萬用表采購

數(shù)字是德科技萬用表是由功能轉(zhuǎn)換器、A/D轉(zhuǎn)換器、LCD顯示器(液晶顯示器)、電源和功能/量程轉(zhuǎn)換開關(guān)等構(gòu)成的，其中A/D轉(zhuǎn)換器一般都采用ICL7106雙積分型A/D轉(zhuǎn)換器。ICL7106采用兩次積分，diyi次對(duì)輸入模擬信號(hào)V1積分，稱為采樣過程;第二次對(duì)基準(zhǔn)電壓積分-VEF積分，稱為比較過程。通過二進(jìn)制計(jì)數(shù)器對(duì)兩次積分過程進(jìn)行計(jì)數(shù)，轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，并以數(shù)字形式顯示出來。測(cè)量交流電壓、電流、電阻、電容、二極管正向壓降、晶體管放大系數(shù)等電量，必須增加相應(yīng)的轉(zhuǎn)換器，將被測(cè)電量轉(zhuǎn)換成直流電壓信號(hào)。實(shí)驗(yàn)室儀器使用和數(shù)字萬用表的應(yīng)用。萬用表采購

數(shù)字是德科技萬用表每秒鐘對(duì)被測(cè)電量的測(cè)量次數(shù)叫測(cè)量速率，其單位是“次/s”。它主要取決于 A/D 轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換速率。有的手持式數(shù)字是德科技萬用表用測(cè)量周期來表示測(cè)量的快慢。完成一次測(cè)量過程所需要的時(shí)間叫測(cè)量周期。 測(cè)量速率與準(zhǔn)確度指標(biāo)存在著矛盾，通常是準(zhǔn)確度愈高，測(cè)量速率愈低，二者難以兼顧。解決這一矛盾可在同一塊是德科技萬用表設(shè)置不同的顯示位數(shù)或設(shè)置測(cè)量速度轉(zhuǎn)換開關(guān)：增設(shè)快速測(cè)量檔，該檔用于測(cè)量速率較快的 A/D 轉(zhuǎn)換器；通過降低顯示位數(shù)來大幅度提高測(cè)量速率，此法目前應(yīng)用的比較普通，可滿足不同用戶對(duì)測(cè)量速率的需要。萬用表能測(cè)功率嗎用是德科技萬用表判斷三極管管腳。

與手持式或低性能數(shù)字是德科技萬用表相比，高性能數(shù)字是德科技萬用表具有特定的測(cè)量漂移。在許多不需要高性能數(shù)字是德科技萬用表分辨率的情況下，溫度和時(shí)間上的低漂移可能是選擇高性能數(shù)字是德科技萬用表的主要原因。如果在較長的時(shí)間內(nèi)和/或在較大的溫度范圍內(nèi)需要保證jue對(duì)精度，則使用合適的源校準(zhǔn)的高性能數(shù)字是德科技萬用表可以將校準(zhǔn)間隔延長到數(shù)年。在許多情況下，每年使用低性能是德科技萬用表所花的校準(zhǔn)費(fèi)用節(jié)省下來將在產(chǎn)品的使用壽命內(nèi)多次覆蓋高性能DMM的額外成本。

由于數(shù)字是德科技萬用表是通過斷續(xù)的方式進(jìn)行測(cè)量顯示的，因此不便于觀察被測(cè)電量的連續(xù)變化過程及其變化的趨勢(shì)。比如，數(shù)字是德科技萬用表檢驗(yàn)電容器的充電過程、熱敏電阻阻值隨溫度變化的規(guī)律，以及觀察光敏電阻阻值隨光照的變化特性等，就不如模擬是德科技萬用表方便、直觀。在工作原理上，模擬是德科技萬用表和數(shù)字是德科技萬用表也有所不同，模擬是德科技萬用表內(nèi)部結(jié)構(gòu)中有表頭、電阻、電池，其中表頭一般采用磁電式直流微安表。只有測(cè)量電阻時(shí)，要用上其內(nèi)部電池，電池的正極接黑表筆，因而電流從黑表筆流出，紅表筆流入。測(cè)量直流電流時(shí)，通過換檔接上并聯(lián)電阻來分流，因?yàn)楸眍^的滿偏電流很小，所以采用分流電阻來擴(kuò)大量程。測(cè)量直流電壓時(shí)，在表頭上串聯(lián)電阻，通過不同的附加電阻來實(shí)現(xiàn)不同量程的轉(zhuǎn)換。是德科技萬用表的使用教程。

應(yīng)注意，儀表在電阻擋及檢測(cè)二極管、檢查線路通斷時(shí)，紅表筆插入“V/Ω”孔，為高電位:黑表筆插入“COM”孔，為低電位。當(dāng)利量品體管、電解電容等有極性的電子元器件時(shí)，必須注意表筆的極性。 (4)電容的測(cè)量 將量程開關(guān)撥至CAP擋相應(yīng)量程，旋動(dòng)零位調(diào)節(jié)旋鈕，使初始值為0，然后將電容直接插入電容測(cè)試座中，這時(shí)顯示器上將顯示其電容量。測(cè)量時(shí)兩手不得碰觸電容的電極引線或表筆的金屬端，否則數(shù)字是德科技萬用表將跳數(shù)，甚至過載。在大多數(shù)情況下，數(shù)字是德科技萬用表的損壞是因測(cè)量擋位錯(cuò)誤造成的。如在測(cè)量交流市電時(shí)，測(cè)量擋位選擇置于電阻擋，這種情況下表筆一旦接觸市電電壓，瞬間即可造成是德科技萬用表內(nèi)部元件損壞。因此，在使用是德科技萬用表測(cè)量前一定要先檢查測(cè)量擋位是否正確。在使用完畢，將測(cè)量選擇置于交流750V或者直流1000V處，Keysight數(shù)字萬用表操作指南。萬用表測(cè)電阻原理

萬用表對(duì)二極管檢測(cè)。萬用表采購

高性能數(shù)字是德科技萬用表采用集成模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）。對(duì)于先進(jìn)的積分變換器，在現(xiàn)有的設(shè)計(jì)中增加一位的分辨率需要將積分時(shí)間加倍，或者重新設(shè)計(jì)電路，使其工作速度提高一倍。通過重新設(shè)計(jì)電路來增加額外的比特?cái)?shù)會(huì)遇到注入噪聲和復(fù)雜性的問題。將積分時(shí)間加倍會(huì)導(dǎo)致轉(zhuǎn)化率減半，而且很多時(shí)候積分時(shí)間會(huì)從噪聲*低的轉(zhuǎn)換器“*佳點(diǎn)”移出。 “*佳點(diǎn)”是將積分時(shí)間設(shè)置為線頻率倍數(shù)的降噪和DMM的測(cè)量漂移（主要是由于內(nèi)部基準(zhǔn)電壓漂移）之間的平衡。大多數(shù)高性能數(shù)字是德科技萬用表在2到5行周期之間有一個(gè)*佳值。較長的積分時(shí)間通過平均輸入電壓來降低電路中的噪聲，但是由于基準(zhǔn)電壓漂移引起的誤差比噪聲的降低更大。漂移是由老化和1/f噪聲引起的。所看到的1/f噪聲的頻率將非常低，并且主要表現(xiàn)為漂移。數(shù)字是德科技萬用表可以設(shè)計(jì)成在讀取“*佳點(diǎn)”時(shí)分辨率更高，但要減少噪聲和偏離參考值的方法不多，從而限制了基于積分器的數(shù)字是德科技萬用表的積分時(shí)間和可能的分辨率。萬用表采購

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