克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)??藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專業(yè)的技術(shù)人員,嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備,提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)??藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試,PCI-E測試等方面測試服務(wù)。PCI-E硬件測試方法有那些辦法;廣東智能化多端口矩陣測試PCI-E測試
由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的,所以主 板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道,也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠 4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測試來說,只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進(jìn)行測試就可以了,示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測試環(huán)境。無論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測試,還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說,在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中,都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對(duì),每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會(huì)不一致, 所以需要通過配合合適的ISI線對(duì),使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉(zhuǎn)接 頭等模擬出來的整個(gè)測試鏈路的插損滿足測試要求。比如,對(duì)于插卡的測試來說,對(duì)應(yīng)的主 板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測 試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進(jìn)行模擬)。 為了滿足這個(gè)要求,比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。廣東智能化多端口矩陣測試PCI-E測試高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念);
Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測試,都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下,要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測件插入測試夾具并且上電以后,可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí),正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中,為了把被測主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出,PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板;插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到CBB板;而在接收容限測試中,由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。PCI-e 3.0簡介及信號(hào)和協(xié)議測試方法;
對(duì)于PCIe來說,由于長鏈路時(shí)的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量,在PCIe3.0時(shí)代,有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量,但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求,正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描,即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值,如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?廣東智能化多端口矩陣測試PCI-E測試
PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測試;廣東智能化多端口矩陣測試PCI-E測試
SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡,而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整,所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,測試效率 比較低,而且對(duì)于不熟練的測試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測試結(jié)果的不一致,測試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測試的效率和測試項(xiàng)目覆蓋 率,有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測試軟件。廣東智能化多端口矩陣測試PCI-E測試