中國香港PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測(cè)試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測(cè)試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測(cè)試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測(cè)試夾具、1塊可 變ISI的測(cè)試夾具。在測(cè)試中，CBB4用于插卡的TX測(cè)試以及主板RX測(cè)試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測(cè)試以及插卡RX測(cè)試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測(cè)試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測(cè)試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測(cè)試夾具的原因是在PCIe4.0 的測(cè)試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；中國香港PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸

對(duì)于PCIe來說，由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，安徽PCI-E測(cè)試保養(yǎng)為什么PCI-E3.0的一致性測(cè)試碼型和PCI-E2.0不一樣？

校準(zhǔn)完成后，在進(jìn)行正式測(cè)試前，很重要的一點(diǎn)就是要能夠設(shè)置被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時(shí)也可能會(huì)借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回，但標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進(jìn)行被測(cè)件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對(duì)于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓(xùn)練序列，這樣的缺點(diǎn)是由于沒有經(jīng)過正常的鏈路協(xié)商，可能會(huì)無法把被測(cè)件  設(shè)置成正確的狀態(tài)?，F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺(tái)已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測(cè)件進(jìn)行訓(xùn)練序列的溝通，除了可以有效地把被測(cè)件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對(duì)端被測(cè)設(shè)備進(jìn)行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì)；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求，比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類型的板卡，針對(duì)一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試？

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目，提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板，測(cè)試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長(zhǎng)度小于6英寸，對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入，測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。 如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？甘肅PCI-E測(cè)試工廠直銷

網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試PCIe gen4和gen5，sdd21怎么去除夾具的值?中國香港PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸

規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合，每種組合叫作一個(gè) Preset,實(shí)際應(yīng)用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號(hào)質(zhì)量協(xié)商 出一個(gè)比較好的Preset值。比如P4沒有任何預(yù)加重，P7強(qiáng)的預(yù)加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標(biāo)準(zhǔn)中采用的預(yù)加重技術(shù)和11種Preset的組合(參考資料：PCI Express@ Base Specification4 .0) 。對(duì)于8Gbps、16Gbps 以及32Gbps信號(hào)來說，采用的預(yù)加重技術(shù)完 全一樣，都是3階的預(yù)加重和11種Preset選擇。中國香港PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