深圳半導(dǎo)體溫度傳感器測試

    測溫單元形成于空腔上方的氧化硅薄膜后得到的溫度傳感器性能較好。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測溫單元包括：金屬層，所述金屬層為金屬鉑層，所述金屬鉑層呈連續(xù)弓字形結(jié)構(gòu)；和第二金屬層，位于所述金屬鉑層外側(cè)兩端，用于引出所述溫度傳感器的輸出端子。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述測溫單元包括：多晶硅層，包括并排且間隔設(shè)置的n型多晶硅條和p型多晶硅條；和第三金屬層，所述第三金屬層包括位于相鄰多晶硅條之間的金屬結(jié)構(gòu)，所述n型多晶硅條和p型多晶硅條通過所述金屬結(jié)構(gòu)串聯(lián)，所述第三金屬層還包括位于所述多晶硅層外側(cè)兩端的第二金屬結(jié)構(gòu)，用于引出所述溫度傳感器的輸出端子。附圖說明圖為一實(shí)施例中溫度傳感器制備方法的方法流程圖；圖a～c為一實(shí)施例中溫度傳感器制備方法各步驟對(duì)應(yīng)生成的結(jié)構(gòu)剖視圖。圖為一實(shí)施例中溫度傳感器側(cè)視圖；圖為與圖對(duì)應(yīng)的溫度傳感器俯視圖；圖為另一實(shí)施例中溫度傳感器側(cè)視圖；圖為與圖對(duì)應(yīng)的溫度傳感器俯視圖。具體實(shí)施方式為了便于理解，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)進(jìn)行更的描述。附圖中給出了的實(shí)施例。但是，可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地。提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)的公開內(nèi)容更加透徹。除非另有定義。溫度傳感器廠家就找美信美。深圳半導(dǎo)體溫度傳感器測試

    需要在對(duì)應(yīng)溫度傳感器引出端子處開設(shè)通孔，通過通孔可引出輸出端子。在本實(shí)施例中，是在外側(cè)多晶硅端部的金屬鋁上方的鈍化層開設(shè)通孔。鈍化層可為氧化硅層或氮化硅層，也可為疊設(shè)的氧化硅層和氮化硅層。上述溫度傳感器制備方法，可以得到氧化硅薄膜，且氧化硅薄膜與硅通過空腔隔離，空腔下方的硅不會(huì)影響上方氧化硅薄膜的隔離效果，因此無需通過深槽刻蝕工藝將多余的硅刻蝕掉。簡化了制備過程。節(jié)約制備時(shí)間，節(jié)省了制備成本。由于氧化硅薄膜導(dǎo)熱率低，將測溫單元制備在氧化硅薄膜上，具有較好的測溫效果。深圳市美信美科技有限公司于2020年04月17日成立。公司經(jīng)營范圍包括：一般經(jīng)營項(xiàng)目是：電子產(chǎn)品及其配件的技術(shù)開發(fā)與銷售；國內(nèi)貿(mào)易等。本公司主營推廣銷售AD（亞德諾）,LINEAR（凌特）以及TI、MAXIM、NXP等國際品牌集成電路。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于：汽車、通信、消費(fèi)電子、工業(yè)控制、醫(yī)療器械、儀器儀表、安防監(jiān)控等領(lǐng)域。本公司一直秉承優(yōu)勢服務(wù)，誠信合作的原則，以現(xiàn)代化管理以及優(yōu)勢的渠道價(jià)格、良好的信譽(yù)與廣大客戶建立了長期友好的合作關(guān)系，為廣大廠商和市場客戶提供優(yōu)勢的產(chǎn)品服務(wù)。使溫度傳感器性能更加穩(wěn)定。還涉及一種溫度傳感器，包括：基底。廣州大規(guī)模溫度傳感器參數(shù)溫度傳感器廠家找美信美，服務(wù)可靠。

    通過外部供給氧氣或者水蒸氣使之與硅發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，可以在空腔上方得到一層熱生長的氧化層。由于當(dāng)氧化層達(dá)到一定厚度時(shí)，氧化反應(yīng)幾乎停止，因此當(dāng)難以通過一次氧化工藝將空腔上方的硅全部氧化成氧化硅時(shí)，需要通過多次氧化步驟實(shí)現(xiàn)將空腔上方的硅全部氧化，具體為，進(jìn)行次熱氧化生成一層氧化硅薄膜后，空腔上方為殘留的未氧化的硅以及在硅上生成的氧化硅薄膜，通過刻蝕工藝去除上方的氧化硅薄膜，保留空腔上方的硅，此時(shí)硅的厚度減小，繼續(xù)通過上述熱氧化、刻蝕和熱氧化的循環(huán)工藝逐漸減小空腔上方硅的厚度，直至后一次熱氧化后空腔上方的硅全部生成氧化硅薄膜，由此實(shí)現(xiàn)上層氧化硅薄膜與下層硅通過空腔隔離。此時(shí)，溫度傳感器的基作完成。在一實(shí)施例中，在得到上述氧化硅薄膜后還可在氧化硅薄膜上形成氮化硅薄膜或者聚酰亞胺薄膜，由于氧化硅內(nèi)部存在較大的應(yīng)力，氧化硅薄膜容易斷裂，在氧化硅薄膜上面再淀積一層氮化硅薄膜或者聚酰亞胺薄膜，可以平衡氧化硅內(nèi)部應(yīng)力。使氧化硅薄膜結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定。步驟s：在所述氧化硅薄膜上形成測溫單元，所述測溫單元用于感測環(huán)境溫度。在溫度傳感器基作完成后，需要做基底上形成測溫單元，測溫單元是溫度傳感器的工作單元。

