線陣光譜共焦精度

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-23

由于光譜共焦傳感器對(duì)于不同的反射面反射回來(lái)的單色光的波長(zhǎng)不同,因此對(duì)于材料的厚度精密測(cè)量具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。光學(xué)玻璃、生物薄膜、平行平板等,兩個(gè)反射面都會(huì)反射不同波長(zhǎng)的單色光,進(jìn)而只需一個(gè)傳感器,即可推算出厚度,測(cè)量精度可達(dá)微米量級(jí),且不損傷被測(cè)表面。利用光譜共焦位移傳感器測(cè)量透明材料厚度的應(yīng)用,計(jì)算了該系統(tǒng)的測(cè)量誤差范圍大概為 0.005mm。利用光譜共焦傳感器對(duì)平行平板的厚度以及光學(xué)鏡頭的中心厚度進(jìn)行測(cè)量的方法,并針對(duì)被測(cè)物體材料的色散對(duì)厚度測(cè)量精度的影響做了理論的分析。為了探究由流體跌落方式制備的薄膜厚度與跌落模式、雷諾數(shù)、底板的傾斜角度之間的關(guān)系,采用光譜共焦傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)控制備后的薄膜厚度,利用對(duì)頂安裝的白光共焦傳感器組 ,實(shí)現(xiàn)了對(duì)厚度為 10—100μm 的金屬薄膜厚度及分布的精確測(cè)量,并進(jìn)行了測(cè)量不確定度分析,得到系統(tǒng)的測(cè)量不確定度為 0.12μm 左右。光譜共焦位移傳感器可以應(yīng)用于材料科學(xué)、醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等多個(gè)領(lǐng)域;線陣光譜共焦精度

線陣光譜共焦精度,光譜共焦

光譜共焦技術(shù)是在共焦顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的技術(shù),在測(cè)量過(guò)程中無(wú)需軸向掃描,直接由波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)軸向距離信息,因此可以大幅提高測(cè)量速度?;诠庾V共焦技術(shù)的傳感器是近年來(lái)出現(xiàn)的一種高精度、非接觸式的新型傳感器,精度理論上可達(dá)到納米級(jí)。由于光譜共焦傳感器對(duì)被測(cè)表面狀況要求低、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、測(cè)量速度快、實(shí)時(shí)性高,因此迅速成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,大量應(yīng)用于精密定位、薄膜厚度測(cè)量、微觀輪廓精密測(cè)量等領(lǐng)域。本文介紹了光譜共焦技術(shù)的原理,并列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計(jì)量測(cè)試中的典型應(yīng)用。同時(shí) 對(duì)共焦技術(shù)在未來(lái)精密測(cè)量的進(jìn)一步應(yīng)用進(jìn)行了探討,并展望了其發(fā)展前景。高頻光譜共焦哪個(gè)品牌好光譜共集技術(shù)在電子制造領(lǐng)域可以用于電子元件的精度檢測(cè)和測(cè)量。

線陣光譜共焦精度,光譜共焦

光譜共焦測(cè)量技術(shù)由于其高精度、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、測(cè)量速度快、實(shí)時(shí)性高、對(duì)被測(cè)表面狀況要求低以及高分辨率等特點(diǎn),已成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測(cè)量和3C電子等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。本次測(cè)量場(chǎng)景采用了創(chuàng)視智能TS-C1200光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025 μm的重復(fù)精度、±0.02%的線性精度 、30kHz的采樣速度和±60°的測(cè)量角度,適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網(wǎng)和模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口。

