上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文

BR125低溫黑體輻射源/黑體爐溫度范圍寬廣，由-25～125℃內(nèi)任意一溫度點(diǎn)皆可隨需要調(diào)整。穩(wěn)定、重復(fù)的校正面板讓使用者能快速而準(zhǔn)確地校正及測試紅外線高溫計(jì)(紅外測溫儀)。黑體開孔直徑Φ50mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(jì)(紅外測溫儀)。系統(tǒng)另有RS-232或485的計(jì)算機(jī)通訊接口方便計(jì)算機(jī)控制設(shè)定溫度及自動測試。功能特點(diǎn)：●溫度范圍：-25～125℃●采用自動升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩(wěn)定性好、使用操作方便●使用雙排數(shù)字顯示測量值及設(shè)定值●緊湊而堅(jiān)固的設(shè)計(jì)、集校準(zhǔn)與測試的完美結(jié)合靶面式黑體爐的有效輻射面更大，但是散熱較快，不適宜和環(huán)境溫度相差較大。上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文

黑體輻射源的發(fā)展歷史:早期的黑體輻射源，結(jié)構(gòu)簡單，腔體材料多應(yīng)用碳硅化物、陶瓷或石墨，采用恒溫油槽或非均勻布置的加熱絲來取得均勻溫場，為取得較好的黑體輻射特性，開口孔徑都比較小。比較典型的有1960年由Bed-ford設(shè)計(jì)的工作于200℃的黑體爐，恒溫油均溫，光闌朝下，探測器可見內(nèi)表面溫差小于0.01℃，εn=0.998±0.001;1966年，由Clark和Moore設(shè)計(jì)的工作于1100～1325℃的黑體爐，加熱絲非均勻布置，空腔內(nèi)表面覆蓋鎳氧化層（Ni2O3）腔體式黑體爐質(zhì)保腔體式黑體爐的有效輻射面較小，且隱藏在體腔內(nèi)，更容易控制溫度。

由于是針對目標(biāo)響應(yīng)值相對大小關(guān)系的校正，這就使得一點(diǎn)校正法可以在目標(biāo)響應(yīng)值與校正測量值相近時的任何情況下都能較好地成像。例如，一種很常見的實(shí)現(xiàn)方式是在環(huán)境溫度、FPA溫度變化后，通過實(shí)時動態(tài)調(diào)節(jié)積分時間、全局偏置等參數(shù)，讓目標(biāo)響應(yīng)值回到與校正測量時相近的范圍內(nèi)，則成像一般不成問題，但這樣處理后將導(dǎo)致測溫算法復(fù)雜化甚至根本無法實(shí)現(xiàn)測溫功能。各廠家在一點(diǎn)校正法的工藝實(shí)現(xiàn)中，還有個普遍的謬誤：用高、低溫黑體爐作校正測量，但在應(yīng)用中卻是用的檔片機(jī)構(gòu)此時檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測量的情況比較接近，但內(nèi)檔片差得就很離譜了。

    隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計(jì)量方面的應(yīng)用。在光學(xué)方面，已經(jīng)普遍采用黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源和標(biāo)準(zhǔn)背景光源。在測量領(lǐng)域里，黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計(jì)量領(lǐng)域，主要是利用黑體輻射和溫度的對應(yīng)關(guān)系，因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。要求黑體的輻射能量按照光譜分布(也就是黑體光譜輻射能量、也稱為單色能量)都能符合普朗克定律，這樣我們在檢定或校準(zhǔn)輻射溫度計(jì)時，以黑體的溫度(或標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì))的示值，來修正輻射溫度計(jì)的偏差。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體，同時也要注意黑體腔口直徑，溫度均勻性和輻射溫度不確定度。 黑體爐使用操作簡單，不僅適合用于實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)，也可用于現(xiàn)場的校準(zhǔn)工作。

激光能量法具有幾下特點(diǎn)：a)激光輻射源本身的溫度可以很低，避免了現(xiàn)有黑體輻射源因本體材料的耐熱性導(dǎo)致的溫度上限不能超過3200℃的情況，因此溫度上限可以很高。由于采用激光器代替了黑體爐作為輻射源，其輸出的能量完全可以滿足輻射溫度計(jì)對高溫校準(zhǔn)的要求。b)使用方便。從鍵盤輸入輻射溫度計(jì)光學(xué)系統(tǒng)的通光孔徑r，輻射溫度計(jì)與被測目標(biāo)的距離R為1000mm時，目標(biāo)能夠輻射到輻射溫度計(jì)面積S，光學(xué)系統(tǒng)光譜范圍的上、下限波長λ1，λ2和溫度值T0i后，激光輻射源即可直接輸出對應(yīng)于溫度T0i的輻射能量φ0λ1，λ2(T0i)。c)激光能量法屬于***法校準(zhǔn)，不需要標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)。同時，也不同于一般的***法校準(zhǔn)，不需要定義固定點(diǎn)和內(nèi)插方程。采用標(biāo)準(zhǔn)激光功率計(jì)作為標(biāo)準(zhǔn)器，通過激光輻射源的輸出能量來獲得對應(yīng)于熱力學(xué)溫度T0的輻射能量φ0λ1，λ2(T0i)。標(biāo)準(zhǔn)激光功率計(jì)對激光輻射源的輸出能量進(jìn)行測量，并進(jìn)行自校準(zhǔn)。因此不能籠統(tǒng)地以某一個黑體爐有效發(fā)射率值來評價腔體的好壞。國產(chǎn)黑體爐直銷價

腔體式黑體爐發(fā)射率至少可以做到0.99以上，市場上一些**黑體設(shè)備標(biāo)稱可以做到0.999。上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文

    黑體的主要功能是產(chǎn)生一定溫度下的標(biāo)準(zhǔn)輻射。因此在溫度計(jì)量中主要用于檢定各種輻射溫度計(jì)，如光學(xué)高溫計(jì)、紅外溫度計(jì)、紅外熱像儀等。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計(jì)量方面的應(yīng)用。在光學(xué)方面，已經(jīng)普遍采用黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源和標(biāo)準(zhǔn)背景光源。在測量領(lǐng)域里，黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計(jì)量領(lǐng)域，主要是利用黑體輻射和溫度的對應(yīng)關(guān)系，因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。要求黑體的輻射能量按照光譜分布（也就是黑體光譜輻射能量、也稱為單色能量）都能符合普朗克定律，這樣我們在檢定或校準(zhǔn)輻射溫度計(jì)時，以黑體的溫度（或標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計(jì)）的示值，來修正輻射溫度計(jì)的偏差。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體，同時也要注意黑體腔口直徑，溫度均勻性和輻射溫度不確定度。在光學(xué)應(yīng)用中，通常要求輻射源的輻射面積較大，但是溫度不高，只關(guān)注輻射面的溫度均勻性而不一定關(guān)注輻射能量與溫度對應(yīng)的準(zhǔn)確性，因此選擇面源黑體較多。 上海國產(chǎn)黑體爐凱爾文