惠州手機射頻測試方案

來源: 發(fā)布時間:2023-03-22

什么是射頻測試?RF測試或射頻測試評估無線電和電信設(shè)備,以確保不會對周圍RF環(huán)境的設(shè)備和用戶產(chǎn)生干擾。測試包括評估設(shè)備對無線電頻譜的使用以及發(fā)射和吸收的射頻輻射對在附近運行的無線電設(shè)備的影響。還有用于評估與其他設(shè)備的兼容性的協(xié)議測試。協(xié)議測試的例子包括:1.智能設(shè)備通訊2.藍牙3.蜂巢

無線射頻測試項目:1.發(fā)射功率測試(傳導法,輻射法);發(fā)射瞬態(tài)功率測試;2.發(fā)射鄰道和次鄰道功率測試;發(fā)射寬帶測試;3.發(fā)射頻譜特性;發(fā)射頻率誤差相位誤差;4.發(fā)射雜散測試(傳導法,輻射法);5.接收比較大可用靈敏度;接受相鄰?fù)ǖ赖倪x擇;6.接收信號阻塞;接收同信道抑制;7.接收雜散響應(yīng)抑制;接收互調(diào)響應(yīng)抑制;SAR測試。 測試儀表是射頻測試領(lǐng)域技術(shù)含量比較高的設(shè)備。惠州手機射頻測試方案

射頻

射頻測試工程師要學哪些知識?不管進入什么公司,都要先了解你的待測試對象是什么,也就是要有一定的產(chǎn)品知識,才能方便工作,當然了,一些基礎(chǔ)的通訊原理知識是必須的1.相關(guān)射頻的協(xié)議,比如測試GSMS手機,那就要閱讀手機射頻的協(xié)議,對著協(xié)議測試其指標。把協(xié)議搞懂(一般是全英文)2.產(chǎn)品原理,產(chǎn)品的收發(fā)電路和原理再搞清楚,3.通信知識是基本的。4、EMC方面的書籍、半導體物理方面的書籍.、無線系統(tǒng)方面的書。都需要我們?nèi)ミM行了解。寧波WIFI射頻測試標準射頻測試是射頻電流,它是一種高頻交流變化電磁波的簡稱。

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無線通信系統(tǒng)中,一般包含有天線、射頻前端、射頻收發(fā)模塊以及基帶信號處理器四個部分。隨著5G時代的,天線以及射頻前端的需求量及價值均快速上升,射頻前端是將數(shù)字信號向無線射頻信號轉(zhuǎn)化的基礎(chǔ)部件,也是無線通信系統(tǒng)的關(guān)鍵組件。按照功能,可將射頻前端分為發(fā)射端Tx以及接收端Rx。按照器件不同,射頻前端可分為功率放大器PA(發(fā)射端射頻信號放大)、濾波器filter(發(fā)射、接受端信號濾波)、低噪聲放大器LNA(接收端信號放大,降低噪聲)、開關(guān)switch(不同通道切換)、雙工器duplexer(信號選擇,實現(xiàn)濾波匹配)、調(diào)諧器tuner(天線信號通道阻抗匹配)等。

在新興無線通信技術(shù)和電子技術(shù)不斷涌現(xiàn)的現(xiàn)在,射頻測試行業(yè)正呈現(xiàn)出兩個比較重要的趨勢:模塊化和軟件定義。電子技術(shù)的快速發(fā)展對測試儀器提出了更高的要求,包括更多功能、更易操作、更高吞吐量和更具成本效益等。面對如此綜合的測試對象和復(fù)雜的測試需求,必須要有一個很綜合的系統(tǒng)去進行測試,而模塊化儀器就是這樣的系統(tǒng)。模塊化測試平臺提供了更快的測試時間和更低的投入成本。使用基于PXI(面向儀器系統(tǒng)的PCI 擴展)的模塊化儀器系統(tǒng),用戶可以根據(jù)需要先選擇各種模塊,繼而通過軟件配置它們,終完成特定的測量任務(wù)。射頻 (RF) 測試模擬無線電和電信設(shè)備的功能和性能,以確保設(shè)備不僅會干擾無線電頻譜的其他用戶。

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射頻測試項目其中包括:1.發(fā)射功率測試(傳導法、輻射法);2.發(fā)射瞬態(tài)功率測試;3.發(fā)射鄰道與次鄰道功率測試;4.發(fā)射寬帶測試;5.發(fā)射頻譜特性;6.發(fā)射頻率誤差相位誤差;7.發(fā)射雜散測試(傳導法、輻射法);8.接收比較大可用靈敏度;9.接受鄰近通道選擇;10.接收信號阻塞;11.接收同信道抑制;12.接收雜散響應(yīng)抑制;13.接收互調(diào)響應(yīng)抑制;14.SAR測試。RF測試辦理要求:1、低電壓的條件下工作頻率誤差不超過±10ppm,且發(fā)射功率在雜散限制范圍內(nèi);2、停止發(fā)射電壓需低于制造商宣告的工作電壓。射頻中的射頻盒+機柜組合模式,符合工廠端人工取放作業(yè)合理高度設(shè)計。南昌RF射頻測試標準

射頻測試儀市場格局高度集中,大多數(shù)的測試產(chǎn)品和技術(shù)掌握在國外廠商中,國產(chǎn)廠商仍處于相對落后的局面?;葜菔謾C射頻測試方案

一個傳統(tǒng)的射頻測試探針包括了以下幾個部分:測試儀器接口(同軸或是波導)從測試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(CPW/MS等)轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch:指的是針尖(ProbeTips)之間的間距,一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應(yīng)用,針尖間距一般都比較小。Probeskate:當你在Z軸方向往下“按壓”探針時,當探針接觸到DUT,它將在ZY平面彎曲移動。通常,這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù),之前經(jīng)常用在一些標準的分立的夾具測試中。惠州手機射頻測試方案

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