江蘇pcb離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

廣州維柯信息技術(shù)有限公司【SIR測試：確保汽車電子安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)】配置靈活:模塊化設(shè)計，可選擇16模塊*N（1≤N≤16);16通道/模塊；l測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓，可同時完成多工況測試；在汽車電子領(lǐng)域，SIR測試尤為重要，直接關(guān)系到行車安全。汽車電子系統(tǒng)必須在高溫、潮濕、振動等惡劣環(huán)境下保持高度的電氣穩(wěn)定性。通過定期的SIR測試，工程師可以驗證電路板涂層和封裝材料的耐久性，預(yù)防電路間的漏電和短路，保障車輛電子系統(tǒng)的正常運行，減少因電氣故障引發(fā)的安全隱患，為駕乘者提供更加安心的出行體驗。通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。江蘇pcb離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

一般而言，SIR測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者，SIR測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行，例如85°C/85%RH和40°C/90%，并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。表面絕緣電阻測試（SIR測試）根據(jù)IPC的定義，表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對觸點、導體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域，SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產(chǎn)品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路（即樹枝狀生長）導致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定SIR測試策略時，選擇用于測試的產(chǎn)品或過程將有助于確定**合適的SIR測試方法以及**適用的測試工具。廣西sir電阻測試歡迎選購絕緣體表面或內(nèi)部有形成電解質(zhì)物質(zhì)的潛在因素。包括絕緣體本身的種類，構(gòu)成，添加物，纖維性能，樹脂性能。

絕緣不良是電氣設(shè)備失效和安全事故的常見原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點，因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)，專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長時間使用或特定環(huán)境下可能會老化，導致表面電阻下降，進而影響整個系統(tǒng)的安全性。通過定期進行SIR測試，可以早期發(fā)現(xiàn)這些問題，及時采取措施，避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測試系統(tǒng)，以其高度的自動化和智能化，能夠在各種條件下快速、準確地完成測試任務(wù)，**提高了檢測效率和準確性。對于制造商而言，這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強，也是對品牌信譽的有力背書。

SIR（表面絕緣電阻）測試在電子制造業(yè)中扮演著至關(guān)重要的角色，是確保產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的基石。它專注于評估印刷電路板（PCB）和其他電子組件表面的絕緣性能，防止因助焊劑殘留、污染物積累或材料老化導致的短路問題。通過模擬長期使用條件下的電氣性能變化，SIR測試幫助制造商識別并解決潛在的電氣故障，保障電子產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運行，從而提高客戶滿意度和市場競爭力。廣州維柯的SIR（表面絕緣電阻）測試測試電壓高達 2000V/5000V 可選,:1x106-1x109Ω≤±2%精度，20ms/所有通道每秒的速度。離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測試電阻值顯現(xiàn)出來。

PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重，究其原因，是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象，什么是導電陽極絲測試CAF導電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學生成，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新。監(jiān)測模塊：狀態(tài)、數(shù)據(jù)曲線、測試配置、增加測試、預(yù)警。湖南多功能電阻測試報價

.評估PCB存儲后的可焊性性能，驗證存儲是否對PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影響。江蘇pcb離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家

當一個較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時，更高的偏置電壓由于會線性地影響失效時間，應(yīng)該被避免采用。這是因為過高的偏置電壓會抵消掉相對濕度的影響，而相對濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機制部分。LK_ling:因為陽極導電絲是很細的，很容易被破壞掉。當50%的部分已經(jīng)失效了，測試即可停止。當CAF發(fā)生時，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時，顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后（一共596個小時），像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后，可以進行額外的T/H/B條件。然而，**少要進行500小時加載偏置電壓的測試，來作為CAF測試的結(jié)果之一。江蘇pcb離子遷移絕緣電阻測試銷售廠家