主要對(duì)光譜共焦傳感器的校準(zhǔn)時(shí)的誤差進(jìn)行研究。分別利用激光干涉儀與高精度測(cè)長(zhǎng)機(jī)對(duì)光譜共焦傳感器進(jìn)行測(cè)量,用球面測(cè)頭保證光譜共焦傳感器的光路位于測(cè)頭中心,以保證光譜共焦傳感器的在測(cè)量時(shí)的安裝精度,然后更換平面?zhèn)阮^,對(duì)光譜共焦傳感器進(jìn)行校準(zhǔn)。用?小二乘法對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到測(cè)量數(shù)據(jù)的非線性誤差。結(jié)果表明:高精度測(cè)長(zhǎng)機(jī)校準(zhǔn)時(shí)的非線性誤差為0.030%,激光干涉儀校準(zhǔn)時(shí)的分析線性誤差為0.038% 。利用?小二乘法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理及非線性誤差的計(jì)算,減小校準(zhǔn)時(shí)產(chǎn)生的同軸度誤差及光譜共焦傳感器的系統(tǒng)誤差,提高對(duì)光譜共焦傳感器的校準(zhǔn)精度。光譜共焦位移傳感器具有非接觸式測(cè)量的優(yōu)勢(shì),可以在微觀尺度下進(jìn)行精確的位移測(cè)量。

線陣光譜共焦精度,光譜共焦

采用對(duì)比測(cè)試方法,首先對(duì)基于白光共焦光譜技術(shù)的靶丸外表面輪廓測(cè)量精度進(jìn)行了考核 。為了便于比較,將原子力顯微鏡輪廓儀的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行了偏移。二者的低階輪廓整體相似,局部的輪廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測(cè)量圓周輪廓結(jié)果不一致;此外,白光共焦光譜的信噪比較原子力低,這表明白光共焦光譜適用于靶丸表面低階的輪廓誤差的測(cè)量。在模數(shù)低于100的功率譜范圍內(nèi),兩種方法的測(cè)量結(jié)果一致性較好,當(dāng)模數(shù)大于100時(shí),白光共焦光譜的測(cè)量數(shù)據(jù)大于原子力顯微鏡的測(cè)量數(shù)據(jù),這也反應(yīng)了白光共焦光譜儀在高頻段測(cè)量數(shù)據(jù)信噪比相對(duì)較差的特點(diǎn)。由于光譜傳感器Z向分辨率比原子力低一個(gè)量級(jí),同時(shí),受環(huán)境振動(dòng)、光譜儀采樣率及樣品表面散射光等因素的影響,共焦光譜檢測(cè)數(shù)據(jù)高頻隨機(jī)噪聲可達(dá)100nm左右。光譜共焦技術(shù)在汽車制造中可以用于零件的精度檢測(cè)和測(cè)量。線陣光譜共焦精度

光譜共焦位移傳感器的工作原理是通過(guò)激光束和光纖等光學(xué)元件實(shí)現(xiàn)的。線陣光譜共焦精度

隨著機(jī)械加工水平的不斷發(fā)展,各種微小而復(fù)雜的工件都需要進(jìn)行精確的尺寸和輪廓測(cè)量,例如測(cè)量小零件的內(nèi)壁凹槽尺寸和小圓角。為避免在接觸測(cè)量過(guò)程中刮傷光學(xué)表面,一些精密光學(xué)元件也需要進(jìn)行非接觸式的輪廓形貌測(cè)量。這些測(cè)量難題通常很難用傳統(tǒng)傳感器來(lái)解決,但可以使用光譜共焦傳感器來(lái)構(gòu)建測(cè)量系統(tǒng)。通過(guò)二維納米測(cè)量定位裝置,光譜共焦傳感器可以作為測(cè)頭,以實(shí)現(xiàn)超精密零件的二維尺寸測(cè)量。使用光譜共焦位移傳感器,可以解決渦輪盤輪廓度在線檢測(cè)系統(tǒng)中滾針渦輪盤輪廓度檢測(cè)的問(wèn)題。在進(jìn)行幾何量的整體測(cè)量過(guò)程中,還需要采用多種不同的工具和技術(shù)對(duì)其結(jié)構(gòu)體系進(jìn)行優(yōu)化,以確保幾何尺寸的測(cè)量更加準(zhǔn)確 。線陣光譜共焦精度