江西SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)

1、電化學(xué)遷移(ECM)電化學(xué)遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導(dǎo)體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。2、導(dǎo)電陽極絲(CAF)目前公認的CAF成因是銅離子的電化學(xué)遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內(nèi)部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑產(chǎn)生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個簡單而且容易測量的指標，絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場強度以及樣品處理等。絕緣失效通?？赡馨l(fā)生在PCB表面或者內(nèi)部,前者多見于電化學(xué)遷移(ECM)或化學(xué)腐蝕,后者則多見于導(dǎo)電陽極絲(CAF)。1、電化學(xué)遷移(ECM)電化學(xué)遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運動。在潮濕條件下,金屬離子會在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當枝晶連接兩種導(dǎo)體時,便造成了短路,而且枝晶會因電流驟增而發(fā)生熔斷。HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試，是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。江西SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)

從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進行微觀條件下的分析；ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來越多的產(chǎn)品被要求進行ECM/SIR/CAF測試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因為這些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管，導(dǎo)致ECM或CAF的生成，便會造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙；藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度（防焊前處理），這些對絕緣劣化影響很大的項目，可以大幅提升高密度電路板的信賴性。江西pcb板電阻測試服務(wù)用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估。

1、保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。

CAF發(fā)生的原理離子遷移現(xiàn)象是由溶液和電位等相關(guān)電化學(xué)現(xiàn)象引起的，尤其是在高密度電子產(chǎn)品中，材料與周圍環(huán)境相互影響，導(dǎo)致離子遷移現(xiàn)象發(fā)生，形成CAF通路第一階段的基本條件是有金屬鹽類存在以及有潮濕或蒸汽壓存在，這兩個條件都不可或缺。當施加電壓或偏壓時，便會產(chǎn)生第二階段的CAF增長。其中，測試的溫濕度越高，吸附的水分越多，生長得就越快；電壓越高，加快電極反應(yīng)，CAF生長得越快；PH值越低，越易發(fā)生CAF；基材的吸水率越高，越易發(fā)生CAF。影響因素：電壓，材質(zhì)NO.2CAF發(fā)生的主要影響因素從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然，這將使絕緣體的絕緣性能下降甚至成為導(dǎo)體而造成短路故障。

4、在初始的絕緣電阻測量后關(guān)閉測試系統(tǒng)，使樣品在65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH、無偏壓的環(huán)境下靜置96個小時（±30分鐘）。96個小時（±30分鐘）的靜置期后，在每個菊花鏈網(wǎng)絡(luò)和地之間測試絕緣電阻。5、確認所有的測試樣品的連接是有效的，每個測試電路對應(yīng)適當?shù)南蘖麟娮琛Ｈ缓髮y試板與電源相連開始進行T/H/B部分的CAF測試。6、確認適當?shù)钠秒妷阂呀?jīng)被加載在樣品上進行周期性測試。為了比較不同內(nèi)層材料和制程的耐CAF性能，使用100V直流偏壓的標準CAF測試條件。為了確認測試結(jié)果與實際壽命之間的關(guān)系，第二個偏置電壓條件需要選擇給定的最高工作電壓的兩倍。當一個較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時，更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間，應(yīng)該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響，而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。7、在96個小時的靜置時間后，測試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。類型1-500V，通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測試速度快: 20ms/所有通道。陜西離子遷移電阻測試注意事項

防止發(fā)生離子遷移故障的一個重要措施當然是要保持使用環(huán)境的干燥。江西SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)

在選擇智能電阻時，用戶需要考慮一些關(guān)鍵因素。首先是精度和穩(wěn)定性，用戶需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求選擇適合的精度和穩(wěn)定性要求。其次是測量范圍和分辨率，用戶需要根據(jù)待測電阻的范圍選擇合適的智能電阻。此外，用戶還需要考慮智能電阻的接口和通信方式，以便與其他設(shè)備進行連接和數(shù)據(jù)傳輸。智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件，具有高精度、便捷操作和豐富功能的特點。它在電子工程中的應(yīng)用越來越，為電阻測試提供了更加準確和便捷的解決方案。在選擇智能電阻時，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、測量范圍和接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。江西SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)