廈門燈具IES分布光度計專業(yè)設(shè)備

翊明臥式分布光度計采用探測器靜止，轉(zhuǎn)動燈具的測量原理，實現(xiàn)光源或燈具各個方向上的光強分布測量，滿足CIE、IESNA等國際、國內(nèi)標準等要求，配不同軟件實現(xiàn)C-γ、A-α和B-β等多種測量方式。是翊明科技自主設(shè)計了計算機控制的高精度兩軸連續(xù)旋轉(zhuǎn)燈具工作臺，有效消除了現(xiàn)有結(jié)構(gòu)來回轉(zhuǎn)向間隙，采用高導(dǎo)電率的金屬制成具有錯層結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電滑環(huán)，隔離驅(qū)動電路和控制電路，消除了大電流對控制電路的干擾，實現(xiàn)了燈具的三維平穩(wěn)運動，提高了整機的可靠性與測量精度。創(chuàng)新設(shè)計了金屬電熱膜環(huán)繞加熱恒溫腔，加熱場分布更加均勻，并通過模糊控制算法控制金屬導(dǎo)電膜電流大小，使恒溫控制更加快速、穩(wěn)定，減少了測試系統(tǒng)溫度波動，保證了光電轉(zhuǎn)換的準確，提高了分布光度計的精細度。高性價比燈具光強分布曲線測試系統(tǒng)。廈門燈具IES分布光度計專業(yè)設(shè)備

分布光度計是一種功能強大、應(yīng)用***的光學(xué)測量儀器，其在各個領(lǐng)域的應(yīng)用越來越受到人們的關(guān)注和重視。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進步，分布光度計的性能和應(yīng)用范圍也將不斷擴大，為各行各業(yè)的光學(xué)測量和研究工作提供更加精確、高效的支持。隨著分布光度計的不斷發(fā)展和完善，其在未來的應(yīng)用前景也十分廣闊。一方面，隨著人們對于生活質(zhì)量的要求不斷提高，對于照明的要求也越來越高，分布光度計將在照明領(lǐng)域中發(fā)揮越來越重要的作用，助力照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和進步。中山燈具IES分布光度計解決方案分布光度計C-γ坐標系為基準的測試，適用于大多數(shù)室內(nèi)，室外燈具。是目前應(yīng)用范圍**廣的測試方式。

分布光度計的應(yīng)用隨著LED照明技術(shù)的不斷發(fā)展和改進，配光曲線也越來越受到關(guān)注。相比傳統(tǒng)的光源，LED光源在自然光譜、色溫、色彩還原性等方面有更好的表現(xiàn)，可以為照明設(shè)計師提供更多的選擇。同時，LED燈具多樣的燈具形狀和發(fā)光面板設(shè)計也使得配光曲線的變化更加靈活，可以更好地滿足不同場景的需求。綜上所述，配光曲線是照明設(shè)計中不可或缺的一部分，除了考慮照度分布外，還需要考慮視覺效果、能源效率等多個因素。了解和掌握配光曲線的設(shè)計方法和應(yīng)用原則，可以幫助照明設(shè)計師更加準確地把握照明效果，為人們創(chuàng)造更加優(yōu)美、舒適的照明環(huán)境。

臥式分布光度計是一款采用旋轉(zhuǎn)被測燈具固定光度探測器的測量方式的臥式分布光度計。可雙立柱或單立柱工作，以實現(xiàn)C-γ、A-α和B-β測試方案，完全滿足CIE、IEC、LM-79,GB等國內(nèi)外相關(guān)標準。同時在配置上采用了恒溫探頭，日本電機和德國高精度角度解碼器，**提高了測試時的穩(wěn)定度及產(chǎn)品的測試精度，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)光學(xué)實驗室。應(yīng)用于工業(yè)實驗室測試LED路燈，室內(nèi)燈，工礦燈等各類燈具的光電參數(shù)的測試。臥式分布光度計可以添加空間光譜輻射分布光度計除了應(yīng)用于工業(yè)實驗室測試LED路燈，室內(nèi)燈，工礦燈等各類燈具的光參數(shù)，如測試空間光強分布曲線，等光強分布曲線，各個區(qū)域內(nèi)的光強分布（用直角坐標系或極坐標表示），亮度限制曲線，光效，炫光等級，有效光束角，上射光通量，下射光通量，總光通量，有限系數(shù)和電參數(shù)（電壓，電流，功率，功率因素，頻率）外，它結(jié)合了CCD光譜儀，它還可以測試空間光譜顏色分布。測試數(shù)據(jù)可以保存為IES，LDT，CIE等格式文件，可直接用于照明設(shè)計軟件，如DIALUX。分布光度計品牌廠家。

在進行光強分布曲線測試時，需要注意測試系統(tǒng)的環(huán)境條件，如溫度和濕度等，這些環(huán)境因素會對測試結(jié)果產(chǎn)生一定的影響。同時，也需要注意測試設(shè)備的精度和穩(wěn)定性，以保證測試結(jié)果的準確性。對于光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計和優(yōu)化，光強分布曲線測試是一個非常有價值的工具。通過測試和分析光強分布曲線，可以了解光學(xué)系統(tǒng)的強度分布情況，找出系統(tǒng)中存在的不足和問題，并進行針對性的優(yōu)化和改進。此外，光強分布曲線測試還可以用于測量光學(xué)系統(tǒng)的消光比、像差等指標，為系統(tǒng)的性能評估與優(yōu)化提供依據(jù)。高性價比IES測試系統(tǒng)。杭州暗室分布光度計定制

分布光度計在照明行業(yè)的應(yīng)用，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和競爭力。廈門燈具IES分布光度計專業(yè)設(shè)備

分布光度計暗室的要求***部分：1、溫度要求根據(jù)CIE70和LM-79的要求，在使用分布式光度計進行測量時，通常是在25°的環(huán)境溫度下進行的。對于光通輸出對溫度影響很明顯的光源，溫度容限應(yīng)該為±1°，其他光源為±3°。如果測試是在不同的環(huán)境溫度下進行的測試，溫度應(yīng)該予以陳述。為了達到這種測試環(huán)境，通常要求在燈具安裝的環(huán)境中安裝空調(diào)，以便進行溫度控制。同時需要配備精度為0.01°的溫度計進行溫度校準。2、雜散光要求雜散光可以使光強分布測試結(jié)果失敗，所以推薦在光源和光度探頭接收面之間使用擋屏來限制入射的雜散光，但擋屏不能在光束中引起阻隔。通過在光源和光度探頭的中間位置放置一個**小可能尺寸的屏來判斷雜散光的比例是可行的，屏擋住了從光源到接收面的直射光。光強分布的測試應(yīng)該在擋屏處在對應(yīng)位置上時能夠復(fù)現(xiàn)。此時的測量信號就是直射雜散光的信號，應(yīng)該將這個量從沒有這個擋屏的測試結(jié)果中減去。廈門燈具IES分布光度計專業(yè)設(shè)備