GB/T 13540-2009地震試驗(yàn)

來源: 發(fā)布時間:2022-10-17

上海天梯檢測技術(shù)有限公司振動測試: 系統(tǒng)整機(jī)振動測試標(biāo)準(zhǔn) GBT2423.56 隨機(jī)振動&包裝振動 1.Test PSD1: 0.002G2/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G2/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G2/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振動 1.Test Acceleration: 2G 2.Test Frequency: 5-500Hz 3.Displacement: 4.4mm(peak-to-peak) 4.Sweep velocity: 1 Oct/min 5.Test Axis: X, Y, Z three axes 6.Test Time: 1 hour per axis 上海天梯檢測技術(shù)有限公司嚴(yán)格執(zhí)行國家GBT2423.56法規(guī)以及國際通用的法規(guī)。常見的地震測試有哪些?GB/T 13540-2009地震試驗(yàn)

GB/T 13540-2009地震試驗(yàn),地震

上海天梯檢測技術(shù)有限公司地震測試的目的: 地震發(fā)生時,通訊信號及電子產(chǎn)品都會被損害,提前對電子工業(yè)級及通訊設(shè)備的測試非常重要,其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個特點(diǎn)來加以說明。 首先,電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡單的,隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計算機(jī)以及宇航控制設(shè)備,復(fù)雜程度不斷地增長。其次,電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外,從熱帶到寒帶,從陸地到深海,從高空到宇宙空間,經(jīng)受著不同的環(huán)境條件,除溫度、濕度影響外,海水、鹽霧、沖擊、振動、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響,導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三,電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管,現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路,電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展,其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加,從而使內(nèi)部溫升增高,散熱條件惡化。軌道交通地震認(rèn)證一般的地震測試項(xiàng)目包含哪些內(nèi)容?

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上海天梯檢測技術(shù)有限公司地震試驗(yàn)?zāi)康模?1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺點(diǎn),評價產(chǎn)品地震達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況 2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息 3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行地震鑒定或驗(yàn)收 4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理 5.為改進(jìn)產(chǎn)品地震,制定和改進(jìn)地震試驗(yàn)方案,為用戶選擇用產(chǎn)品提供依據(jù)。 氣候環(huán)境地震試驗(yàn)項(xiàng)目:高溫、低溫、溫度沖擊(氣態(tài)及液態(tài))、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、高壓蒸煮、砂塵、鹽霧腐蝕、淋雨、太陽輻射、光老化等

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級(外殼防護(hù)試驗(yàn)): 外殼防護(hù)等級(IP代碼):GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機(jī))綜合 19、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 地震測試的主要內(nèi)容是什么呢?

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上海天梯檢測技術(shù)有限公司振動測試: 振動測試方法 首先: 先進(jìn)行隨機(jī)振動,將待測產(chǎn)品固定在振動平臺上,在開機(jī)狀態(tài)下,要求產(chǎn)品保持滿負(fù)載運(yùn)行,在X,Y,Z三個軸向中心各運(yùn)行1H檢測異常現(xiàn)象發(fā)生。 第二步: 正弦振動,在非開機(jī)狀態(tài)下尋找產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的危險頻率,在X,Y,Z三個軸向中心各運(yùn)行1H檢測異?,F(xiàn)象發(fā)生。在產(chǎn)品的研發(fā)階段,任何存在的隱藏問題都要被剔除,而正弦振動就是考量產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計的一劑猛藥。正弦振動可以輕易查找出產(chǎn)品存在共振現(xiàn)象時的共振點(diǎn),以此不但可以確定產(chǎn)品的危險頻率,還可以論證產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)完好性。 第三步: 為了覆蓋到常用的振動環(huán)境,天梯也專門定義了包裝振動的測試條件,采用帶包裝隨機(jī)振動的方式,模擬產(chǎn)品的包裝條件,將產(chǎn)品固定在平臺上進(jìn)行包裝振動的隨機(jī)振動測試,頻率為5~500Hz,總均方根加速度值2.16Grms,同樣是三軸向各1H的測試時間。地震測試具體怎么選擇呢?NB/T 20337-2015地震實(shí)驗(yàn)室

地震測試需要使用什么設(shè)備?GB/T 13540-2009地震試驗(yàn)

上海天梯檢測——輸入瞬態(tài)高壓測試 PFC電路采用平均值電路進(jìn)行過欠壓保護(hù),因此在輸入瞬態(tài)高壓時,PFC電路可能會很快實(shí)現(xiàn)保護(hù),從而造成損壞,測試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評估地震。 測試方法: A、額定電壓輸入,用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號,輸入電壓從限功率點(diǎn)加5V跳變?yōu)?00V,從示波器上讀出過壓保護(hù)**00V的周期數(shù)N,作為以下試驗(yàn)的依據(jù)。 B、額定輸入電壓,電源模塊帶滿載運(yùn)行,在輸入上疊加300V的電壓跳變,疊加的周期數(shù)為(N-1),疊加頻率為1次/30s,共運(yùn)行3小時。GB/T 13540-2009地震試驗(yàn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵精圖治、展望未來、有夢想有目標(biāo),有組織有體系的公司,堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明,攜手共畫藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的商務(wù)服務(wù)行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源,也收獲了良好的用戶口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ),也希望未來公司能成為*****,努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息,斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**上海天梯檢測技術(shù)供應(yīng)和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績,一直以來,公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針,員工精誠努力,協(xié)同奮取,以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場,我們一直在路上!