國外從20世紀(jì)初就開始研電路板測試系統(tǒng),起初主要應(yīng)用于官方領(lǐng)域。據(jù)統(tǒng)計采用電路板測試后,可以使裝備的測試效率提高10倍以上,在其全壽命周期內(nèi)節(jié)省費(fèi)用20%以上。鑒于電路板測試在生產(chǎn)維護(hù)中的突出功能,世界各國都投入研制各自的電路板測試技術(shù),促進(jìn)了這一行業(yè)的飛速發(fā)展。正在興起的面向?qū)ο蠹夹g(shù),也得到廣闊應(yīng)用,這直接促生了一種新的語言ATLAS,已經(jīng)在美國的CASS、法國的的ATEC、以色列的RADA得到工程應(yīng)用。系統(tǒng)功能,在線測試(ICT):PCB開路、短路、漏件、錯件、變值、反向、虛焊、空焊(包括IC空焊)等。功能測試(FCT):電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測定、圖形識別、聲音識別、溫度測量以及控制、壓力測量控制、精密運(yùn)動控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。系統(tǒng)應(yīng)用:空調(diào)主板、電視機(jī)板、洗衣機(jī)板、微波爐板、遙控器板、汽車電子電路板、其他消費(fèi)類電子產(chǎn)品、各種PCB板檢測。驗收功能測試系統(tǒng)用于驗證產(chǎn)品符合規(guī)格要求。湖州自動測試系統(tǒng)服務(wù)商
系統(tǒng)介紹,各類電子產(chǎn)品的實裝電路板(PCBA)在批量生產(chǎn)過程中,設(shè)備狀態(tài)和人為操作因素都可能引入缺陷,因此要求在生產(chǎn)中加入各種測試設(shè)備和測試工具,以保證所有出廠的實裝電路板符合設(shè)計的規(guī)格和參數(shù)。因此,對PCBA要求進(jìn)行ICT、AOI、FCT等各種測試和檢測。組成,功能測試系統(tǒng)FCT 是指采用測控計算機(jī)(TCC)實現(xiàn)自動化測試的系統(tǒng),通常建立在標(biāo)準(zhǔn)的測控總線或儀器總線如GPIB、PXI 的基礎(chǔ)上,從結(jié)構(gòu)組成來看,F(xiàn)CT自動測試系統(tǒng)一般由測控計算機(jī)、測試軟件、測試電路、測試針床、機(jī)械傳動等部分組成。常州功能測試系統(tǒng)方法測試標(biāo)準(zhǔn)制定:根據(jù)國際、國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),制定合理的功能測試標(biāo)準(zhǔn),確保產(chǎn)品質(zhì)量。
功能系統(tǒng)測試,元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量,功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù),并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計規(guī)范的要求,功能系統(tǒng)測試是一類針對整件的綜合性測試,在以產(chǎn)品自行設(shè)計、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn):⒈ 基本上不用人管著,如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設(shè)計完測試?yán)?,下來的工作就是好多了,?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn):⒈ 結(jié)果取決于測試?yán)脑O(shè)計,測試?yán)脑O(shè)計部分來勢來源于經(jīng)驗,OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念,一些成功的例子基本上都是針對PDU來做的,還做不到針對被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說,尋找和確定造成程序crash的測試?yán)莻€麻煩事情,必須把周圍可能的測試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測試來說,就更麻煩了,尤其不是一個單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。
在上電路中,因R1、R2的連接分流,使Ix笽ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時,只要使G與F點(diǎn)同電位,R2中無電流流過,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地,因F點(diǎn)虛地,兩點(diǎn)電位相等,則可實現(xiàn)隔離。實際實用時,通過一個隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點(diǎn),消除外圍電路對測試的影響。IC的測試 對數(shù)字IC,采用Vector(向量)測試。向量測試類似于真值表測量,激勵輸入向量,測量輸出向量,通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。如:與非門的測試對模擬IC的測試,可根據(jù)IC實際功能激勵電壓、電流,測量對應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測試。環(huán)保型測試:功能測試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時,降低能源消耗和環(huán)境污染。
電路類型主要包括:差分測量電流,在差分測量系統(tǒng)中,信號輸入端的兩極分別與兩個不同的模擬輸入(簡稱模入)端相連接,并通過多路開關(guān)(MUX)分別連接到儀用放大(簡稱儀放)的正負(fù)極上。一個8通道的差分測量系統(tǒng)如圖1所示,其中儀用放大器通過多路開關(guān)進(jìn)行通道轉(zhuǎn)換。標(biāo)有AIGND(模擬輸入地)的引腳為測量系統(tǒng)的地。參考地單端測量電流,在參考地單端RSE(Referenced Single Ended)測量系統(tǒng)中,被測量信號一端接模擬輸入通道,另一端接系統(tǒng)地(AIGND)。無參考地單端測量電路,無參考地單端測量系統(tǒng)(NRSE)中一端接模擬輸入通道,另一端接公用參考端,但這個參考端電壓相對于測量系統(tǒng)的地來說是不斷變化的??煽啃栽囼灒耗M各種惡劣環(huán)境,驗證電子設(shè)備在極端條件下的可靠性。湖州自動測試系統(tǒng)服務(wù)商
PCBA功能測試系統(tǒng)用于驗證PCBA板的功能。湖州自動測試系統(tǒng)服務(wù)商
ICT測試?yán)碚撟鲆恍┖唵谓榻B1基本測試方法:模擬器件測試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有: ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵信號源、儀器計算電阻。測量出V0,則Rx可求出。 若待測Rx為電容、電感,則Vs交流信號源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。 1.2 隔離(Guarding)上面的測試方法是針對單獨(dú)的器件,而實際電路上器件相互連接、相互影響,使Ix笽ref,測試時必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測試的基本技術(shù)。湖州自動測試系統(tǒng)服務(wù)商