天津功能測(cè)試系統(tǒng)哪家好

接口的標(biāo)準(zhǔn)化和可撥動(dòng)地址開關(guān):各國(guó)生產(chǎn)的智能儀器大多帶有標(biāo)準(zhǔn)的接口系統(tǒng)，采用IEEE48標(biāo)準(zhǔn)。智能儀器的后面板上配置了一組可撥動(dòng)的地址開關(guān)。使用者可以方便的將儀器聽/講地址設(shè)置為任何希望的數(shù)字。記憶功能:由于配置了存儲(chǔ)器，大多數(shù)智能儀器都縣有一記憶功能。操作者不只可以很方便的通過面板控制或程序?qū)x器的工作狀態(tài)，甚至測(cè)試數(shù)據(jù)存貯在指定的存儲(chǔ)器中，而且在需要時(shí)還可以方便的調(diào)用存儲(chǔ)器的內(nèi)容。多功能化:上述特點(diǎn)較大程度上增加了智能儀器的測(cè)量功能。功能測(cè)試系統(tǒng)可提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。天津功能測(cè)試系統(tǒng)哪家好

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。湖州PCB測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試步驟功能測(cè)試系統(tǒng)在產(chǎn)品制造過程中起著重要作用。

功能系統(tǒng)測(cè)試，元件測(cè)試和裝聯(lián)測(cè)試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測(cè)試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測(cè)試是一類針對(duì)整件的綜合性測(cè)試，在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn)：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測(cè)試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測(cè)試?yán)?，下來的工作就是好多了，?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn)：⒈ 結(jié)果取決于測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)，測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來勢(shì)來源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來做的，還做不到針對(duì)被測(cè)試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測(cè)試來說，尋找和確定造成程序crash的測(cè)試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測(cè)試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測(cè)試來說，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。

ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件（00-53/1）所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。通過實(shí)驗(yàn)，基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離，同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。通用功能測(cè)試：適用于多種電子產(chǎn)品的功能測(cè)試，提高測(cè)試效率，降低成本。

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、減少測(cè)試上人為因素帶來的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，企業(yè)往往需要購(gòu)置一大堆測(cè)試/分析儀器，如萬用表，示波器，邏輯分析儀，頻譜儀等，費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起，較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用，設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集，并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)品在不斷地更新?lián)Q代，測(cè)試流程和測(cè)試內(nèi)容上也在變更，本系統(tǒng)提供簡(jiǎn)單明了的用戶界面，對(duì)于不同類型的電子產(chǎn)品，用戶可自行設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試流程，只需更換測(cè)試治具即可進(jìn)行測(cè)試。PCB測(cè)試：對(duì)印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。通用功能測(cè)試系統(tǒng)原理

各種功能測(cè)試系統(tǒng)可滿足不同行業(yè)的功能驗(yàn)證需求。天津功能測(cè)試系統(tǒng)哪家好

可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況以“孔/孔”定位，對(duì)于狹長(zhǎng)形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時(shí)應(yīng)采用雙孔定位。注意對(duì)于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見，電路板的定位對(duì)于治具設(shè)計(jì)極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu), 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個(gè)平面和兩個(gè)（或多個(gè)）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造加工容易,、滿足精度要求。天津功能測(cè)試系統(tǒng)哪家好