廣州維柯多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-(2000/5000),測試電壓高達2000V/5000V可選精度高:1x106-1x109Ω≤±2%;取值速度快:20ms/所有通道;限流電阻:每個通道設有1MΩ限流電阻,保護金屬絲晶體做失效分析;配置靈活:模塊化設計,可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;測試配置靈活:每塊模塊可設置不同的測試電壓,可同時完成多工況測試;授權手機APP可以遠程進行相關管理、操作,查看樣品監(jiān)測數據;操作方便:充分考慮實驗室應用場景,方便工程師實施工作;數據可曲線顯示;配不間斷電源UPS;接口友好:軟件可定制,或開放數據接口,或接入實驗室LIMS系統(tǒng);其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣體向另一邊的金屬(陰極)遷移。廣西表面絕緣電阻測試注意事項
J-STD-004B要求使用65°C,相對濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時以后進行測試。然后施加低電壓進行500小時的測試。測試結束時,在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個測試結果可以定義助焊劑等級是L、M還是H,電化學遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評估表面電化學遷移的傾向性。助焊劑會涂敷在下圖1所示的標準測試板上。標準測試板是交錯梳狀設計,并模擬微電子學**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進行加熱。為了能通過測試,高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內,以促進梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實驗開始和結束時的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時,測試結果視為通過。也就是說,通常測試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。湖北SIR表面絕緣電阻測試注意事項一個的電阻測試設備供應商應該提供詳細的產品說明和操作手冊。
選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質量和售后服務。品牌通常具有豐富的經驗和技術,能夠提供高質量的產品和專業(yè)的技術支持。電阻測試配件是電子行業(yè)中不可或缺的測試工具,它的準確性和穩(wěn)定性對于電子產品的制造和維修至關重要。在選擇電阻測試配件時,需要考慮準確性、穩(wěn)定性、適用范圍和品牌信譽等因素。只有選擇合適的配件,才能保證電子產品的質量和性能。廣州維柯多通道SIR-CAF表面絕緣電阻電阻測試配件的穩(wěn)定性也是一個重要的考慮因素。穩(wěn)定的測試配件可以保證測試結果的一致性,減少誤差的發(fā)生。不同的電子產品對電阻測試配件的要求不同,因此需要根據實際需求選擇適用范圍的配件。一般來說,具有多種電阻值可選的配件更加靈活和實用。選擇品牌的電阻測試配件可以保證其質量和售后服務。
在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染,做好標記,用無污染手套移動樣品。做好預先準備,防止短路和開路。清潔后連接導線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進行預處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結果有0.5到1.0decade的偏差。離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻(SIR)測試電阻值顯現(xiàn)出來。
當一個較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時,更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間,應該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響,而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。LK_ling:因為陽極導電絲是很細的,很容易被破壞掉。當50%的部分已經失效了,測試即可停止。當CAF發(fā)生時,電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網絡的阻值接近限流電阻的阻值時,顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中,并不需要調整電壓。9、500個小時的偏置電壓后(一共596個小時),像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后,可以進行額外的T/H/B條件。然而,**少要進行500小時加載偏置電壓的測試,來作為CAF測試的結果之一。系統(tǒng)標配≥256通道,可分為16組測試單元,同時測試16種不同樣品。江蘇SIR和CAF表面絕緣電阻測試
用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估。廣西表面絕緣電阻測試注意事項
一般而言,SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者,SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試(SIR測試)根據IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導體或接地設備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領域,SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路(即樹枝狀生長)導致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時,選擇用于測試的產品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。廣西表面絕緣電阻測試注意事項