從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過放大鏡進行直觀的判斷;而CAF只能通過破壞性的切片進行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產品的特性,而大多數的高階電子產品也需要較高的信賴度,故越來越多的產品被要求進行ECM/SIR/CAF測試,如航空產品、汽車產品、醫(yī)療產品、服務器等,以確保產品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴度的***,因此高密度電子產品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因為這些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導致ECM或CAF的生成,便會造成產品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對絕緣劣化影響很大的項目,可以大幅提升高密度電路板的信賴性。表面絕緣阻抗(SIR)測試數據可以直接反映PCBA的表面清潔度(包括加工、制造過程的殘留)。廣州CAF電阻測試原理
電阻測試是一種常見的電子測試方法,用于測量電路中的電阻值。在電子設備制造和維修過程中,電阻測試是非常重要的一環(huán)。然而,由于電阻測試設備的復雜性和使用技巧的要求,很多用戶在使用過程中會遇到各種問題。因此,提供質量的售后服務對于電阻測試設備的供應商來說至關重要。一個的電阻測試設備供應商應該提供詳細的產品說明和操作手冊。這些文檔應該包含設備的基本信息、使用方法、故障排除指南等內容。用戶可以通過閱讀這些文檔來了解設備的功能和使用方法,從而更好地使用設備。此外,供應商還可以提供在線視頻教程,幫助用戶更直觀地了解設備的使用方法。廣州CAF電阻測試原理,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無法加以確定。
離子遷移絕緣電阻測試廣泛應用于電子產品制造和質量控制過程中。它可以用于檢測電子元器件、印刷電路板、電子設備外殼等材料的質量。通過測試,可以及時發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常,從而采取相應的措施進行修復或更換,確保電子產品的質量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗、電壓加速試驗和絕緣電阻測量。濕度試驗是將材料置于高濕度環(huán)境中,通過觀察離子遷移現(xiàn)象來評估材料的質量。電壓加速試驗是在高電壓條件下進行離子遷移測試,以加速離子遷移速率,從而更快地評估材料的質量。絕緣電阻測量是通過測量材料的絕緣電阻值來評估材料的絕緣性能。
CAF發(fā)生的原理離子遷移現(xiàn)象是由溶液和電位等相關電化學現(xiàn)象引起的,尤其是在高密度電子產品中,材料與周圍環(huán)境相互影響,導致離子遷移現(xiàn)象發(fā)生,形成CAF通路第一階段的基本條件是有金屬鹽類存在以及有潮濕或蒸汽壓存在,這兩個條件都不可或缺。當施加電壓或偏壓時,便會產生第二階段的CAF增長。其中,測試的溫濕度越高,吸附的水分越多,生長得就越快;電壓越高,加快電極反應,CAF生長得越快;PH值越低,越易發(fā)生CAF;基材的吸水率越高,越易發(fā)生CAF。影響因素:電壓,材質NO.2CAF發(fā)生的主要影響因素一個的電阻測試設備供應商應該提供詳細的產品說明和操作手冊。
離子遷移絕緣電阻測試是一種常用的電子產品質量檢測方法。它通過測量材料的離子遷移速率和絕緣電阻值,來評估材料的質量和可靠性。離子遷移是指在電場作用下,材料中的離子在電極之間遷移的現(xiàn)象。離子遷移速率是評估材料質量的重要指標之一,因為離子遷移會導致電子產品的故障和損壞。離子遷移速率越高,材料的質量越差,對電子產品的可靠性影響也越大。絕緣電阻是指材料對電流的阻礙能力。絕緣電阻值越高,材料的絕緣性能越好,對電子產品的保護作用也越強。絕緣電阻測試可以幫助檢測材料的絕緣性能,從而評估材料的質量和可靠性。電阻測試設備比較復雜。SIR和CAF電阻測試服務
智能電阻可以直接通過連接到計算機或移動設備上進行測試。廣州CAF電阻測試原理
一、產品特點1.**溫度監(jiān)測系統(tǒng),使測試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗箱。2.采用高可靠性、高精度的測試儀器,并經過CE認證,在計量方面均可溯源到國際標準。3.面向用戶開發(fā)的測試軟體,充分滿足不同用戶的獨特要求,使測試軟體的操作介面更完善、更方便。4.模組式的測試系統(tǒng)結構,使維修方便、快捷;具有良好的可擴展性。5.采用反應時間小于3毫秒并且壽命高達1000萬次的開關控制系統(tǒng),確保測試的可靠性。6.**的UPS供電系統(tǒng),使測試系統(tǒng)能夠保證測試資料的可靠性,可以保證在突然斷電時測量資料不丟失。7.細小的模塊外接插頭,使每個插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗的通孔。二、設計原理導通電阻的測試方式是先對被測物體施加一個恒定直流電流,再準確測量出該被測物上的電壓,根據歐姆定律換算出電阻值;對于測試小電阻時,由于測試引線上存在一定的電阻,該引線電阻會嚴重影響到測量的精度,為此,需要通過四線測試模式來達到在測試過程中消除引線電阻所帶來的測試誤差。廣州CAF電阻測試原理