    會(huì)在半導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生溫差電動(dòng)勢，不同類型的半導(dǎo)體其溫差電動(dòng)勢不同，將兩種半導(dǎo)體兩端連接形成閉合回路時(shí)，在回路中有電流產(chǎn)生，半導(dǎo)體兩端的溫差不同時(shí)，所產(chǎn)生的電動(dòng)勢不同。在本方案中，采用n型半導(dǎo)體和p型半導(dǎo)體構(gòu)成塞貝克結(jié)構(gòu)且多個(gè)塞貝克結(jié)構(gòu)串聯(lián)，可以增強(qiáng)溫度傳感器的靈敏度。在一實(shí)施例中，可以將溫度傳感器兩輸出端子作為冷端且保持冷端溫度恒定，將串聯(lián)的多晶硅層作為熱端感測實(shí)際環(huán)境溫度，當(dāng)環(huán)境溫度發(fā)生變化時(shí)，冷端和熱端的溫差發(fā)生變化，因此冷端的電勢會(huì)發(fā)生變化，與顯示儀表連接后，顯示儀表會(huì)顯示熱電偶受當(dāng)前環(huán)境溫度影響得到的電勢所對(duì)應(yīng)的熱端溫度，即當(dāng)前環(huán)境溫度。通常，形成測溫單元還包括鈍化步驟，即，步驟s136：在金屬層上形成鈍化層，并在鈍化層上對(duì)應(yīng)溫度傳感器引出輸出端子處設(shè)有通孔。因上述熱電偶傳感器中上層有金屬結(jié)構(gòu)如金屬鋁層，對(duì)于直接暴露在空氣中時(shí)容易氧化的金屬層，其上還形成一層鈍化層，可對(duì)金屬結(jié)構(gòu)進(jìn)行保護(hù)。同時(shí)，需要在對(duì)應(yīng)溫度傳感器引出端子處開設(shè)通孔，通過通孔可引出輸出端子。在本實(shí)施例中，是在外側(cè)多晶硅端部的金屬鋁上方的鈍化層開設(shè)通孔。鈍化層可為氧化硅層或氮化硅層，也可為疊設(shè)的氧化硅層和氮化硅層。溫度傳感器的工作過程都是分別和一個(gè)電阻串聯(lián)后，對(duì)+5V電壓進(jìn)行分壓，分壓后的電壓送入CPU內(nèi)部。

    再在高溫環(huán)境下進(jìn)行退火，由于高溫環(huán)境下硅原子會(huì)發(fā)生遷移，硅原子發(fā)生遷移后硅片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)會(huì)發(fā)生改變，之前的若干溝槽會(huì)相互連通以在硅片內(nèi)部形成一空腔結(jié)構(gòu)。氧化空腔上部的硅片部分可以得到所需的氧化硅薄膜，然后在氧化硅薄膜上淀積測溫材料形成測溫單元，測溫單元用于感測環(huán)境溫度，從而得到溫度傳感器。通過本方案得到的溫度傳感器，其基底包含一空腔以及位于空腔上部的氧化硅薄膜和位于空腔下部的硅，即氧化硅薄膜和硅通過空腔隔開，基底下部的硅不會(huì)影響上部氧化硅的隔熱效果，因此無需通過刻蝕工藝將基底下部的硅刻蝕掉，從而縮短產(chǎn)品制備的時(shí)間，且節(jié)約了成本。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述溝槽的寬度范圍為μm～1μm，所述溝槽的深度范圍為1μm～10μm，所述相鄰溝槽之間的間隔范圍為μm～1μm。在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述熱退火具體為在氫氣環(huán)境中熱退火，所述熱退火的溫度為1000℃。在其中一個(gè)實(shí)施例中，在得到所述氧化硅薄膜后還包括在所述氧化硅薄膜上形成氮化硅薄膜或者聚酰亞胺薄膜。在其中一個(gè)實(shí)施例中，在所述氧化硅薄膜上形成測溫單元具體為：在所述氧化硅薄膜上淀積一層金屬層，所述金屬層為金屬鉑層，所述金屬鉑層呈連續(xù)弓字形結(jié)構(gòu)。熱電偶是電壓設(shè)備，可指示電壓變化時(shí)的溫度測量。無錫半導(dǎo)體溫度傳感器哪家公司大

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    本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N溫度傳感器的制備方法，如圖所示，其步驟包括：步驟s：在硅片上形成若干溝槽。結(jié)合圖a所示，獲取一硅晶片，從硅片上方垂直向下開設(shè)若干并列的溝槽形成溝槽陣列。在一實(shí)施例中，先在硅片上形成具有陣列圖案的光刻膠層，再以光刻膠作為掩膜版對(duì)硅片進(jìn)行刻蝕形成若干溝槽。在本實(shí)施例中，刻蝕可為常規(guī)的干法刻蝕，具體為深度離子刻蝕。干法刻蝕具有更高的刻蝕精度和更好的各向異性性能，其精度可達(dá)亞微米級(jí)別，通過干法刻蝕，可以得到形態(tài)較好的溝槽，尤其是溝槽尺寸較小時(shí)利用干法刻蝕效果更佳?？赏ㄟ^調(diào)節(jié)掩膜板圖案和控制刻蝕參數(shù)得到不同形態(tài)的溝槽，其中，溝槽的寬度可為～μm，溝槽的深度可為～μm，相鄰溝槽之間的間隔可為～μm。溝槽的俯視形貌可以為圓形、方形或其他形狀。溝槽的寬度為溝槽側(cè)壁的大距離。如果溝槽為圓形，則溝槽的寬度為其直徑，如果溝槽為正方形，則溝槽的寬度為其對(duì)角的距離。深圳半導(dǎo)體溫度傳感器測試