廣州維柯SIR/CAF檢測系統(tǒng)在助焊劑殘留檢測中的應用

來源：發(fā)布時間：2024-08-29

廣州維柯SIR/CAF檢測系統(tǒng)在助焊劑殘留檢測中的應用

在電子產(chǎn)品制造過程中，助焊劑是不可或缺的一種化學品，它能夠去除PCB（印制電路板）表面的氧化物和其他污染物，幫助焊料更好地流動和黏附。然而，焊接完成后殘留的助焊劑可能會對PCB的性能和壽命造成負面影響，包括降低表面絕緣電阻（SIR）、加速電化學遷移（CAF）等問題。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，采用高效的檢測手段來評估助焊劑殘留的影響變得至關(guān)重要。

本文將介紹廣州維柯信息技術(shù)有限公司研發(fā)的SIR/CAF檢測系統(tǒng)如何應用于助焊劑殘留的檢測與評估。

助焊劑殘留的影響

助焊劑殘留物主要包括聚合松香、未反應的活化劑以及焊接時松香與熔融焊料之間反應生成的鹽類。這些殘留物在潮濕環(huán)境下會吸收水分，導致PCB表面電阻下降，從而引發(fā)一系列問題，如漏電、短路、腐蝕等。此外，助焊劑殘留物還會加速電化學遷移（CAF）的過程，這是指在濕熱條件下，助焊劑殘留物中的離子成分促使金屬離子在電場作用下遷移，形成導電路徑，從而降低電路板的絕緣性能。

SIR/CAF檢測系統(tǒng)的應用

廣州維柯信息技術(shù)有限公司研發(fā)的SIR/CAF檢測系統(tǒng)是一種高度精細的檢測工具，專門用于評估電子產(chǎn)品的表面絕緣電阻（SIR）和電化學遷移（CAF）的性能。該系統(tǒng)采用了先進的模塊化設(shè)計，每個通道都能**工作，并且支持并發(fā)測試，這意味著即使在一個長期的測試項目中，也可以靈活地添加新的測試任務。

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技術(shù)特點

模塊化設(shè)計：系統(tǒng)采用16通道組成一個模塊的設(shè)計，當個別通道出現(xiàn)問題時，可以迅速替換而不影響其他模塊的工作。
并發(fā)測試功能：支持多個任務同時進行，可以在一個測試任務執(zhí)行期間，靈活地啟動其他測試任務。
數(shù)據(jù)管理：系統(tǒng)能夠?qū)崟r保存所有測試數(shù)據(jù)，并提供直觀的阻值曲線和趨勢報告，便于數(shù)據(jù)分析。
高精度與穩(wěn)定性：該系統(tǒng)具備出色的電流測量能力和電阻測量范圍，能精確測量從1x10^6 Ω到1x10^14 Ω的阻值。
擴展性：支持通過外接電源系統(tǒng)擴展到更多通道，比較高測試電壓可達5000V。

機箱2 電源圖

SIR/CAF檢測系統(tǒng)如何工作

廣州維柯SIR/CAF檢測系統(tǒng)的工作原理基于每個模塊**的恒壓源輸出測試電壓，并通過每個通道的超微型電流表讀取被測樣品的電流值，根據(jù)歐姆定律計算出被測樣品此時的電阻值。系統(tǒng)支持多種測試電壓和偏壓的**設(shè)置，能夠?qū)崿F(xiàn)精確的阻值判定和失效提醒功能。

檢測標準

依據(jù)IPCJ-STD-004B《助焊劑要求》的規(guī)定，焊接后的PCBA在經(jīng)過表面絕緣電阻測試（85℃，相對濕度85%，168H）后，所有測試圖形的絕緣電阻都必須大于1.0×10^8Ω。經(jīng)過同樣測試條件的電化學遷移測試后，除梳形電路導體允許有輕微的變色外，其他導體不能有明顯的腐蝕現(xiàn)象；對于出現(xiàn)樹枝狀結(jié)晶現(xiàn)象的，其尺寸不應超過導線間距的20%。

應用實例

廣州維柯的SIR/CAF檢測系統(tǒng)已被多家**電子制造企業(yè)和研究機構(gòu)采用，用于評估各種電子產(chǎn)品中助焊劑殘留物的影響。例如，聯(lián)華檢測技術(shù)服務（廣州）有限公司和富士康科技集團就采購了多套廣州維柯的SIR/CAF檢測系統(tǒng)，用于其產(chǎn)品的質(zhì)量控制和研發(fā)測試。