江西pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試服務(wù)電話(huà)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-14

表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試是通過(guò)在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn),觀察線(xiàn)路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以用來(lái)評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問(wèn)題,也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì),通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí),在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓,電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下,離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)(陰極向陽(yáng)極轉(zhuǎn)移),相對(duì)的電極還原成本來(lái)的金屬并析出樹(shù)枝狀金屬的現(xiàn)象(類(lèi)似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱(chēng)為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí),表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試可以通過(guò)電阻值顯現(xiàn)出來(lái)。CAF測(cè)試——電路板離子遷移測(cè)試的有效方法!江西pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試服務(wù)電話(huà)

電阻測(cè)試

溫度電阻測(cè)試是一種特殊的電阻測(cè)試方法,用于測(cè)量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時(shí)會(huì)發(fā)生變化,這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導(dǎo)致的。溫度電阻測(cè)試可以通過(guò)在待測(cè)電阻上施加一個(gè)恒定的電流或電壓,然后測(cè)量電路中的溫度來(lái)計(jì)算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。還有一些其他的電阻測(cè)試方法,例如噪聲電阻測(cè)試、頻率電阻測(cè)試等。噪聲電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻中的噪聲水平,以評(píng)估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻在不同頻率下的變化,以評(píng)估電路的頻率響應(yīng)特性。這些電阻測(cè)試方法在特定的應(yīng)用場(chǎng)景中具有重要的意義,可以幫助工程師優(yōu)化電路設(shè)計(jì)和改進(jìn)產(chǎn)品性能。湖南電阻測(cè)試訂做價(jià)格智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測(cè)試。

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1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線(xiàn),連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。

從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過(guò)放大鏡進(jìn)行直觀的判斷;而CAF只能通過(guò)破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線(xiàn)路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴(lài)度,故越來(lái)越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試,如航空產(chǎn)品、汽車(chē)產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴(lài)度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類(lèi)、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導(dǎo)致ECM或CAF的生成,便會(huì)造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類(lèi)的含量、銅皮上的鉻含量、樹(shù)脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對(duì)絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目,可以大幅提升高密度電路板的信賴(lài)性。在電子設(shè)備制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。

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Sir電阻測(cè)試可以應(yīng)用于各種不同的電路中。無(wú)論是簡(jiǎn)單的電路還是復(fù)雜的電路,都可以使用Sir電阻測(cè)試來(lái)測(cè)量電阻值。這種測(cè)試方法不僅適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,也適用于工業(yè)生產(chǎn)中。在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測(cè)試可以用來(lái)檢測(cè)電路中的故障,提高生產(chǎn)效率。除了測(cè)量電阻值,Sir電阻測(cè)試還可以用來(lái)檢測(cè)電路中的其他問(wèn)題。例如,它可以用來(lái)檢測(cè)電路中的短路和斷路。通過(guò)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化,可以判斷電路中是否存在短路或斷路問(wèn)題。這種測(cè)試方法可以幫助工程師快速定位電路中的問(wèn)題,并進(jìn)行修復(fù)。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。廣西直銷(xiāo)電阻測(cè)試以客為尊

產(chǎn)生離子遷移的原因,是當(dāng)絕緣體兩端的金屬之間有直流電場(chǎng)時(shí),這兩邊的金屬就成為兩個(gè)電極。江西pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試服務(wù)電話(huà)

離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計(jì)方面:越小的距離(孔~孔、線(xiàn)~線(xiàn)、層~層、孔~線(xiàn)間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計(jì)方案;(當(dāng)然重點(diǎn)還是必須符合客戶(hù)要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時(shí),會(huì)造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項(xiàng)受客戶(hù)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的制約;產(chǎn)品的防濕保護(hù)設(shè)計(jì);解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計(jì),如涉及海運(yùn),建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;江西pcb離子遷移絕緣電阻測(cè)試服務(wù)電話(huà)