上饒光譜儀標(biāo)準(zhǔn)要求

SPM5000光譜儀、TR-200A反射/透射率測(cè)試箱、直流電源組成反射率和透射率測(cè)試。反射率測(cè)試主要由標(biāo)準(zhǔn)A光源經(jīng)平行光裝置直接照射到內(nèi)置積分球內(nèi)，通過(guò)放在積分球側(cè)面已知反射率的標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品的光能量數(shù)據(jù)比較，得到被測(cè)樣品的（光譜）反射率。透射率測(cè)試主要由標(biāo)準(zhǔn)A光源經(jīng)平行光裝置透過(guò)透射率被測(cè)樣品，直接照射到內(nèi)置積分球內(nèi)，通過(guò)放入透射率被測(cè)樣品之前和之后的光能量數(shù)據(jù)比較，得到被測(cè)樣品的（光譜）透射率。所以本測(cè)試箱主要由標(biāo)準(zhǔn)A光源與積分球組合進(jìn)行相對(duì)比較測(cè)量得到反射/透射率參數(shù)。翊明科技SPM高精度快速光譜儀測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試植物生長(zhǎng)燈的光合光子通量和光合輻射通量。上饒光譜儀標(biāo)準(zhǔn)要求

中小學(xué)校普通教室以《GB/T18205-2012學(xué)校衛(wèi)生綜合評(píng)價(jià)》、《GB7793-2010中小學(xué)校教室采光和照明衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)》《GB50099-2011中小學(xué)校設(shè)計(jì)規(guī)范》《JGJ3102013教育建筑電氣設(shè)計(jì)規(guī)范》、《GB/T36876-2018中小學(xué)校普通教室照明設(shè)計(jì)安裝衛(wèi)生要求》《GB50034-2013建筑照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)》及廣東省地方標(biāo)準(zhǔn)《DB44/T2335-2021中小學(xué)校教室照明技術(shù)規(guī)范》(見(jiàn)附件1)等文件為依據(jù)執(zhí)行。學(xué)生宿舍、圖書(shū)館(閱覽室)功能教室等依據(jù)《GB50099—2011中小學(xué)校設(shè)計(jì)規(guī)范》和《GB 50034-2013建筑照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)》要求，參照教室照明達(dá)標(biāo)計(jì)劃有序?qū)嵤?。關(guān)于校園教室教育照明檢測(cè)系統(tǒng)方案由SPM5000系列光色分析系統(tǒng)+GMS系列分布光度計(jì)(配光曲線測(cè)試)系統(tǒng)+LFM5000光源頻閃測(cè)試系統(tǒng)組成。測(cè)量項(xiàng)目如光效，相關(guān)色溫，一般顯色指數(shù)，R9，照明設(shè)備功率，功率因數(shù)和諧波含量值，照明燈具效率，照度值，功率密度值(燈具概率曲線)，UGR，光束角，亮度限值曲線，光源波動(dòng)深度等。上饒光譜儀定制價(jià)格SPM-5000高精度快速光譜儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出光譜光量子分布(*.sqd)格式。

SPM-5000高精度快速光譜輻射計(jì)波長(zhǎng)測(cè)試精度:±0.3nm、波長(zhǎng)重復(fù)性:±0.1nm、樣品掃描間隔：±0.1nm、色品坐標(biāo)精度：±0.002(在標(biāo)準(zhǔn)A光源下)、相關(guān)色溫測(cè)試范圍：1,500K~100,000K、精度：±0.3%、顯色指數(shù)范圍:0~100.0、精度:±(0.3%rd±0.3)、光通量測(cè)試范圍：0.01-200,000lm、光度線性：±0.5%、雜散光：<0.015%(600nm)及<0.03%(435nm)、積分時(shí)間：0.1~10,000ms、可測(cè)試積分球內(nèi)外溫度、光通量測(cè)試方法：光譜法，光度法以及光譜光度法測(cè)量

SPM-5000系列光譜輻射計(jì)采用CCD探測(cè)器。CCD探測(cè)器上由許多排列整齊的電容單元組成，當(dāng)光線照射到光敏面時(shí)就會(huì)釋放電荷，這個(gè)電信號(hào)傳送到A/D轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行處理后就可以獲得測(cè)量結(jié)果。CCD上包含的單元（像素，Pixel）越多，分辨率也就越高。CCD具有自然積分的特性，因此具有非常大的動(dòng)態(tài)范圍。CCD的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高、響應(yīng)速度快，缺點(diǎn)是存在暗（熱）電流，信噪比低，對(duì)350nm以下的光信號(hào)的響應(yīng)很低，采用DUV鍍膜工藝可以適當(dāng)提高150-350nm的響應(yīng)度。SPM-5000高精度快速光譜儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出IES TM-33 2018(*.xml)格式。

