要注意避免外界干擾和噪聲對測試結(jié)果的影響。江西工業(yè)納米力學(xué)測試設(shè)備

納米力學(xué)測試的結(jié)果對于預(yù)測納米材料在實(shí)際應(yīng)用中的表現(xiàn)具有重要參考價值。高校納米力學(xué)測試技術(shù)

與傳統(tǒng)硬度計算不同的是,A 值不是由壓痕照片得到,而是根據(jù) “接觸深度” hc(nm) 計算得到的。具體關(guān)系式需通過試驗(yàn)來確定,根據(jù)壓頭形狀的不同,一般采用多項(xiàng)式擬合的方法,比如針對三角錐形壓頭,其擬合結(jié)果為:A = 24.5 + 793hc + 4238+ 332+ 0.059+0.069+ 8.68+ 35.4+ 36. 9式中 “接觸深度”hc由下式計算得出:hc = h - ε P max/S,式中,ε是與壓頭形狀有關(guān)的常數(shù),對于球形或三角錐形壓頭可以取ε = 0.75。而S的值可以通過對載荷-位移曲線的卸載部分進(jìn)行擬合,再對擬合函數(shù)求導(dǎo)得出,即,式中Q 為擬合函數(shù)。這樣通過試驗(yàn)得到載荷-位移曲線,測量和計算試驗(yàn)過程中的載荷 P、壓痕深度h和卸載曲線初期的斜率S,就可以得到樣品的硬度值。該技術(shù)通過記錄連續(xù)的載荷-位移、加卸載曲線,可以獲得材料的硬度、彈性模量、屈服應(yīng)力等指標(biāo),它克服了傳統(tǒng)壓痕測量只適用于較大尺寸試樣以及只能獲得材料的塑性性質(zhì)等缺陷,同時也提高了硬度的檢測精度,使得邊加載邊測量成為可能,為檢測過程的自動化和數(shù)字化創(chuàng)造了條件。高校納米力學(xué)測試技術(shù)