智能儀器組成的智能測試系統(tǒng),在這類測試系統(tǒng)中,往往有多個重復(fù)的部件或功能單元。例如,在一個IEEE-488儀器系統(tǒng)中可能包含微機、邏輯分析儀、數(shù)字示波器、智能數(shù)字多用表、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等多臺帶GPIB接口的單獨式智能儀器。它們都有CRT、鍵盤和存儲器等部件。因此,在利用臺式、便攜式甚至機架疊層式智能儀器組成測試系統(tǒng)時,勢必造成資源浪費、成本過高。PC儀器系統(tǒng),將傳統(tǒng)式單獨儀器的測量電路部分與接口部分集中在一起制成儀器卡,而儀器所需的鍵盤、GRT和存儲器等均借助PC機的資源,就構(gòu)成了PC儀器,又稱模塊式儀器。隨著眾多總線系統(tǒng)的電性能不能滿足官方、航天等部門的更高要求,故改善PC儀器系統(tǒng)的性能并便其標準化勢在必行。離線功能測試系統(tǒng)可脫機進行功能驗證。集成測試系統(tǒng)設(shè)備
治具,常規(guī)的治具設(shè)計,大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測試過程中壓板下壓時,如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動,從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進行而導致測試針和測試點接觸不良或者位置偏移,使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導致UUT裂損。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時更容易產(chǎn)生。治具定位原理,根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位,對于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板,可采用外輪廓定位方式。長邊用定位板,限制2個自由度;短邊用定位針,限制1個自由度。在另一短邊,還可以增加1只定位針,形成所謂的約束性過定位。這種方式中,兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在,定位精度會略有降低,但操作方便、制造簡單。2、以“邊/孔”定位,對于面積尺寸較大的電路板,可以采用“邊/孔”定位,這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個自由度,定位柱限制2個自由度。這種形式中,通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。臺州驗收測試系統(tǒng)多少錢電源功能測試系統(tǒng)用于驗證各類電源的輸出性能。
測試對象的功能測試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測試需求。這種測試的目標是核實數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確,以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實施是否恰當。測試目標 確保測試的業(yè)務(wù)功能正常,其中包導航性質(zhì)菜單,數(shù)據(jù)輸入,處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測試,根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案,測試一個產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計需求。本地化軟件的功能測試,用于驗證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對目標用戶能正確工作。
印制電路板所使用到的自動測試技術(shù)發(fā)展迅速,尤其以印制板在線測試系統(tǒng)(ATE)普遍應(yīng)用于印制板光板及各種產(chǎn)品的印制電路板的生產(chǎn)、檢測和維修等為主,如右圖。ATE 的測試方法可分接觸式測試和非接觸式測試兩大類。其中接觸式測試分為在線測試、功能測試、BIST 和邊界掃描測試等;非接觸式測試又可分為非向量測試、自動視覺測試、紅外熱圖象測試、X 射線和激光測試。隨著計算機技術(shù)及VXI 總線技術(shù)的應(yīng)用,各種建立在VXI 測試平臺上的印制電路板的ATE 和功能測試也得到迅速發(fā)展。人工智能在功能測試中的應(yīng)用:利用人工智能技術(shù),實現(xiàn)測試過程的自動化和智能化。
全球主要ICT自動測試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國),Teradyne泰瑞達(美國)、Check Sum(美國)、AEROFLEX(美國)、WINCHY瑩琦、Hioki(日本)、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya(日本)、Tescon(日本), Okano(日本)、系新(中國臺灣)、JET(捷智)、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的測試原理相同或相似。功能測試系統(tǒng)可幫助定位產(chǎn)品功能故障和改進設(shè)計。浙江在線測試系統(tǒng)有什么用
電路板功能測試:針對電路板上的各個功能模塊進行測試,確保電路板性能穩(wěn)定。集成測試系統(tǒng)設(shè)備
電路中采用負載電阻及差分放大電路LM343對測試點進行電壓跟隨,將測試點的電流值轉(zhuǎn)換為A/D變換電路可以處理的電壓量。選用AD7574八位逐次比較式高速A/D變換電路。轉(zhuǎn)換時間為15μS,單+5V電源供電。參考電壓選用VREF=-8V。輸入電壓范圍為0~+|VREF|。程序控制芯片RD端產(chǎn)生一個負脈沖就可啟動A/D轉(zhuǎn)換。軟件模塊:測試儀由便攜式主控計算機通過串行口進行控制,單片機測試平臺的完成激勵控制、數(shù)據(jù)采集等工作,所有數(shù)據(jù)分析處理及命令控制由便攜式主計算機完成。整套測試軟件由主控軟件、數(shù)據(jù)通信軟件、離線測試軟件、在線功能測試軟件、在線狀態(tài)測試軟件、VI特性測試軟件、節(jié)點電壓測試軟件、電子手冊、測試開發(fā)軟件、系統(tǒng)自檢軟件等幾個主要模塊組成。集成測試系統(tǒng)設(shè)備