無(wú)錫芯軟智控科技有限公司榮獲無(wú)錫市專(zhuān)精特新中小企業(yè)榮譽(yù)
又一家上市公司“精工科技”選擇芯軟云“
智能排產(chǎn)功能在MES管理系統(tǒng)中有哪些應(yīng)用
心芯相連·共京能年|2024年芯軟智控企業(yè)年會(huì)網(wǎng)滿(mǎn)舉行
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新誠(chéng)物業(yè)&芯軟智控:一封表?yè)P(yáng)信,一面錦旗,是對(duì)芯軟智控的滿(mǎn)分
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了解MES生產(chǎn)管理系統(tǒng)的作用及優(yōu)勢(shì)?
治具,常規(guī)的治具設(shè)計(jì),大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí),如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動(dòng),從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移,使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。治具定位原理,根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位,對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板,可采用外輪廓定位方式。長(zhǎng)邊用定位板,限制2個(gè)自由度;短邊用定位針,限制1個(gè)自由度。在另一短邊,還可以增加1只定位針,形成所謂的約束性過(guò)定位。這種方式中,兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在,定位精度會(huì)略有降低,但操作方便、制造簡(jiǎn)單。2、以“邊/孔”定位,對(duì)于面積尺寸較大的電路板,可以采用“邊/孔”定位,這也屬于約束性過(guò)定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度,定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中,通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。功能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)有什么用
使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測(cè)試腳本,以保證目標(biāo)用戶(hù)的體驗(yàn)將足夠好,就像應(yīng)用程序是專(zhuān)門(mén)為該市場(chǎng)開(kāi)發(fā)的一樣。功能測(cè)試是為了確保程序以期望的方式運(yùn)行而按功能要求對(duì)軟件進(jìn)行的測(cè)試,通過(guò)對(duì)一個(gè)系統(tǒng)的所有的特性和功能都進(jìn)行測(cè)試確保符合需求和規(guī)范。計(jì)算機(jī)多媒體網(wǎng)絡(luò)技術(shù)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的認(rèn)知功能系統(tǒng)測(cè)試,實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)充分考慮計(jì)算機(jī)多媒體技術(shù)的特點(diǎn),為使其具有良好的網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行特性。較后通過(guò)功能系統(tǒng)測(cè)試,驗(yàn)證了整個(gè)系統(tǒng)的正確性。這種設(shè)計(jì)將傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)多媒體化、網(wǎng)絡(luò)化,可以方便地應(yīng)用于其他功能系統(tǒng)測(cè)試,具有較高的推廣價(jià)值。嘉興離線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商功能測(cè)試系統(tǒng)為電子設(shè)備的質(zhì)量保駕護(hù)航,確保產(chǎn)品在交付用戶(hù)前達(dá)到較佳性能。
Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來(lái)越強(qiáng),封裝越來(lái)越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測(cè)試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難,開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此,聯(lián)合測(cè)試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP)的四(五〕個(gè)管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。
PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)ETE-A100,是針對(duì)滯后的手工測(cè)試以及為了滿(mǎn)足PCBA測(cè)試在操作簡(jiǎn)便性上的需求而誕生的 。由于測(cè)試系統(tǒng)的強(qiáng)大,可對(duì)各種PCBA進(jìn)行測(cè)試,成為通用化測(cè)試系統(tǒng)。檢測(cè)原理人性化:通過(guò)對(duì)樣板的參數(shù)采集,設(shè)定誤差范圍,與被測(cè)板進(jìn)行比較并判斷是否合格。測(cè)試操作簡(jiǎn)易化:只需手動(dòng)將針床壓合,系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)化處理,并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果,免去人為判斷因素,其速度是手動(dòng)測(cè)試無(wú)法比擬的。系統(tǒng)由采集、控制板卡及測(cè)試軟件組成,外接可編程AC/DC電源和直流負(fù)載,高采樣率產(chǎn)品可選配外接示波器。個(gè)性化定制:針對(duì)不同用戶(hù)需求,提供個(gè)性化的功能測(cè)試解決方案。
FrameScan電容藕合測(cè)試 FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭,在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào),電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示:1 夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2 測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板(ATB)依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3 電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4 ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的,就會(huì)測(cè)到信號(hào);如果該管腳脫開(kāi),則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類(lèi)式的技術(shù)稱(chēng)Open Xpress。原理類(lèi)似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測(cè)試成本稍高。電機(jī)測(cè)試:針對(duì)電機(jī)性能進(jìn)行全方面檢測(cè),確保電機(jī)高效、穩(wěn)定運(yùn)行。湖州電池測(cè)試系統(tǒng)定制方案
通用功能測(cè)試系統(tǒng)可適用于多種不同產(chǎn)品的功能驗(yàn)證。在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)有什么用
電路板測(cè)試按測(cè)試對(duì)象分為:專(zhuān)門(mén)使用電路板測(cè)試系統(tǒng):是針對(duì)具體PCB的測(cè)試任務(wù)或具體測(cè)試對(duì)象而研制的測(cè)試系統(tǒng)。常按測(cè)試對(duì)象命名,如BTS控制板測(cè)試,遙控器電路板測(cè)試,電能表電路板測(cè)試等。通用電路板測(cè)試:是針對(duì)一定領(lǐng)域和被測(cè)PCB而研制的電路板測(cè)試系統(tǒng)。如Teradyne的C3065系列電路板測(cè)試機(jī)可以完成空間實(shí)驗(yàn)室的納安級(jí)電路板的測(cè)試,以及HBM公司的SmartA2000電路板測(cè)試系統(tǒng)等都屬于通用電路板測(cè)試范疇。電路板測(cè)試系統(tǒng)(PTS)由三大部分組成:測(cè)試機(jī)臺(tái),測(cè)試軟件,測(cè)試程序。在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)有什么用