天梯檢測(cè)地震公司

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-26

HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品地震的測(cè)試手段,HALT/HASS 是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法,現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品地震試驗(yàn)縮短至一周,且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致,故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗(yàn)證。在美國(guó)之外,許多國(guó)際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限,以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng),高低溫,溫度循環(huán),電力開關(guān)循環(huán),電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。地震測(cè)試可以分為哪些呢?天梯檢測(cè)地震公司

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上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 5、振動(dòng)試驗(yàn): 振動(dòng)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。 6、溫度變化試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 8、跌落試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 9、機(jī)械沖擊試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 10、碰撞試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞GB/T 18207.2-2005地震服務(wù)第三方地震測(cè)試公司,歡迎咨詢上海天梯!

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上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15、IP防護(hù)等級(jí)(外殼防護(hù)試驗(yàn)): 外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼):GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R:水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則:GB/T 2423.38-2008 16、低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合 19、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合

led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別,也決定了它有自己獨(dú)特之處。 1.恒定濕熱測(cè)試:燈具在經(jīng)過沖擊測(cè)試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。測(cè)試方法:按led燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈;通過繼電器控制燈具在常溫常壓下進(jìn)行沖擊測(cè)試,測(cè)試設(shè)置為:點(diǎn)燈30s、熄燈30s,循環(huán)10000次。 燈具在經(jīng)過沖擊測(cè)試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。 2.通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較大額定輸入電壓的1.1倍;將燈具按以上方法在上下、左右、前后三個(gè)方向上分別測(cè)試30分鐘。將led燈具放置在一個(gè)室溫為25℃的環(huán)境下;溫度循環(huán)測(cè)試:通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較小額定輸入電壓的0.9倍為什么要做地震試驗(yàn)?

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上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司地震試驗(yàn)?zāi)康模?1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺點(diǎn),評(píng)價(jià)產(chǎn)品地震達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況 2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息 3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行地震鑒定或驗(yàn)收 4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理 5.為改進(jìn)產(chǎn)品地震,制定和改進(jìn)地震試驗(yàn)方案,為用戶選擇用產(chǎn)品提供依據(jù)。 氣候環(huán)境地震試驗(yàn)項(xiàng)目:高溫、低溫、溫度沖擊(氣態(tài)及液態(tài))、浸漬、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、高壓蒸煮、砂塵、鹽霧腐蝕、淋雨、太陽輻射、光老化等所有地震測(cè)試可以用一個(gè)產(chǎn)品么?天梯檢測(cè)地震公司

地震測(cè)試哪里可以做?天梯檢測(cè)地震公司

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