天津電子測(cè)試系統(tǒng)有什么用

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-08-12

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了三個(gè)階段。①采用專(zhuān)門(mén)使用測(cè)試設(shè)備:這種系統(tǒng)比較復(fù)雜,研制工作量大,造價(jià)高,適應(yīng)性差,在改變測(cè)試內(nèi)容時(shí)要重新設(shè)計(jì)接口(包括儀器與儀器之間的接口和儀器與計(jì)算機(jī)之間的接口)。專(zhuān)門(mén)使用測(cè)試設(shè)備只用來(lái)進(jìn)行大量重復(fù)性試驗(yàn)、快速測(cè)試或復(fù)雜測(cè)試,或用于對(duì)測(cè)試可靠性要求極高、有礙測(cè)試人員健康以及測(cè)試人員難以接近的測(cè)試場(chǎng)所。②采用標(biāo)準(zhǔn)化通用接口母線(GPIB)連接有關(guān)設(shè)備,系統(tǒng)中各組成部分均配標(biāo)準(zhǔn)化接口功能,用統(tǒng)一的無(wú)源母線電纜連接起來(lái)。不需要自行設(shè)計(jì)接口,可靈活地更改、增刪測(cè)試內(nèi)容。在這兩個(gè)階段中,計(jì)算機(jī)主要承擔(dān)系統(tǒng)的控制、計(jì)算和數(shù)據(jù)處理任務(wù),基本上是模擬人工測(cè)試的過(guò)程,尚不能充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的功能。③將計(jì)算機(jī)與測(cè)試設(shè)備融為一體,用計(jì)算機(jī)軟件代替?zhèn)鹘y(tǒng)設(shè)備中某些硬件的功能,能用計(jì)算機(jī)產(chǎn)生激勵(lì),完成測(cè)試功能,生成測(cè)試程序。功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程的融合:將功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程緊密結(jié)合,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時(shí)監(jiān)控。天津電子測(cè)試系統(tǒng)有什么用

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測(cè)試儀組成:硬件模塊:測(cè)試儀由便攜式計(jì)算機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。其中單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)在計(jì)算機(jī)控制下完成被測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)的采集。部分功能及說(shuō)明如下:?jiǎn)纹瑱C(jī)電路主要完成數(shù)據(jù)采集、控制、命令處理,與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。在測(cè)試儀設(shè)計(jì)中采用了MCS-51系列8031單片機(jī),選用2764作為擴(kuò)展ROM,6264作為擴(kuò)展RAM。譯碼芯片電路為74LS138。為與計(jì)算機(jī)進(jìn)行串行通信,采用MCl488和MC1489進(jìn)行RS-232C電平與TTL電平的相互轉(zhuǎn)換。單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率選用6MHz晶振,通信波特率選用2400,單片機(jī)采用工作方式3進(jìn)行串行通信。定時(shí)器T1設(shè)置為方式2。設(shè)定SMOD=1,時(shí)間常數(shù)F3H??偩€驅(qū)動(dòng)器對(duì)單片機(jī)總線進(jìn)行擴(kuò)展,提高其驅(qū)動(dòng)能力,選用74LS244、74LS245線驅(qū)動(dòng)器。無(wú)錫集成測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程電機(jī)測(cè)試:針對(duì)電機(jī)性能進(jìn)行全方面檢測(cè),確保電機(jī)高效、穩(wěn)定運(yùn)行。

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測(cè)試對(duì)象的功能測(cè)試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測(cè)試需求。這種測(cè)試的目標(biāo)是核實(shí)數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確,以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實(shí)施是否恰當(dāng)。測(cè)試目標(biāo) 確保測(cè)試的業(yè)務(wù)功能正常,其中包導(dǎo)航性質(zhì)菜單,數(shù)據(jù)輸入,處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測(cè)試,根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案,測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試,用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。

在線測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):1、縮短測(cè)試時(shí)間:一般組裝電路板如約300個(gè)零件ICT的大約是3-4秒鐘。 對(duì)復(fù)雜,而且還包含了上電后的功能測(cè)試,象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等,所以將ATE單獨(dú)為另一個(gè)類(lèi)別了!2、測(cè)試結(jié)果的一致性:ICT的質(zhì)量設(shè)定功能,能夠透過(guò)電腦控制,嚴(yán)格控制質(zhì)量。3、容易檢修出不良的產(chǎn)品:ICT有多種測(cè)試技術(shù),高度的可靠性,檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確。4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低:只要普通操作員,即可操作與維修。5、減省庫(kù)存、備頻、維修庫(kù)存壓力、較大程度上提高生產(chǎn)成品率。6、較大程度上提升品質(zhì)。減少產(chǎn)品的不良率,提高企 業(yè)形象。電池測(cè)試:針對(duì)各類(lèi)電池性能進(jìn)行檢測(cè),確保其可靠性和安全性。

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先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)備有故障診斷程序包,可根據(jù)測(cè)試過(guò)程中得到的情報(bào)自動(dòng)判斷故障,故障發(fā)生時(shí),能自動(dòng)查找故障的位置。在測(cè)試未通過(guò)的情況下,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)從測(cè)試程序自動(dòng)轉(zhuǎn)換到診斷程序。自動(dòng)故障診斷的方法大體上分為兩類(lèi)。①導(dǎo)引探測(cè)法:操作人員根據(jù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)顯示的探測(cè)指令逐點(diǎn)查找故障。②特征分析法:當(dāng)被測(cè)節(jié)點(diǎn)特征不正確時(shí),操作人員在程序指引下校驗(yàn)前面電路的特征。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的可靠性是指它對(duì)被測(cè)對(duì)象誤差和故障的檢測(cè)能力。無(wú)線綜合測(cè)試:針對(duì)無(wú)線通信設(shè)備,實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測(cè)試。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試步驟

可靠性試驗(yàn):模擬各種惡劣環(huán)境,驗(yàn)證電子設(shè)備在極端條件下的可靠性。天津電子測(cè)試系統(tǒng)有什么用

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來(lái)越強(qiáng),封裝越來(lái)越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測(cè)試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難,開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。為此,聯(lián)合測(cè)試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問(wèn)端口(TAP)的四(五〕個(gè)管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。天津電子測(cè)試系統(tǒng)有什么用