SPM5000系列高精度快速光譜儀測(cè)試系統(tǒng)滿足Ponmax的測(cè)量，在新Erp法規(guī)(EU)2019/2020 &新能效標(biāo)簽法規(guī)(EU)2019/2015之一(DF篇)中有提到Pon的概念。在對(duì)DF進(jìn)行判斷時(shí)，對(duì)不同光源功率Pon范圍，Erp要求是不一樣的。2021年9月1日起，Erp對(duì)光源功率Pon有了規(guī)定，規(guī)定它不能超過(guò)比較大允許功率：既Pon≤Ponmax；Erp也給出對(duì)Ponmax的計(jì)算：Ponmax=C*(L+Φuse/(F*η))*R。其中：C是校正因子，取決于光源類型(見(jiàn)下圖2)，L是終端損耗因子(見(jiàn)下圖3)，Φuse是宣稱有效光通量，F(xiàn)是能效因子:【1.0(非定向燈)、0.85(定向燈)】η是光效閾值(見(jiàn)下圖3)，R是CRI因子：【CRI≤25:0.65、CRI>25:(CRI+80)/160】。在SPM5000高精度快速光譜儀測(cè)試系統(tǒng)報(bào)告中體現(xiàn)具體Ponmax參數(shù)。翊明科技SPM高精度快速光譜儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出光譜功率分布(SPD)(*.txt)格式。TM-30光譜儀出廠價(jià)

SPM-8000Y醫(yī)用冷光源測(cè)試系統(tǒng)滿足YY1081醫(yī)用內(nèi)窺鏡、內(nèi)窺鏡功能供給裝置冷光源的標(biāo)準(zhǔn)要求。上饒光譜儀標(biāo)準(zhǔn)要求

SPM5000 CCD 快速光譜儀采用CCD光譜儀是使用線陣探測(cè)器，同時(shí)得到全部的光譜線，沒(méi)有運(yùn)動(dòng)部件，因此不存在重復(fù)性的問(wèn)題，可靠性更高。分辨率：CCD光譜儀通常采用單片光柵分光，根據(jù)光譜范圍需要來(lái)確定光柵形式，因此光譜范圍不如掃描式寬，光譜分辨率根據(jù)需要調(diào)整狹縫寬度獲得，通常分辨率不如掃描式高。對(duì)于燈具測(cè)量來(lái)說(shuō)，高分辨率對(duì)光源的特性分析沒(méi)有任何意義。CCD光譜儀采用合適的分辨率可以提高信噪比，明顯增加測(cè)量準(zhǔn)確性和測(cè)量速度，所以更有實(shí)際意義。上饒光譜儀標(biāo)準(zhǔn)要求

杭州翊明科技有限公司在頻閃分析儀，分布光度計(jì)，積分球光譜分析系統(tǒng)，數(shù)字功率計(jì)一直在同行業(yè)中處于較強(qiáng)地位，無(wú)論是產(chǎn)品還是服務(wù)，其高水平的能力始終貫穿于其中。翊明科技是我國(guó)儀器儀表技術(shù)的研究和標(biāo)準(zhǔn)制定的重要參與者和貢獻(xiàn)者。公司主要提供計(jì)算機(jī)軟件、自動(dòng)化控制系統(tǒng)、光電測(cè)量?jī)x器、分析儀器、電子器件、光學(xué)元件的技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)咨詢、銷售、技術(shù)服務(wù)；計(jì)算機(jī)軟件、自動(dòng)化控制系統(tǒng)、光電檢測(cè)儀器、分析儀器的制造；貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)；其他無(wú)需報(bào)經(jīng)審批的一切合法項(xiàng)目（依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目，經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)）等。等領(lǐng)域內(nèi)的業(yè)務(wù)，產(chǎn)品滿意，服務(wù)可高，能夠滿足多方位人群或公司的需要。將憑借高精尖的系列產(chǎn)品與解決方案，加速推進(jìn)全國(guó)儀器儀表產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力的發(fā)展。