掃頻振動測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級（外殼防護(hù)試驗）： 外殼防護(hù)等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005 18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 LED振動測試有哪些項目？掃頻振動測試標(biāo)準(zhǔn)

 振動試驗是指評定產(chǎn)品在預(yù)期的使用環(huán)境中抗振能力而對受振動的實物或模型進(jìn)行的試驗。根據(jù)施加的振動載荷的類型把振動試驗分為正弦振動試驗和隨機(jī)振動試驗兩種。正弦振動試驗包括定額振動試驗和掃描正弦振動試驗。掃描振動試驗要求振動頻率按一定規(guī)律變化，如線性變化或參數(shù)規(guī)律變化。振動試驗設(shè)備分為加載設(shè)備和控制設(shè)備兩部分。加載設(shè)備有機(jī)械式振動臺、電磁式振動臺和電液式振動臺。電磁式振動臺是目前使用較廣的一種加載設(shè)備。振動控制試驗用來產(chǎn)生振動信號和控制振動量級的大小。振動控制設(shè)備應(yīng)具備正弦振動控制功能和隨機(jī)振動控制功能。振動試驗主要是環(huán)境模擬，試驗參數(shù)為頻率范圍、振動幅值和試驗持續(xù)時間。振動對產(chǎn)品的影響有：結(jié)構(gòu)損壞，如結(jié)構(gòu)變形、產(chǎn)品裂紋或斷裂。

掃頻振動測試檢測機(jī)構(gòu)振動測試可以分為哪些呢？

 振動測試為了了解產(chǎn)品的耐振壽命和性能指標(biāo)的穩(wěn)定性，尋找可能引起損壞或失效的薄弱環(huán)節(jié)，對系統(tǒng)在模擬實際環(huán)境的振動、沖擊條件下進(jìn)行的考驗。定型產(chǎn)品的試驗規(guī)范通常已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化，新產(chǎn)品要制定合適的試驗方法。試驗方法分兩大類:①標(biāo)準(zhǔn)試驗,包括耐預(yù)定頻率試驗、耐共振試驗、正弦掃描試驗、寬帶隨機(jī)振動試驗、沖擊試驗、聲振試驗和運(yùn)輸試驗等；②非標(biāo)準(zhǔn)試驗，包括瞬態(tài)波形振動試驗、窄帶隨機(jī)振動試驗、隨機(jī)波再現(xiàn)試驗、正弦波和隨機(jī)波混合試驗等。

 產(chǎn)品在到達(dá)用戶手中的過程將有不同狀態(tài)之振動產(chǎn)生，造成產(chǎn)品不同程度的損壞。而對于產(chǎn)品，有任何損壞都不是廠商及客戶所愿意見到的，然而運(yùn)送過程所發(fā)生振動卻是難以避免，若一味的提高包裝成本，必將帶來嚴(yán)重而不必要的浪費(fèi)，反之脆弱的包裝卻造成產(chǎn)品的高成本，并喪失了產(chǎn)品形象及市場，這些都不是我們所愿意見到的。

現(xiàn)在世界的潮流，已從過去地域性的經(jīng)濟(jì)模式走向全球性的經(jīng)濟(jì)貿(mào)易。無論是地域性市場或進(jìn)軍全球市場，***的表現(xiàn)是不容諱言的。而振動測試更是協(xié)助您產(chǎn)品躍入***行列中不可缺乏的利器。

振動測試的標(biāo)準(zhǔn)是什么？

振動測試 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 … 沖擊測試 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 … 碰撞測試 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20 跌落測試 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 RCA紙帶摩擦測試 ASTM F 2357 酒精，橡皮，鉛筆摩擦測試 GB/T 6739 ASTM D 3363 接觸電阻測試 EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-STD-202 絕緣電阻測試 EIA-364-21 MIL-STD-202 耐電壓測試 EIA-364-20 MIL-STD-202 劃格測試 ASTM D 3359 插拔力測試 EIA-364-13 耐久性測試 EIA-364-09 線材搖擺測試 EIA-364-41一般的振動測試項目包含哪些內(nèi)容?上海電路板做振動測試實驗

有人了解振動測試嗎？掃頻振動測試標(biāo)準(zhǔn)

 振動測試數(shù)據(jù)處理和分析：

測試得到的大量原始數(shù)據(jù)必須經(jīng)過各種處理，才能作為工程設(shè)計計算的依據(jù)資料。試驗的原始記錄數(shù)據(jù)是參量的時間歷程（位移、速度或加速度等量值同時間的關(guān)系），通過直觀分析可將數(shù)據(jù)分為瞬態(tài)的、周期的、隨機(jī)或非隨機(jī)持續(xù)非周期的三種，進(jìn)而在時域（包括時差域，即自變量為兩信號的時間差）、頻域和幅值域三大域中進(jìn)行統(tǒng)計分析、相關(guān)分析和譜分析，從而得到表征時間歷程特征的各種函數(shù)。處理方法可分為模擬量處理法和數(shù)字量處理法。前者設(shè)備簡單，但精度較差，處理時間長；后者需將原始記錄的模擬量變換為數(shù)字量后用數(shù)字計算機(jī)處理，由于精度很高，速度極快，所以隨著各種功能齊全的**數(shù)據(jù)處理機(jī)（如快速傅里葉分析儀）的出現(xiàn)，數(shù)字量處理法已逐漸取代了模擬量處理法。

掃頻振動測試標(biāo)準(zhǔn)

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