光譜研究?jī)?nèi)容：分子振動(dòng)光譜的研究表明，許多振動(dòng)頻率基本上是分子內(nèi)部的某些很小的原子團(tuán)的振動(dòng)頻率，并且這些頻率就是這些原子團(tuán)的特征，而不管分子的其余的成分如何。這很像可見光區(qū)域色基的吸收光譜，這一事實(shí)在分子紅外吸收光譜的應(yīng)用中是很重要的。多年來都用來研究多原子分子結(jié)構(gòu)、分子的定量及定性分析等。在散射光譜學(xué)中，喇曼光譜學(xué)是較為普遍的光譜學(xué)技術(shù)。當(dāng)光通過物質(zhì)時(shí)，除了光的透射和光的吸收外，還觀測(cè)到光的散射。在散射光中除了包括原來的入射光的頻率外(瑞利散射和廷德耳散射)，還包括一些新的頻率。這種產(chǎn)生新頻率的散射稱為喇曼散射，其光譜稱為喇曼光譜。電腦多元素分析儀包含微機(jī)高速分析儀的所有功能；長(zhǎng)春冶金光譜分析儀銷售
當(dāng)原子從較高能級(jí)躍遷到基態(tài)或其它較低的能級(jí)的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長(zhǎng)的電磁波的形式輻射出去的。 每一條所發(fā)射的譜線的波長(zhǎng)，取決于躍遷前后兩個(gè)能級(jí)之差。由于原子的能級(jí)很多，原子在被激發(fā)后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應(yīng)遵循一定的規(guī)則(即“光譜選律”)，因此對(duì)特定元素的原子可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強(qiáng)度比例。光譜分析就是從識(shí)別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測(cè)定元素的含量(定量分析)。廣州光譜分析儀銷售碳硅分析儀又稱爐前鐵水成份分析儀，普遍用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量灰鐵、瑪鐵、球鐵、蠕鐵、低合金鑄鐵等。
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量。它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強(qiáng)度，I0為發(fā)射光強(qiáng)度，T為透射比，L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí)，因此，一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。能量較低的能級(jí)狀態(tài)稱為基態(tài)能級(jí)（E0=0），其余能級(jí)稱為激發(fā)態(tài)能級(jí)，而能較低的激發(fā)態(tài)則稱為一激發(fā)態(tài)。
功率分析儀的特點(diǎn)：工業(yè)社會(huì)的快速發(fā)展使對(duì)測(cè)量的準(zhǔn)確性、合理性和高效率提出了更高的要求，顯而易見，融合著現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)、網(wǎng)絡(luò)技術(shù)、通訊技術(shù)、自動(dòng)化技術(shù)等的數(shù)字化設(shè)備信息和數(shù)據(jù)的處理分析能力更強(qiáng)、智能化、自動(dòng)化程度更高，適應(yīng)日益復(fù)雜的現(xiàn)場(chǎng)電磁環(huán)境的能力更強(qiáng)，它必將成為測(cè)量系統(tǒng)中不可或缺的中心構(gòu)件。開發(fā)基于前端數(shù)字化的傳感器/變送器和效率更高、分析運(yùn)算能力更強(qiáng)的數(shù)字化測(cè)量二次設(shè)備也必然成為測(cè)試技術(shù)發(fā)展的主流方向。WP3000變頻功率分析儀在傳感器/變送器環(huán)節(jié)，即將被測(cè)信號(hào)數(shù)字化，傳感器/變送器與二次儀表之間采用數(shù)字光纖通訊，避免了信號(hào)傳輸環(huán)節(jié)的損失與干擾，并方便網(wǎng)絡(luò)化，智能化應(yīng)用。變頻功率分析儀的電流過載時(shí)間 3分鐘 I<2IN。
功率分析儀的特點(diǎn)：IEC指出：所有儀表和測(cè)量裝置的誤差都必須進(jìn)行實(shí)際測(cè)量，未經(jīng)測(cè)量，光是以其它測(cè)量中計(jì)算出來的和引用電壓、電流和功率因數(shù)組合的誤差，不能作為評(píng)價(jià)裝置基本誤差的依據(jù)。常規(guī)的測(cè)量方法是：電壓/電流傳感器先將高電壓/大電流信號(hào)變換為低電壓/小電流信號(hào)，再連接到分析儀，分析儀只測(cè)量低電壓和小電流信號(hào)。這種方式下，傳感器和分析儀及傳輸線路都會(huì)引入測(cè)量誤差，一方面加大了測(cè)量誤差，另一方面也使測(cè)量誤差不好預(yù)計(jì)。變頻功率分析儀，不論是低電壓、小電流還是高電壓、大電流信號(hào)，均可采用各種不同量程的變頻電量變送器直接連接一次回路，變送器直接輸出數(shù)字信號(hào)，二次儀表只是對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行必要的運(yùn)算，并不會(huì)增加誤差，這樣，引入誤差的環(huán)節(jié)只有一個(gè)，只需要對(duì)變頻電量變送器的誤差進(jìn)行試驗(yàn)，即可確定整個(gè)系統(tǒng)的誤差。微機(jī)多元素分析儀測(cè)試軟件功能齊全，能完全替代傳統(tǒng)化驗(yàn)室的各項(xiàng)手工書寫工作。蘭州金屬光譜分析儀報(bào)價(jià)
碳硅分析儀是便攜式的，可在爐臺(tái)上自由移動(dòng)，多臺(tái)爐子可同時(shí)使用一臺(tái)儀器。長(zhǎng)春冶金光譜分析儀銷售
功率分析儀的特點(diǎn)：前端數(shù)字化，IEC指出：將被測(cè)參量轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字量參數(shù)更為合理，原因在于對(duì)傳統(tǒng)模擬量輸出變送器的模擬量輸出要求是基于有局限的常規(guī)技術(shù)，并非依據(jù)使用被測(cè)參量信息的設(shè)備的實(shí)際需要。測(cè)量的目的是基于某種需要對(duì)被測(cè)量的信息進(jìn)行感知、分析和處理。其中心價(jià)值在于對(duì)測(cè)量行為所獲取的信息“分析和處理”的質(zhì)量。傳感器與二次儀表之間的模擬量傳輸線路，是引入電磁干擾的主要環(huán)節(jié)；同一電磁環(huán)境下，信號(hào)越小，傳輸線路越長(zhǎng)，受干擾程度越大。電磁環(huán)境日益復(fù)雜，經(jīng)實(shí)驗(yàn)室計(jì)量檢定的高精度測(cè)量裝置，受電磁干擾的影響，在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)不一定能夠發(fā)揮其應(yīng)有的精度特性，甚至不一定能夠正常運(yùn)行。長(zhǎng)春冶金光譜分析儀銷售
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