234G射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

射頻測(cè)試中的功率測(cè)試怎么完成呢？無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室，產(chǎn)線上還是教學(xué)，功率測(cè)量都是必不可少的。那么，如何進(jìn)行射頻功率測(cè)試呢？1、頻譜分析儀測(cè)量頻譜分析儀(以下簡(jiǎn)稱頻譜儀)是一種基礎(chǔ)的頻域測(cè)試測(cè)量?jī)x器，被測(cè)信號(hào)經(jīng)過(guò)低通濾波器后進(jìn)入混頻器，與同時(shí)進(jìn)入混頻器的本地振蕩器信號(hào)進(jìn)行混頻。由于混頻器是非線性器件，所以會(huì)產(chǎn)生互調(diào)信號(hào)，落入濾波器的信號(hào)經(jīng)過(guò)ADC，再依次進(jìn)入中頻濾波器，包絡(luò)檢波器，視頻濾波器，視頻檢波器，將軌跡顯示在屏幕上。2、吸收式功率測(cè)量，3、通過(guò)式測(cè)量通過(guò)式功率測(cè)量是對(duì)吸收式功率測(cè)量法的一種擴(kuò)展應(yīng)用，解決了吸收式功率計(jì)測(cè)量大功率和VSWR的局限性。通過(guò)式功率測(cè)量比較大的意義就是可以測(cè)量放大器或發(fā)射機(jī)在大功率狀態(tài)下與負(fù)載的匹配。 射頻測(cè)試儀是射頻測(cè)試領(lǐng)域技術(shù)含量比較高的設(shè)備，目前仍以日本和美國(guó)的公司為主。234G射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

射頻測(cè)試項(xiàng)目其中包括：1.發(fā)射功率測(cè)試（傳導(dǎo)法、輻射法）；2.發(fā)射瞬態(tài)功率測(cè)試；3.發(fā)射鄰道與次鄰道功率測(cè)試；4.發(fā)射寬帶測(cè)試；5.發(fā)射頻譜特性；6.發(fā)射頻率誤差相位誤差；7.發(fā)射雜散測(cè)試（傳導(dǎo)法、輻射法）；8.接收比較大可用靈敏度；9.接受鄰近通道選擇；10.接收信號(hào)阻塞；11.接收同信道抑制；12.接收雜散響應(yīng)抑制；13.接收互調(diào)響應(yīng)抑制；14.SAR測(cè)試。RF測(cè)試辦理要求：1、低電壓的條件下工作頻率誤差不超過(guò)±10ppm,且發(fā)射功率在雜散限制范圍內(nèi)；2、停止發(fā)射電壓需低于制造商宣告的工作電壓。珠海WIFI射頻參數(shù)測(cè)試射頻測(cè)試電路性能，需要把信號(hào)傳導(dǎo)到某類(lèi)傳輸線上，需要至少兩個(gè)探針導(dǎo)體，即“信號(hào)導(dǎo)體”和“地導(dǎo)體”。

在新興無(wú)線通信技術(shù)和電子技術(shù)不斷涌現(xiàn)的現(xiàn)在，射頻測(cè)試行業(yè)正呈現(xiàn)出兩個(gè)比較重要的趨勢(shì)：模塊化和軟件定義。電子技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)測(cè)試儀器提出了更高的要求，包括更多功能、更易操作、更高吞吐量和更具成本效益等。面對(duì)如此綜合的測(cè)試對(duì)象和復(fù)雜的測(cè)試需求，必須要有一個(gè)很綜合的系統(tǒng)去進(jìn)行測(cè)試，而模塊化儀器就是這樣的系統(tǒng)。模塊化測(cè)試平臺(tái)提供了更快的測(cè)試時(shí)間和更低的投入成本。使用基于PXI(面向儀器系統(tǒng)的PCI 擴(kuò)展)的模塊化儀器系統(tǒng)，用戶可以根據(jù)需要先選擇各種模塊，繼而通過(guò)軟件配置它們，終完成特定的測(cè)量任務(wù)。

手機(jī)出現(xiàn)的目的是為了溝通，而這個(gè)溝通是在射頻上實(shí)現(xiàn)的，因此對(duì)于射頻來(lái)說(shuō)，也就是需要有實(shí)現(xiàn)發(fā)射信息的發(fā)射機(jī)和接收信息的接收機(jī)了；相應(yīng)的射頻測(cè)試也就分為發(fā)射機(jī)測(cè)試和接收機(jī)測(cè)試了。對(duì)于發(fā)射機(jī)測(cè)試，就像我們衡量一個(gè)人說(shuō)話一樣：每個(gè)人的說(shuō)話聲音的高低不一樣，而我們發(fā)射機(jī)發(fā)射出去的功率可能也不一樣，因此需要測(cè)試其功率；同樣是說(shuō)普通話，南方人說(shuō)話和北方人說(shuō)話可能也不一樣，而不同的發(fā)射機(jī)發(fā)出去的調(diào)制指標(biāo)可能就不一樣，因此我們需要對(duì)其調(diào)制進(jìn)行測(cè)試；如果是很多人同時(shí)發(fā)表演講，可能就會(huì)造成彼此干擾，我們就讓他們?cè)诓煌姆块g里進(jìn)行演講，但是仍受房間與房間之間隔音效果的影響，同樣多臺(tái)發(fā)射機(jī)同時(shí)發(fā)射的時(shí)候也會(huì)造成彼此的干擾，因此我們需要對(duì)發(fā)射機(jī)的頻譜進(jìn)行測(cè)試。除此之外，對(duì)于采用技術(shù)的通信系統(tǒng)，我們還需要對(duì)碼域進(jìn)行測(cè)試。所以，概括的講，我們目前手機(jī)的射頻發(fā)射機(jī)的測(cè)試也就是：功率測(cè)試，調(diào)制測(cè)試，頻譜測(cè)試和碼域測(cè)試。測(cè)試儀表是射頻測(cè)試領(lǐng)域技術(shù)含量比較高的設(shè)備。

射頻測(cè)試主要測(cè)試什么？射頻測(cè)試分為內(nèi)帶外試驗(yàn)兩種，帶內(nèi)試驗(yàn)的范圍也有一定的差別，比如，帶內(nèi)試驗(yàn)主要是檢測(cè)信號(hào)的質(zhì)量，如功率、頻譜寬度、調(diào)制質(zhì)量，而帶外測(cè)試的是信號(hào)的雜散、諧波，主要是看對(duì)頻帶之外的干擾有多大。射頻測(cè)試是表示可以輻射到空間的電磁頻率，頻率范圍從300KHz～30GHz之間，射頻簡(jiǎn)稱RF，是高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱，其每秒變化小于1000次被稱為低頻電流，超過(guò)10000次的稱為高頻電流，而射頻就是這種高頻電流。射頻測(cè)試的脈沖測(cè)試中，需要知道脈沖信號(hào)是雷達(dá)系統(tǒng)基礎(chǔ)、常見(jiàn)的信號(hào)形式。南昌智能手表射頻靈敏度測(cè)試

射頻器件是收發(fā)無(wú)線信號(hào)中的關(guān)鍵部件，遍布于各種通信場(chǎng)景，5G又進(jìn)一步推動(dòng)了射頻器件性能進(jìn)化。234G射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

一個(gè)傳統(tǒng)的射頻測(cè)試探針包括了以下幾個(gè)部分：測(cè)試儀器接口（同軸或是波導(dǎo)）從測(cè)試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)（CPW/MS等）轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對(duì)于毫米波頻率的應(yīng)用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時(shí)，當(dāng)探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動(dòng)。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個(gè)現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù)，之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測(cè)試中。234G射頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

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