電機(jī)測試系統(tǒng)設(shè)計

可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況以“孔/孔”定位，對于狹長形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時應(yīng)采用雙孔定位。注意對于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計時定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見，電路板的定位對于治具設(shè)計極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測試設(shè)備的結(jié)構(gòu), 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個平面和兩個（或多個）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡單、制造加工容易,、滿足精度要求。單元功能測試系統(tǒng)用于測試單一功能的設(shè)備。電機(jī)測試系統(tǒng)設(shè)計

零點(diǎn)漂移自校正:測量中較常見的問題就是長期工作時的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計算機(jī)對由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動補(bǔ)償和修正，或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問題。提高信噪比:利用計算機(jī)強(qiáng)大的計算和數(shù)據(jù)處理功能，用軟件的方法去除噪聲?？刂茰y量過程及對測量數(shù)據(jù)的自動和實時的處理和分析:通過在智能儀器上的計算機(jī)來實現(xiàn)。嘉興電源測試系統(tǒng)定制小型化趨勢：隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展，功能測試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢，實現(xiàn)便攜式、高效測試。

測試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內(nèi)測試（INTEST）、運(yùn)行測試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。

測試對象的功能測試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測試需求。這種測試的目標(biāo)是核實數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確，以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實施是否恰當(dāng)。測試目標(biāo) 確保測試的業(yè)務(wù)功能正常，其中包導(dǎo)航性質(zhì)菜單，數(shù)據(jù)輸入，處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測試，根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案，測試一個產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計需求。本地化軟件的功能測試，用于驗證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對目標(biāo)用戶能正確工作。各種功能測試系統(tǒng)：涵蓋各類電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專業(yè)測試解決方案。

PCBA通用型自動化測試系統(tǒng)ETE-A100，是針對滯后的手工測試以及為了滿足PCBA測試在操作簡便性上的需求而誕生的 。由于測試系統(tǒng)的強(qiáng)大，可對各種PCBA進(jìn)行測試，成為通用化測試系統(tǒng)。檢測原理人性化：通過對樣板的參數(shù)采集，設(shè)定誤差范圍，與被測板進(jìn)行比較并判斷是否合格。測試操作簡易化：只需手動將針床壓合，系統(tǒng)就會自動化處理，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，免去人為判斷因素，其速度是手動測試無法比擬的。系統(tǒng)由采集、控制板卡及測試軟件組成，外接可編程AC/DC電源和直流負(fù)載，高采樣率產(chǎn)品可選配外接示波器。驗收功能測試系統(tǒng)用于驗證產(chǎn)品符合規(guī)格要求。上海單元測試系統(tǒng)服務(wù)商

功能測試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗收。電機(jī)測試系統(tǒng)設(shè)計

操作系統(tǒng)，可供電路板測試選擇的操作系統(tǒng)很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統(tǒng)時受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)。總線技術(shù)，電路板測試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的，儀器控制總線的每一次更新都促進(jìn)電路板測試技術(shù)的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發(fā)展過程中依次出現(xiàn)的總線技術(shù)，表示著電路板測試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線，多用于常見的臺式儀器上，采用該總線集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低（較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s）且同一系統(tǒng)總線上較多可連15臺儀器。電機(jī)測試系統(tǒng)設(shè)計