湖州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

嵌入式MCU的特點(diǎn)是執(zhí)行速度快、操作簡(jiǎn)單，但這種實(shí)現(xiàn)方式的專門使用性較強(qiáng)不容易擴(kuò)展?；赑LC的控制方式，其重點(diǎn)在于控制部分，測(cè)量功能相對(duì)較弱，比較適合以控制為主的場(chǎng)合?；赑C的控制方式使用較為普遍，它具有PC機(jī)價(jià)格低廉、數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大、測(cè)試程序開發(fā)工具豐富等優(yōu)點(diǎn)。由于UUT的輸入輸出管腳數(shù)量較多，信號(hào)種類復(fù)雜，為滿足自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的通用性，在ITA設(shè)計(jì)時(shí)， 必須采用多通道開關(guān)，(1)是對(duì)PCB的信號(hào)通道進(jìn)行自動(dòng)切換；(2)是對(duì)PCB的信號(hào)進(jìn)行調(diào)理，使調(diào)理后的信號(hào)能夠滿足測(cè)試儀器的量程范圍；(3)是對(duì)PCB和測(cè)試儀器的保護(hù)，避免操作失誤或外界干擾而對(duì)PCBA和測(cè)試設(shè)備造成損壞。虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)在功能測(cè)試中的應(yīng)用：通過虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)，模擬實(shí)際使用場(chǎng)景，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。湖州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

測(cè)試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來完成測(cè)試任務(wù)。江蘇變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)PCB功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試PCB板的功能和連通性。

裝備制造業(yè)是提供技術(shù)裝備的基礎(chǔ)性產(chǎn)業(yè)，涉及一個(gè)國家一個(gè)地區(qū)的主要競(jìng)爭(zhēng)力，是增強(qiáng)國民自信的源泉。隨著中國軟實(shí)力的不斷增強(qiáng)，相信中國本土自動(dòng)測(cè)試設(shè)備品牌必將在轉(zhuǎn)型升級(jí)、不斷創(chuàng)新中迎來更大的發(fā)展。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的研制工作始于 20世紀(jì)50年代?，F(xiàn)代測(cè)試內(nèi)容日益復(fù)雜, 測(cè)試工作量激增,而且要求完成測(cè)試的時(shí)間越來越短，人工測(cè)試很難滿足這些要求,自動(dòng)測(cè)試技術(shù)因而得到迅速發(fā)展。較完善的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是60年代采用電子計(jì)算機(jī)以后才問世的。

功能測(cè)試（FCT）一般專指PCBA上電后的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。自動(dòng)化FCT測(cè)試設(shè)備大都基于開放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序；一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置；而且要具有豐富的基本測(cè)試項(xiàng)目，較大可能地為用戶提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠快速識(shí)別產(chǎn)品的功能性缺陷。

系統(tǒng)特點(diǎn)，全自動(dòng)電路板載入，HD-1000提供的全自動(dòng)在線流水線方式，能滿足不同制造商電路板生產(chǎn)線測(cè)試需求，可將吞吐量提高30%以上；進(jìn)一步的，HD-1000可以輕松的集成在SMT流水線中。外部軟件集成，經(jīng)過與電子行業(yè)內(nèi)不同客戶的長(zhǎng)期合作以及了解， HD-1000為制造商擴(kuò)展了外部應(yīng)用軟件集成功能，例如進(jìn)行LED測(cè)試的制造商可以使用HD-1000進(jìn)行電流測(cè)量，同時(shí)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，其他的例如音頻和視頻測(cè)試，也可以集成到一站中。良品不良品分揀，通過對(duì)HD-1000進(jìn)行輕松編程，可以根據(jù)電路板的OK/NG測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)使NG的不良品組件流入收納箱或暫存軌道，使OK的良品組件流入正常的下一道工序。小型化趨勢(shì)：隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展，功能測(cè)試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢(shì)，實(shí)現(xiàn)便攜式、高效測(cè)試。天津在線測(cè)試系統(tǒng)定制

單元測(cè)試：針對(duì)軟件中的較小可測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試，保證軟件質(zhì)量。湖州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無電流流過，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測(cè)試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測(cè)試的影響。IC的測(cè)試 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。湖州電池測(cè)試系統(tǒng)定制