臺(tái)州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-07-12

功能說明:1、導(dǎo)入式系統(tǒng)分析可以很容易地集成到自動(dòng)檢測(cè)線。2、整套系統(tǒng)包括TestJet技術(shù)測(cè)試過程。3、測(cè)試一個(gè)程序集或面板的多個(gè)程序集。4、為分析系統(tǒng)導(dǎo)入整個(gè)機(jī)組測(cè)試(被測(cè)單元)和各個(gè)組件的無電源應(yīng)用。5、使用如DC或先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)結(jié)合復(fù)合體阻抗測(cè)試與多點(diǎn)保護(hù)等功能來檢測(cè)出大多數(shù)的故障,如短路,開路和錯(cuò)誤的或不正確安裝的組件。6、通過在安全無電源模式下找到大部分被測(cè)單元故障,7、得出具體的故障診斷信息,使故障被測(cè)單元可以快速進(jìn)行維修。功能測(cè)試系統(tǒng)在產(chǎn)品制造過程中起著重要作用。臺(tái)州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制

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ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后,可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試,就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平,各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件(00-53/1)所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA,測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過實(shí)驗(yàn),基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離,同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。浙江電子測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試步驟通用自動(dòng)功能測(cè)試系統(tǒng)適用于多種設(shè)備的功能性驗(yàn)證。

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測(cè)試對(duì)象的功能測(cè)試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測(cè)試需求。這種測(cè)試的目標(biāo)是核實(shí)數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確,以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實(shí)施是否恰當(dāng)。測(cè)試目標(biāo) 確保測(cè)試的業(yè)務(wù)功能正常,其中包導(dǎo)航性質(zhì)菜單,數(shù)據(jù)輸入,處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測(cè)試,根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案,測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試,用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。

值得一提的是,近十余年來,外商尤其是臺(tái)商將設(shè)備較關(guān)鍵較昂貴的測(cè)試主機(jī)(從數(shù)萬到數(shù)十萬元)通過較低價(jià)(數(shù)千元)報(bào)關(guān)進(jìn)入中國大陸內(nèi)地,然后在國內(nèi)加上機(jī)械大外殼,即以翻了數(shù)倍到數(shù)十倍的價(jià)格在市場(chǎng)上銷售,這樣的作法偷逃了數(shù)以億計(jì)的關(guān)稅。而國內(nèi)設(shè)備廠商通過正常報(bào)關(guān)進(jìn)口零配件生產(chǎn)的設(shè)備,其成本甚至?xí)欢冗h(yuǎn)高于外資廠。所以,境外品牌的這種違法走入使得其測(cè)試設(shè)備在成本上并不處于多大劣勢(shì),甚至有時(shí)還處于優(yōu)勢(shì)。這對(duì)誠實(shí)的國內(nèi)測(cè)試設(shè)備廠商來說無疑是極不公平的。令人欣慰的是,這里,國人崇尚洋貨好面子歧視國貨的心態(tài)正有所扭轉(zhuǎn),外資企業(yè)也已改變只購國外設(shè)備的作法,而愿意更多的購買性價(jià)比更高的國內(nèi)設(shè)備。人工智能在功能測(cè)試中的應(yīng)用:利用人工智能技術(shù),實(shí)現(xiàn)測(cè)試過程的自動(dòng)化和智能化。

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零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見的問題就是長期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中,利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正,或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能,用軟件的方法去除噪聲??刂茰y(cè)量過程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠快速識(shí)別產(chǎn)品的功能性缺陷。浙江可靠性試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)加工

個(gè)性化定制:針對(duì)不同用戶需求,提供個(gè)性化的功能測(cè)試解決方案。臺(tái)州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制

數(shù)據(jù)采集電路讀取被測(cè)芯片輸出響應(yīng),采用雙電壓比較器LM393進(jìn)行輸出信號(hào)控制。它的功耗低,比較精度高,并且可與TTL邏輯相兼容。LM393輸出與74LS373數(shù)據(jù)鎖存器相聯(lián),由單片機(jī)控制讀入比較數(shù)據(jù)。電壓驅(qū)動(dòng)D/A電路完成VI測(cè)試過程中階梯電壓的輸出。采用8位并行D/A轉(zhuǎn)換器MC1408。芯片電源電壓為+5V,-12V兩種。參考電壓由恒流穩(wěn)壓源TL431提供。輸出選擇雙極性輸出,由兩級(jí)放大電LM348完成。電流變換采集A/D電路實(shí)施測(cè)試點(diǎn)電流數(shù)據(jù)的采集。臺(tái)州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)定制