外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-03

進(jìn)行好的可靠性強(qiáng)化測(cè)試是為滿足用戶服務(wù)提升自身產(chǎn)品可靠性的需求,使得用戶能在實(shí)時(shí)的事業(yè)開展當(dāng)中來明確自身產(chǎn)品的基本屬性及故障間隔。從而能對(duì)測(cè)試所驗(yàn)收的結(jié)果進(jìn)行自行核對(duì)和處理,來確保提供到市場(chǎng)上的產(chǎn)品材料具有良好的使用屬性。此類強(qiáng)化測(cè)試的開展時(shí)期是在產(chǎn)品開發(fā)早期,能夠在測(cè)試開展的過程中針對(duì)產(chǎn)品的某一使用屬性來進(jìn)行監(jiān)測(cè)記錄。從而在測(cè)試的過程當(dāng)中便可以找出產(chǎn)品壽命與應(yīng)用之間的物理運(yùn)轉(zhuǎn)關(guān)系,讓產(chǎn)品投放到市場(chǎng)當(dāng)中就可以被提前預(yù)估來達(dá)到優(yōu)化產(chǎn)品組件配置的效果??煽啃詮?qiáng)化測(cè)試可以有效的解決了傳統(tǒng)可靠性的模擬時(shí)間長(zhǎng)、效率低、費(fèi)用大等方面的問題。外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),可靠性測(cè)試

可靠性試驗(yàn)與失效分析 可靠性是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一,它直接關(guān)系到電子儀器裝備的可用性,影響電子設(shè)備效能的發(fā)揮。上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供從元器件級(jí)別,到電路板/模塊級(jí)別,到整機(jī)系統(tǒng)級(jí)別的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械力學(xué)試驗(yàn)、產(chǎn)品性能檢測(cè),以及相關(guān)的失效分析服務(wù)。 可靠性測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目 高溫測(cè)試 跌落測(cè)試 低溫測(cè)試 壽命測(cè)試 高、低溫循環(huán)測(cè)試 跌落測(cè)試 冷熱沖擊測(cè)試 鹽霧實(shí)驗(yàn) 防火測(cè)試 電子產(chǎn)品性能測(cè)試 防水測(cè)試 大聲壓測(cè)試(EN50332) 防塵測(cè)試 音頻性能測(cè)試 老化實(shí)驗(yàn) 天線性能測(cè)試 振動(dòng)實(shí)驗(yàn) 太陽能光伏板(PV)性能測(cè)試外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)手機(jī)的可靠性標(biāo)準(zhǔn)是什么,有什么可靠性測(cè)試呢?

外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),可靠性測(cè)試

產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的環(huán)境都帶有一定的溫度、濕度,而且有些環(huán)境的溫度、濕度比較高。產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間處于這種較高的溫濕度環(huán)境下,性能、壽命會(huì)受到一定的影響。所以需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行恒溫恒濕測(cè)試,以了解產(chǎn)品這方面的性能,如果達(dá)不到要求,就需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的改進(jìn)。所以,可靠性恒溫恒濕測(cè)試的重要性可想而知。恒溫恒濕測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的一種環(huán)境可靠性測(cè)試,即模擬產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的溫濕度環(huán)境,檢驗(yàn)產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。恒溫恒濕一般為高溫高濕。

    MTBF驗(yàn)證實(shí)驗(yàn):MTBF是當(dāng)前各行業(yè)產(chǎn)品的重要可靠性指標(biāo),它標(biāo)識(shí)了產(chǎn)品的平均無故障工作時(shí)間。MTBF英文全稱是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量,是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來說,是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間,也稱為平均故障間隔。概括地說,產(chǎn)品故障少的就是可靠性高,產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”(Failurerate)。根據(jù)MTBF能計(jì)算產(chǎn)品的失效率(Failurerate)故障率(Failurerate):在單位時(shí)間內(nèi)(一般以年為單位),產(chǎn)品的故障總數(shù)與運(yùn)行的產(chǎn)品總數(shù)之比叫做故障率,常用λ表示。例如,共有100臺(tái)設(shè)備運(yùn)行,一年之內(nèi)出了2次故障,那么該設(shè)備的故障率為2/100=。當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布(見下圖)時(shí),故障率的倒數(shù)就是MTBF,即平均故障間隔時(shí)間。例如某產(chǎn)品A的MTBF為22萬小時(shí)。22萬小時(shí)約為25年,并不是說A產(chǎn)品能工作25年不出故障。因?yàn)镸TBF=1/λ,所以可以計(jì)算出故障率λ=1/MTBF=1/25=4%,即A產(chǎn)品的平均年故障率為4%,一年內(nèi)。 環(huán)境可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。

外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),可靠性測(cè)試

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級(jí)(外殼防護(hù)試驗(yàn)): 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼):GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 19、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合 請(qǐng)問有誰知道NTC溫度傳感器的可靠性測(cè)試?氣候環(huán)境適應(yīng)性可靠性測(cè)試中英文檢測(cè)報(bào)告

上海天梯帶你認(rèn)識(shí)可靠性測(cè)試。外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

不管是與人們吃穿住行息息相關(guān)的物質(zhì)生產(chǎn)還是一些對(duì)人們具有間接作用的生產(chǎn),都有他們自己的生產(chǎn)要求和環(huán)境。只有在特定環(huán)境、要求、流程中生產(chǎn)出來的產(chǎn)品,才能流通到大眾手中發(fā)揮他們應(yīng)有的作用。檢驗(yàn)這些產(chǎn)品是否達(dá)到進(jìn)入市場(chǎng)和投入使用的要求就需要對(duì)他們進(jìn)行可靠性環(huán)境測(cè)試??煽啃原h(huán)境測(cè)試是指某種產(chǎn)品在適宜的生產(chǎn)環(huán)境、規(guī)格要求、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、功能實(shí)現(xiàn)等要求下被生產(chǎn)出來,需要先對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的環(huán)境測(cè)試以測(cè)試他們是否不會(huì)受某種環(huán)境的影響,然后才能將這些產(chǎn)品投入到市場(chǎng)中供給給大眾。外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

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